SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller)
|
|
- Gonca Altun
- 5 yıl önce
- İzleme sayısı:
Transkript
1 SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) Şuayb Yener ELE517 Yarıiletken Eleman ve Düzenlerin Modellenmesi
2 1. Düzey Model Parametreleri
3 V T0 ve KP Parametrelerinin Doğrusal Çalışma Bölgesinde Ölçümü Doğrusal bölge şartlarında ( V < V V ) DS GS TH V IDS = β ( VGS VTH ) VDS 2 2 DS W W ' eff eff = 0cox = KP L eff L eff β µ V DS /2 teriminin V GS yanında ihmal edilebildiği durumlarda ( ) I β V V V DS GS TH DS Bağıntı β ve V T0 parametrelerinin tespiti için I DS, V DS ve V GS -V TH arasında doğrusal bir ilişki tanımlar. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 3
4 V T0 ve KP Parametrelerinin Doğrusal Çalışma Bölgesinde Ölçümü Sırasıyla V GS =V GS1 ve V GS =V GS2 ve noktalarına karşılık gelen I DS1 ve I DS2 noktaları eşik gerilimi cinsinden tek ifadede birleştirilirse V TH ( ) V I I V = 1 I I GS1 DS1 DS 2 GS 2 DS1 DS2 I DS2 =2 I DS1 olarak seçilir ve bağıntı düzenlenirse V = 2V V TH GS1 GS 2 I DS1 =1µA ve I DS2 =2µA için V T0 =0.9V ve KP=30µA/V 2 V GS1 =1V ve V GS2 =4V için V T0 =0.85V ve KP=26µA/V 2 SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 4
5 V T0 ve KP Parametrelerinin Doğrusal Çalışma Bölgesinde Ölçümü Eşik geriliminin tespiti amacıyla kullanılan ölçüm düzenekleri A VDS A VDS VGS VBS VBS Değişen V GS akımına karşılık sabit V DS ölçüm düzeneği V GS =V DS ölçüm düzeneği SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 5
6 V T0 ve KP Parametrelerinin Doğrusal Çalışma Bölgesinde Ölçümü SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 6
7 V T0 ve KP Parametrelerinin Doyma Bölgesinde Ölçümü Doyma bölgesinde çalışma ( V > V V ) DS GS TH V DS =V GS ilişkisine dayanan ikinci ölçüm düzeneği kullanılır I β β = V V I = V V ( ) ( ) DS GS TH DS GS TH I DS VGS ilişkisiyle grafik üzerinden yada GS1 DS1 DS 2 GS 2 VTH = bağıntısı kullanılarak V TH bulunabilir. I 4I alındığı takdirde V = 2V V ifadesi geçerli DS 2 = DS1 TH GS1 GS 2 olur. Buradan V 0.88V ve TH = 2 KP = 22.5µ A V V I I V 1 I I DS1 DS 2 hesaplanır. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 7
8 V T0 ve KP Parametrelerinin Doyma Bölgesinde Ölçümü SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 8
9 V T0 ve KP Parametrelerinin Doyma Bölgesinde Ölçümü SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 9
10 γ Gövde Etkisi Faktörünün Hesaplanması Gövde etkisinin V TH eşik gerilimi ile ilişkisi: ( 2 2 ) V = V + γ φ V φ TH TO F BS F γ gövde etkisi belirlenen ölçüm çiftleri için γ = V V TH 2 TH1 2φ V 2φ V F BS2 F BS1 Daha yüksek sayıda ölçüm değeri kullanılarak ara değerlerin doğrusal yaklaşımla değerlendirilmesiyle ilişkisi grafiksel olarak belirlenir. V ( 2φ V 2φ ) TH F BS F SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 10
11 γ Gövde Etkisi Faktörünün Hesaplanması SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 11
12 2. Düzey Model Parametreleri (Uzun Kanal)
13 Doğrusal Bölge Ölçümleri 1. Düzey modelde uygulanan gerilimle değişmediği kabul edilen taşıyıcı hareket yeteneğinde gerçekte geçit gerilimindeki artışla bir miktar azalma gözlenmektedir. ε s Ut c ox KP' = KP ε V V UV ox GS TH t DS KP' β ' toxε SiUc log = log = U log log V V UV KP β εox Denklemdeki β parametresi 1. düzey doğrusal bölge için önerilen ifadede hesaplanan β değeridir. Bu değer V TH eşik gerilimi etrafında, I DS ve V GS nin bağımlılıklarının yüksek olduğu bölgede hesaplanır. U c, U e ve U t parametreleri de grafiksel olarak bulunabilir. U e U c (UCRIT):Hareket yeteneği için kritik elektrik alanı U t (UTRA):Geçiş alanı katsayısı U e (UEXP):Hareket yeteneği için üstel katsayı ( ) e GS TH t DS SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 13
14 Doğrusal Bölge Ölçümleri SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 14
15 Doğrusal Bölge Ölçümleri SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 15
16 Doğrusal Bölge Ölçümleri U t parametresi grafiksel olarak tespit edilemez. Ancak akım üzerinde etkisi çok az olduğundan U t =0,5 olarak sabit alınabilir. Uygun bilgisayar altyapısı kullanıldığında parametreler lineer regresyon metoduyla bulunabilir. y = ax+ b x= log( V V 0.5 V ) GS TH DS y = log( KP' KP) Yapılan ilişkilendirmeyle U e ve U c parametreleri Ue = a ε ox U 10 ba c = toxε s olarak bulunur. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 16
17 Doğrusal Bölge Ölçümleri SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 17
18 Doğrusal Bölge Ölçümleri SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 18
19 Fiziksel Parametrelerin Hesaplanması V T0, KP, 2ø F ve γ elektriksel parametreleri; µ 0 (hareket yeteneği), N A (taban katkı yoğunluğu), t ox (geçit ince oksit kalınlığı) ve N SS (yüzey durum yoğunluğu) gibi fiziksel parametrelere bağımlıdır. t ox ve C ox parametreleri biliniyorsa µ = KP 0 ' 2 Cox N A 2 2 C ox γ = 2qε s ε C ox = t Bulunan N A değeri ile 2 φ = kt N A 2 ln 0,58 elde edilir. p V q n = Elde edilen 2 ø p değeri gövde etkisi nde verilen γ bağıntısından γ =0,463V 0,5 olarak yeniden hesaplanır. ox ox i C ox = F cm 2 µ 0 = 750 cm ( V. s) 15 3 N = cm A 8 2 SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 19
20 Fiziksel Parametrelerin Hesaplanması Eşik gerilimi fiziksel parametreler cinsinden V qn Eg kt = + + φ MS = TPG ln 2 q ' SS T0 φms 2φ 2 ' F γ φf Cox N n i A olarak verilir. Denklemlerde N SS yüzey durum yoğunluğu, T PG geçidin tipi (metal geçit için 0, tabanla aynı polisilisyum geçit için -1, farklı bir polisilisyum için +1). V TO hesaplandığında N SS nin -2.5x10 10 cm -2 ye eşit olduğu görülür. Fiziksel açıdan mümkün olmayan bu durum, gerçek MOS larda V T0 ın gerçeklenmesinde iyon aşılama ile katkılama bölgesinin, gövde katkılamasından farklı yapılmasıyla açıklanır. Dolayısıyla verilen V T0 ifadesi iyon aşılamasının olmadığı durumlarda kullanılır. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 20
21 Zayıf Evirtim Bölgesi Ölçümleri SPICE yazılımının ele aldığı temel model yüzey potansiyelinin 2ø F den küçük değerleri için sürüklenme akımını hesaplamaz. Gerçekte yüzey güçlü evirtimde olmasa da V GS <V TH dorumunda da bir miktar elektron hareketi dolayısıyla akım söz konusudur. Bu akım büyük ölçüde kaynak kanal arasındaki difüzyondan kaynaklanır. NFS değeri bu tanımlamayı modele katmak için kullanılır. N FS VGS q C = 1 log IDS kt q ' ox SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 21
22 Zayıf Evirtim Bölgesi Ölçümleri Şekilde VGS<0,85V ifadesiyle tanımlanan bölge zayıf evirtim bölgesidir. N FS =9, cm -2 elde edilir. Eğimler aynı olsa da model ile ölçüm sonuçları arasında doğru ilişki olduğu söylenemez. Bu durum geçiş gerilimi V on un istenen değere getirilmesini engeller. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 22
23 2. Düzey Model Parametreleri (Kısa Kanal)
24 Efektif Boyutlandırma ve Seri Direncin Hesaplanması Şu ana kadar tanımlanan tüm parametreler kanal yapısının uzunluk ve genişlik değerlerine bağımlı olarak ifade edildi. Bu açıdan prosesle ilgili bazı faktörlerden dolayı nominal değerlerden farklı L eff ve W eff değerlerini belirlemek önemlidir. X jl :Yan difüzyon uzunluğu X j :Metalurjik jonksiyon derinliği W ox :Yan difüzyon genişliği SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 24
25 Efektif Boyutlandırma ve Seri Direncin Hesaplanması Rasgele ortaya çıkan proses hatalarını ifade eden L err ve W err parametrelerinin katılmasıyla L = L L = 2X + 2L nom eff jl err W = W W = 2W + 2W nom eff ox err Efektif uzunluk ve genişlik değerleri elektriksel ölçümlerle bulunan kanal direnci ve iletkenliği değerleri yardımıyla belirlenebilir. V 1 L DS eff Ron = = = I β ( V V ) KP W ( V V ) DS GS TH eff GS TH I W DS eff Gon = = KP ( VGS VTH ) V L GS eff SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 25
26 Efektif Boyutlandırma ve Seri Direncin Hesaplanması R on ölçümleri aynı V GS ve V DS değerleri ile eşit genişlik için ölçeklendirilmiş uzunluk değerleri için soldaki, benzer biçimde ölçeklendirilen uzunluk değerlerinin iletkenliğe bağlı değişimi de sağdaki grafikteki gibi verilir. Ölçümler farklı V GS değerleri için tekrarlanarak ortalama L ve W değerleri elde edilir. Şekillerden sırasıyla L nom -L eff =0,70µm ve W nom -W eff =0,82µm değerleri elde edilir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 26
27 Efektif Boyutlandırma ve Seri Direncin Hesaplanması Kanal uzunluğu küçük seviyelerde olursa R on MOS un dışındaki parazitik seri dirençle kıyaslanabilir düzeylerde olur. Bu durumda R t parazitik seri direnci R on ifadesine katılırsa R on Lnom L 1 + Rt = W W KP( V V ) nom GS TH Bağıntı, sabit V GS şartı altında, R on un L on a bağlı doğrusal değişiminde kesişim noktasının R on =0 noktası değil R=R t ve L nom = L olacağını ifade eder. R t parametresi kaynak ve savaktaki tüm seri parazitik dirençlerin toplamını ifade eder. Şekilden L nom =5µm ve Leff=3,4µm elde edilir. Değerler standart R on grafiğinin verdiği sonuçlardan oldukça farklıdır. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 27
28 Efektif Boyutlandırma ve Seri Direncin Hesaplanması Şekilden R t =30Ω seri direnci SPICE yazılımına R S =R D =15Ω değerlerinde kaynak ve savak direnci olarak ya da R sh (kaynak ve savak tabaka direnci) olarak kullanılmaktadır. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 28
29 Doyma Bölgesine ait İletkenlik Parametrelerinin Belirlenmesi Efektif boyutların bilinmesi durumunda boyuta bağımlı parametreler de hesaplanabilir. VDS>V D,sat şartı altında G = Dsat, Dsat, 2 (1 λvds ) I λ Denklemdeki λ parametresi ortalama iletkenlikle ilişkilendirilmiştir λv DS ifadesi 1 in yanında ihmal edilebilir λ = G I D, sat D, sat Şekilden λ=0,053v -1 elde edilir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 29
30 Doyma Bölgesine ait İletkenlik Parametrelerinin Belirlenmesi SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 30
31 Kısa Kanal İçin Eşik Gerilimi Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi Jonksiyon derinliği X j küçük V DS değerlerinde X W j 2 ( 1 γ ' γ) L ( γ γ ) 2 Leff = 2 WS eff 1 ' 2ε s = + qn ( V 2φ ) S BS F A γ :VBS için hesaplanan gövde etkisi faktörü WS:Kaynak, savak ve kanal için fakirleşmiş bölge kalınlıkları Katkılama yoğunluğu N A W S ye bağlı olarak N 2ε = + ( V 2φ ) s A 2 BS F qws SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 31
32 Kısa Kanal İçin Hareket Yeteneği Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi Enine elektrik alanla oluşan hareket yeteneğindeki azalma modelde doyma gerilimiyle ilişkili v max parametresiyle gösterilmiştir. Verilen modellerdeki kompleks yapılardan dolayı v max ve N eff değerlerini yeterli doğrulukta basitçe belirlemek mümkün değildir. Uygun yöntem olarak ancak v max değeri değiştirilerek doğru doyma akımının ve N eff değiştirilerek doğru iletkenliğin belirlenmesi amaçlanır. Şekilden v max = V/cm ve N eff =10 olarak elde edilir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 32
33 Kısa Kanal İçin Hareket Yeteneği Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 33
34 Dar Kanal Etkisi İçin Parametrelerin Belirlenmesi Kanalın darlığı eşik gerilimini etkileyecektir. Modelde eşik geriliminin genişlik değerine bağımlılığını ifade etmede δ parametresi kullanılır. δ dar kanallı bir MOS için gövde etkisi eğrisinden belirlenebilir. Örnekte Weff=5,2µm değerindedir. VTH 4C δ = (1 W) π X ' ox 2 D X D = 2ε s qn A δ verilen bağıntılar ve deneme yanılma metodu kullanılarak belirleneblir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 34
35 Dar Kanal Etkisi İçin Parametrelerin Belirlenmesi SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 35
36 3. Düzey Model Parametreleri
37 Doğrusal Çalışma Bölgesi Ölçümleri Güçlü evirtim için eşik gerilimi civarlarındaki V GS değerlerinden başlanarak iteratif metotla V T0 ve θ hesaplanmalıdır. θ = β 1 β 2 1 V V V V ( β β )( ) GS 2 T GS1 T 0 L KP = β + ( V V ) 1 1 GS1 T 0 W θ eff Doğru denklemi ifadesinden β ve θ hesaplanır. β i, VGS=VGSi iken β değeridir. β β = + i ( V V ) 1 θ GS T 0 SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 37
38 Doğrusal Çalışma Bölgesi Ölçümleri Daha önce değerleri belirlenen parametreler V T 0 = 0,9V γ = 0,46V N A 12 = 1, 2 10 cm 15 3 KP = 30,9 µ A V θ = 0,051V µ VGS1=2V ve VGS2=5V için basit yöntemle bulunmuş İterasyon prosedürü sonucunda bulunan değerler KP = 32,4 µ A V θ = 0,052V 2 = 715cm ( Vs) değerler 2 µ = 750cm ( Vs) SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 38
39 Kısa Kanal İçin Eşik Gerilimi Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi Eşik gerilimindeki değişimin V DS deki değişimine oranını ifade eden η parametresi V C TH oxl η = V 8,15 10 DS 3 eff 22 SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 39
40 Kısa Kanal İçin Eşik Gerilimi Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi Şekillerden X j =1,1µm ve η=0,98 olarak belirlenir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 40
41 Kısa Kanal İçin Hareket Yeteneği Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi Hesaplanabilen µ s ve µ eff değerleri ile v max değeri belirlenebilir. 1 1 VDS = µ µ L v eff s eff max Bir başka seçenek olarak deneme yanılma metodu kullanılabilir. Bu yöntemle şekilden Düzey 2 için bulunan değerden farklı olarak v max =1, cm/s elde edilir. Hesaplama VGS nin başka değerleri için de tekrarlanabilir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 41
42 Kısa Kanal İçin Hareket Yeteneği Üzerinde Etkili Olan Parametrelerin Belirlenmesi SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 42
43 Doyma Bölgesine ait İletkenlik Parametrelerinin Belirlenmesi Bu model için kullanılan K parametresi ile doyma bölgesinde kanal kısalmasının ilişkisi KX 2 eff D = ( L L ) 2 V DS olarak verilir. Leff L = Leff I I 1 DS Dsat, SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 43
44 Doyma Bölgesine ait İletkenlik Parametrelerinin Belirlenmesi Şekilde farklı K değerleri için çıkış karakteristiğine ait ölçüm ve benzetim sonuçları verilmiştir. 3. Düzey modelle elde edilen en doğru benzerim sonucu K=1,5 değerinde gerçekleşmiştir. SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 44
45 KAYNAKLAR P. Antognetti, G. Massobrio, Semiconductor device modeling with SPICE, Mc Graw Hill, 2th Edition,1993. H. Kuntman, Elektronik Elemanların Modellenmesi, İTÜ Kütüphanesi, Sayı 1600, SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller) 45
1. ANALOG MOS TÜMDEVRE TEKNİĞİ
1. ANALOG MOS TÜMDEVRE TEKNİĞİ 1.1. Giriş, Analog tümdevrelerde MOS teknolojisinin yeri Son zamanlara kadar daha çok dijital sistemlerin gerçekleştirilmesinde kullanılan MOS teknolojisi, günümüzde, analog
DetaylıÇukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği
Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği BMM212 Elektronik-1 Laboratuvarı Deney Föyü Deney#8 Alan Etkili Transistör (FET) Karakteristikleri Arş. Gör. Mustafa İSTANBULLU Doç. Dr. Mutlu AVCI ADANA,
DetaylıBÖLÜM 2. FOTOVOLTAİK GÜNEŞ ENERJİ SİSTEMLERİ (PV)
BÖLÜM 2. FOTOOLTAİK GÜNEŞ ENERJİ SİSTEMLERİ (P) Fotovoltaik Etki: Fotovoltaik etki birbirinden farklı iki malzemenin ortak temas bölgesinin (common junction) foton radyasyonu ile aydınlatılması durumunda
DetaylıAkım Modlu Çarpıcı/Bölücü
Akım Modlu Çarpıcı/Bölücü (Novel High-Precision Current-Mode Multiplier/Divider) Ümit FARAŞOĞLU 504061225 1/28 TAKDİM PLANI ÖZET GİRİŞ AKIM MODLU ÇARPICI/BÖLÜCÜ DEVRE ÖNERİLEN AKIM MODLU ÇARPICI/BÖLÜCÜ
DetaylıDENEY RAPORU BJT VE MOSFET İN DC ÖZELLİKLERİNİN ÇIKARTILMASI. Alican Uysal. İlay Köksal Bilgisayar Mühendisliği B
DENEY RAPORU Deney Adı BJT VE MOSFET İN DC ÖZELLİKLERİNİN ÇIKARTILMASI Deneyi Yaptıran Ar. Gör. Raporu Hazırlayan (İsim / Numara / Bölüm) Grup Numarası ve Deney Tarihi Alican Uysal İlay Köksal 150130051
DetaylıBölüm 5 Transistör Karakteristikleri Deneyleri
Bölüm 5 Transistör Karakteristikleri Deneyleri 5.1 DENEYİN AMACI (1) Transistörlerin yapılarını ve sembollerini anlamak. (2) Transistörlerin karakteristiklerini anlamak. (3) Ölçü aletlerini kullanarak
Detaylı9. EŞİKALTI BÖLGESİNDE ÇALIŞAN ANALOG YAPI BLOKLARI
9. EŞİKALT BÖLGESİNDE ÇALŞAN ANALOG YAP BLOKLAR Son yıllarda, eşikaltında çalışan MOS tranzistorların kullanıldığı analog devre yapıları gittikçe önem kazanmaktadır. Bunun başlıca nedeni, hasta üzerine
DetaylıELEKTRONİK DEVRE TASARIM LABORATUARI-I MOSFET YARI İLETKEN DEVRE ELEMANININ DAVRANIŞININ İNCELENMESİ
ELEKTRONİK DEVRE TASARIM LABORATUARI-I MOSFET YARI İLETKEN DEVRE ELEMANININ DAVRANIŞININ İNCELENMESİ Yrd. Doç. Dr. Özhan ÖZKAN MOSFET: Metal-Oksit Yarıiletken Alan Etkili Transistor (Geçidi Yalıtılmış
Detaylıolduğundan A ve B sabitleri sınır koşullarından
TEMEL ELEKTROT SİSTEMLERİ Eş Merkezli Küresel Elektrot Sistemi Merkezleri aynı, aralarında dielektrik madde bulunan iki küreden oluşur. Elektrik Alanı ve Potansiyel Yarıçapları ve ve elektrotlarına uygulanan
DetaylıMAK 210 SAYISAL ANALİZ
MAK 210 SAYISAL ANALİZ BÖLÜM 7- SAYISAL TÜREV Doç. Dr. Ali Rıza YILDIZ 1 GİRİŞ İntegral işlemi gibi türev işlemi de mühendislikte çok fazla kullanılan bir işlemdir. Basit olarak bir fonksiyonun bir noktadaki
DetaylıT.C. ULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK MİMARLIK FAKÜLTESİ ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK DEVRELER LABORATUVARI I
T.C. ULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK MİMARLIK FAKÜLTESİ ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK DEVRELER LABORATUVARI I DENEY 7: MOSFET Lİ KUVVETLENDİRİCİLER Ortak Kaynaklı MOSFET li kuvvetlendirici
DetaylıTEMEL ELEKTROT SİSTEMLERİ Eş Merkezli Küresel Elektrot Sistemi
TEMEL ELEKTROT SİSTEMLERİ Eş Merkezli Küresel Elektrot Sistemi Merkezleri aynı, aralarında dielektrik madde bulunan iki küreden oluşur. Elektrik Alanı ve Potansiyel Yarıçapları ve ve elektrotlarına uygulanan
DetaylıDENEY 3 : TRANSİSTÖR KARAKTERİSTİKLERİ. Amaç : Bipolar Transistörlerin çalışmasını teorik ve pratik olarak öğrenmek.
Ön Hazırlık: Deneyde yapılacaklar kısmının giriş aşamasındaki 1. adımda yapılacakları; multisim, proteus gibi simülasyon programı ile uygulayınız. Simülasyonun ekran çıktısı ile birlikte yapılması gerekenleri
DetaylıDENEY 9: JFET KARAKTERİSTİK EĞRİLERİ
DENEY 9: JFET KARAKTERİSTİK EĞRİLERİ 9.1. Deneyin Amacı Bir JFET transistörün karakteristik eğrilerinin çıkarılıp, çalışmasının pratik ve teorik olarak öğrenilmesi 9.2. Kullanılacak Malzemeler ve Aletler
DetaylıDENEY 1:JFET TRANSİSTÖR VE KARAKTERİSTİKLERİ
DENEY 1:JFET TRANSİSTÖR VE KARAKTERİSTİKLERİ Alan Etkili Transistör (FET) Alan etkili transistörler 1 bir elektrik alanı üzerinde kontrolün sağlandığı bir takım yarıiletken aygıtlardır. Bunlar iki çeşittir:
DetaylıBU NOTLAR PROF. DR. AYTEN KUNTMAN TARAFINDAN 11.03.2009 TARĐHĐNDE YAYINLANAN NOTLARIN YENĐDEN DÜZENLENMĐŞ HALĐDĐR.
BU NOTLAR PROF. DR. AYTEN KUNTMAN TARAFINDAN 11.03.2009 TARĐHĐNDE YAYINLANAN NOTLARIN YENĐDEN DÜZENLENMĐŞ HALĐDĐR. 1 TÜMDEVRE TASARIM ĐLKELERĐ 1.GĐRĐŞ 2.TÜMDEVRE TASARIMI VE ÜRETĐMĐ AŞAMALARI 2.1. Maske
DetaylıBİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ DOYMA BASINCI DENEY FÖYÜ 3
BİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ DOYMA BASINCI DENEY FÖYÜ 3 Hazırlayan: Arş. Gör. Gülcan ÖZEL 1. Deney Adı: Doyma çizgisi kavramı 2. Deney Amacı:
DetaylıYatak Katsayısı Yaklaşımı
Yatak Katsayısı Yaklaşımı Yatak katsayısı yaklaşımı, sürekli bir ortam olan zemin için kurulmuş matematik bir modeldir. Zemin bu modelde yaylar ile temsil edilir. Yaylar, temel taban basıncı ve zemin deformasyonu
DetaylıDENEYİN AMACI: Bu deneyde MOS kuvvetlendiricilerden ortak kaynaklı ve ortak akaçlı devreler incelenecektir.
DENEY NO: 9 MOSFET Lİ KUVVETLENDİRİCİLER DENEYİN AMACI: Bu deneyde MOS kuvvetlendiricilerden ortak kaynaklı ve ortak akaçlı devreler incelenecektir. DENEY MALZEMELERİ MOSFET: 1x4007 Kondansatör: 3x1 µf,
DetaylıMühendislik Mekaniği Statik. Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş
Mühendislik Mekaniği Statik Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş Bölüm 10 Eylemsizlik Momentleri Kaynak: Mühendislik Mekaniği: Statik, R. C.Hibbeler, S. C. Fan, Çevirenler: A. Soyuçok, Ö. Soyuçok. 10. Eylemsizlik Momentleri
DetaylıBu deneyde lab cihazlarının kullanımı için 4 uygulama yapılacaktır.
Bu deneyde lab cihazlarının kullanımı için 4 uygulama yapılacaktır. Uygulama -1: Dirençlerin Seri Bağlanması Uygulama -2: Dirençlerin Paralel Bağlanması Uygulama -3: Dirençlerin Karma Bağlanması Uygulama
DetaylıSİSTEMİ YRD.DOÇ. DR. CABBAR VEYSEL BAYSAL ELEKTRIK & ELEKTRONIK YÜK. MÜH.
EM 420 Yüksek Gerilim Tekniği DÜZLEMSEL ELEKTROT SİSTEMİ YRD.DOÇ. DR. CABBAR VEYSEL BAYSAL ELEKTRIK & ELEKTRONIK YÜK. MÜH. Not: Tüm slaytlar, listelenen ders kaynaklarından alıntı yapılarak ve faydalanılarak
DetaylıBİLGİLENDİRME EKİ 7E. LİFLİ POLİMER İLE SARGILANAN KOLONLARDA DAYANIM VE SÜNEKLİK ARTIŞININ HESABI
BİLGİLENDİRME EKİ 7E. LİFLİ POLİMER İLE SARGILANAN KOLONLARDA DAYANIM VE SÜNEKLİK ARTIŞININ HESABI 7E.0. Simgeler A s = Kolon donatı alanı (tek çubuk için) b = Kesit genişliği b w = Kiriş gövde genişliği
Detaylı11. Sunum: İki Kapılı Devreler. Kaynak: Temel Mühendislik Devre Analizi, J. David IRWIN-R. Mark NELMS, Nobel Akademik Yayıncılık
11. Sunum: İki Kapılı Devreler Kaynak: Temel Mühendislik Devre Analizi, J. David IRWIN-R. Mark NELMS, Nobel Akademik Yayıncılık 1 Giriş İki kapılı devreler giriş akımları ve gerilimleri ve çıkış akımları
DetaylıÇukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği
Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği BMM22 Elektronik- Laboratuvarı Deney Föyü Deney#0 BJT ve MOSFET li Kuvvetlendiricilerin Frekans Cevabı Doç. Dr. Mutlu AVCI Arş. Gör. Mustafa İSTANBULLU ADANA,
Detaylı12. DC KÖPRÜLERİ ve UYGULAMALARI
Wheatstone Köprüsü ile Direnç Ölçümü 12. DC KÖPRÜLERİ ve UYGULAMALARI Orta değerli dirençlerin (0.1Ω
DetaylıTRANSİSTÖR KARAKTERİSTİKLERİ
Karadeniz Teknik Üniversitesi Mühendislik Fakültesi * lektrik-lektronik Mühendisliği ölümü lektronik Anabilim Dalı * lektronik Laboratuarı 1. Deneyin Amacı TRANSİSTÖR KARAKTRİSTİKLRİ Transistörlerin yapısının
DetaylıBJT (Bipolar Junction Transistor) nin karakteristik eğrilerinin incelenmesi
DENEY 5: BJT NİN KARAKTERİSTİK EĞRİLERİ 5.1. Deneyin Amacı BJT (Bipolar Junction Transistor) nin karakteristik eğrilerinin incelenmesi 5.2. Kullanılacak Aletler ve Malzemeler 1) BC237C BJT transistör 2)
DetaylıTEMEL ELEKTROT SİSTEMLERİ Silindirsel Elektrot Sistemi
Aralarında yalıtkan madde (dielektrik) bulunan silindir biçimli eş eksenli yada kaçık eksenli, iç içe yada karşılıklı, paralel ve çapraz elektrotlar silindirsel elektrot sistemlerini oluştururlar. Yüksek
Detaylıİlk olarak karakteristik uzunluğu bulalım. Yatay bir plaka için karakteristik uzunluk, levha alanının çevresine oranıdır.
DOĞAL TAŞINIM ÖRNEK PROBLEMLER VE ÇÖZÜMLERİ.) cm uzunlukta 0 cm genişlikte yatay bir plakanın 0 o C deki hava ortamında asılı olarak durduğunu dikkate alınız. Plaka 0 W gücünde elektrikli ısıtıcı elemanlarla
DetaylıBipolar Transistörlerin çalışmasını teorik ve pratik olarak öğrenmek.
DENEY 6 TRANSİSTOR KARAKTERİSTİKLERİ Deneyin Amacı Bipolar Transistörlerin çalışmasını teorik ve pratik olarak öğrenmek. Malzemeler ve Kullanılacak Cihazlar 1 adet BC547 transistör, 1 er adet 10 kω ve
DetaylıBölüm 7 FET Karakteristikleri Deneyleri
Bölüm 7 FET Karakteristikleri Deneyleri 7.1 DENEYİN AMACI (1) JFET in temel karakteristiklerini anlamak. (2) MOSFET in temel karakteristiklerini anlamak. 7.2 GENEL BİLGİLER 7.2.1 Yeni Terimler: (1) JFET
DetaylıDers 3- Direnç Devreleri I
Ders 3- Direnç Devreleri I Yard.Doç.Dr. Ahmet Özkurt Ahmet.ozkurt@deu.edu.tr http://ahmetozkurt.net İçerik 2. Direnç Devreleri Ohm kanunu Güç tüketimi Kirchoff Kanunları Seri ve paralel dirençler Elektriksel
DetaylıALAN ETKİLİ TRANSİSTÖR
ALAN ETKİLİ TRANİTÖR Y.oç.r.A.Faruk BAKAN FET (Alan Etkili Transistör) gerilim kontrollu ve üç uçlu bir elemandır. FET in uçları G (Kapı), (rain) ve (Kaynak) olarak tanımlanır. FET in yapısı ve sembolü
DetaylıINM 308 Zemin Mekaniği
Hafta_12 INM 308 Zemin Mekaniği Zeminlerin Taşıma Gücü; Kazıklı Temeller Yrd.Doç.Dr. İnan KESKİN inankeskin@karabuk.edu.tr, inankeskin@gmail.com www.inankeskin.com ZEMİN MEKANİĞİ Haftalık Konular Hafta
DetaylıMAK 210 SAYISAL ANALİZ
MAK 210 SAYISAL ANALİZ BÖLÜM 6- İSTATİSTİK VE REGRESYON ANALİZİ Doç. Dr. Ali Rıza YILDIZ 1 İSTATİSTİK VE REGRESYON ANALİZİ Bütün noktalardan geçen bir denklem bulmak yerine noktaları temsil eden, yani
DetaylıÖğrencinin Adı - Soyadı Numarası Grubu İmza DENEY NO 1 ÖN HAZIRLIK RAPORU DENEYİN ADI SERBEST UYARMALI D.A. GENERATÖRÜ KARAKTERİSTİKLERİ a) Boşta Çalışma Karakteristiği b) Dış karakteristik c) Ayar karakteristik
DetaylıERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ISI TRANSFERİ LABORATUARI
ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ISI TRANSFERİ LABORATUARI DENEY FÖYÜ DENEY ADI ZORLANMIŞ TAŞINIM DERSİN ÖĞRETİM ÜYESİ DENEYİ YAPTIRAN ÖĞRETİM ELEMANI DENEY
DetaylıFET: FIELD EFFECT TRANZISTORS ALAN ETKİLİ TRANZİSTÖRLER JFET LERİN DC ANALİZİ. Hafta 9
FET: FIELD EFFECT TRANZISTORS ALAN ETKİLİ TRANZİSTÖRLER JFET LERİN DC ANALİZİ Hafta 9 Prof. Dr. Mehmet Karabük Üniversitesi Bilgisayar Mühendisliği 1 Alan-Etkili Tranzistörler (FET ler) Hatırlanacağı üzere
Detaylı6. İDEAL GAZLARIN HAL DENKLEMİ
6. İDEAL GAZLARIN HAL DENKLEMİ Amaç: - Sabit bir miktar gaz (hava) için aşağıdaki ilişkilerin incelenmesi: 1. Sabit sıcaklıkta hacim ve basınç (Boyle Mariotte yasası) 2. Sabit basınçta hacim ve sıcaklık
DetaylıKompozit Malzemeler ve Mekaniği. Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş
Kompozit Malzemeler ve Mekaniği Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş Bölüm 3 Laminanın Mikromekanik Analizi Kaynak: Kompozit Malzeme Mekaniği, Autar K. Kaw, Çevirenler: B. Okutan Baba, R. Karakuzu. 3 Laminanın Mikromekanik
DetaylıELEKTRİK AKIMI Elektrik Akım Şiddeti Bir İletkenin Direnci
ELEKTRİK AKIMI Elektrikle yüklü ve potansiyelleri farklı olan iki iletken küreyi, iletken bir telle birleştirilirse, potansiyel farkından dolayı iletkende yük akışı meydana gelir. Bir iletkenden uzun süreli
DetaylıBJT KARAKTERİSTİKLERİ VE DC ANALİZİ
Karadeniz Teknik Üniversitesi Mühendislik Fakültesi Elektrik-Elektronik Mühendisliği ölümü Elektronik Anabilim Dalı Elektronik Dersi Laboratuvarı JT KARAKTERİSTİKLERİ VE DC ANALİZİ 1. Deneyin Amacı Transistörlerin
DetaylıTEMEL İNŞAATI ŞERİT TEMELLER
TEMEL İNŞAATI ŞERİT TEMELLER Kaynak; Temel Mühendisliğine Giriş, Prof. Dr. Bayram Ali Uzuner 1 2 Duvar Altı (veya Perde Altı) Şerit Temeller (Duvar Temelleri) 3 Taş Duvar Altı Şerit Temeller Basit tek
DetaylıBölüm 1. Elektriksel Büyüklükler ve Elektrik Devre Elemanları
Bölüm Elektriksel Büyüklükler ve Elektrik Devre Elemanları. Temel Elektriksel Büyüklükler: Akım, Gerilim, Güç, Enerji. Güç Polaritesi.3 Akım ve Gerilim Kaynakları F.Ü. Teknoloji Fak. EEM M.G. .. Temel
DetaylıOHM KANUNU DENEY 1 OHM KANUNU 1.1. DENEYİN AMACI
DENEY 1 OHM KANUNU 1.1. DENEYİN AMACI Bu deneyde, Ohm kanunu işlenecektir. Seri ve paralel devrelere ohm kanunu uygulanıp, teorik sonuçlarla deney sonuçlarını karşılaştıracağız ve doğrulamasını yapacağız.
DetaylıERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ LABORATUARI
ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ LABORATUARI DENEY FÖYÜ DENEY ADI ELEKTRİK İLETİM HATLARINDA GERİLİM DÜŞÜMÜ VE GÜÇ FAKTÖRÜ
Detaylıİnce Antenler. Hertz Dipolü
İnce Antenler Çapları boylarına göre küçük olan antenlere ince antenler denir. Alanların hesabında antenlerin sonsuz ince kabul edilmesi kolaylık sağlar. Ancak anten empedansı bulunmak istendiğinde kalınlığın
DetaylıElektrik Akımı, Direnç ve Ohm Yasası
1. Akım Şiddeti Elektrik akımı, elektrik yüklerinin hareketi sonucu oluşur. Ancak her hareketli yük akım yaratmaz. Belirli bir bölge ya da yüzeyden net bir elektrik yük akışı olduğu durumda elektrik akımından
DetaylıPervane 10. PERVANE TEORİLERİ. P 2 v 2. P 1 v 1. Gemi İlerleme Yönü P 0 = P 2. Geliştirilmiş pervane teorileri aşağıdaki gibi sıralanabilir:
. PEVANE TEOİLEİ Geliştirilmiş perane teorileri aşağıdaki gibi sıralanabilir:. Momentum Teorisi. Kanat Elemanı Teorisi 3. Sirkülasyon (Girdap) Teorisi. Momentum Teorisi Momentum teorisinde aşağıdaki kabuller
DetaylıYRD.DOÇ. DR. CABBAR VEYSEL BAYSAL ELEKTRIK & ELEKTRO NIK Y Ü K. M Ü H.
EM 420 Yüksek Gerilim Tekniği EŞ MERKEZLİ KÜRESEL ELEKTROT SİSTEMİ YRD.DOÇ. DR. CABBAR VEYSEL BAYSAL ELEKTRIK & ELEKTRO NIK Y Ü K. M Ü H. Not: Tüm slaytlar, listelenen ders kaynaklarından alıntı yapılarak
DetaylıBAŞKENT ÜNİVERSİTESİ MAKİNA MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ MAK 402 MAKİNA MÜHENDİSLİĞİ LABORATUVARI DENEY 9A GERİNİM ÖLÇER KULLANARAK GERİLİM ANALİZİ YAPILMASI
BAŞKENT ÜNİVERSİTESİ MAKİNA MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ MAK 40 MAKİNA MÜHENDİSLİĞİ LABORATUVARI DENEY 9A GERİNİM ÖLÇER KULLANARAK GERİLİM ANALİZİ YAPILMASI TEORİ Bir noktada oluşan gerinim ve gerilme değerlerini
Detaylı14. SİNÜSOİDAL AKIMDA DİRENÇ, KAPASİTE, İNDÜKTANS VE ORTAK İNDÜKTANSIN ÖLÇÜLMESİ
14. SİNÜSOİDAL AKIMDA DİRENÇ, KAPASİTE, İNDÜKTANS VE ORTAK İNDÜKTANSIN ÖLÇÜLMESİ Sinüsoidal Akımda Direncin Ölçülmesi Sinüsoidal akımda, direnç üzerindeki gerilim ve akım dalga şekilleri ve fazörleri aşağıdaki
Detaylı10. Sunum: Laplace Dönüşümünün Devre Analizine Uygulanması
10. Sunum: Laplace Dönüşümünün Devre Analizine Uygulanması Kaynak: Temel Mühendislik Devre Analizi, J. David IRWIN-R. Mark NELMS, Nobel Akademik Yayıncılık 1 Laplace Devre Çözümleri Aşağıdaki devrenin
DetaylıCOPYRIGHT ALL RIGHTS RESERVED
IEC 60909 A GÖRE HESAPLAMA ESASLARI - 61 KISA-DEVRE AKIMLARININ HESAPLANMASI (14) TEPE KISA-DEVRE AKIMI ip (2) ÜÇ FAZ KISA-DEVRE / Gözlü şebekelerde kısa-devreler(1) H.Cenk BÜYÜKSARAÇ/ Elektrik-Elektronik
DetaylıÇukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği
Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği BMM212 Elektronik-1 Laboratuvarı Deney Föyü Deney#8 Alan Etkili Transistör (FET) Karakteristikleri Doç. Dr. Mutlu AVCI Arş. Gör. Mustafa İSTANBULLU ADANA,
DetaylıBİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
BİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ MÜHENDİSLİKTE DENEYSEL METOTLAR-II GENİŞLETİLMİŞ YÜZEYLERDE ISI TRANSFERİ DENEYİ 1.Deneyin Adı: Genişletilmiş
DetaylıDENEY-2 BJT VE MOSFET İN DC ÖZELLİKLERİNİN ÇIKARTILMASI
DENEY-2 BJT E MOSFET İN DC ÖZELLİKLERİNİN ÇIKARTILMASI DENEYİN AMACI: Bipolar jonksiyonlu transistör (BJT) ve MOS transistörün DC (doğru akımda) çalışma bölgelerindeki akım-gerilim ilişkilerinin teorik
DetaylıRADYASYON ÖLÇÜM YÖNTEMLERİ
RADYASYON ÖLÇÜM YÖNTEMLERİ Prof. Dr. Doğan BOR ORANTILI SAYAÇLAR DERS 2 GAZ DOLDURULMUŞ DEDEKTÖRLERİN FARKLI ÇALIŞMA BÖLGELERİ N 2 = 10 000 N 1 = 100 İyonizasyon Bölgesi İyonizasyon akımı primer iyon çiftlerinin
DetaylıFotovoltaik Teknoloji
Fotovoltaik Teknoloji Bölüm 5: Fotovoltaik Hücre Karakteristikleri Fotovoltaik Hücrede Enerji Dönüşümü Fotovoltaik Hücre Parametreleri I-V İlişkisi Yük Çizgisi Kısa Devre Akımı Açık Devre Voltajı MPP (Maximum
DetaylıŞekil 1. R dirençli basit bir devre
DENEY 2. OHM KANUNU Amaç: incelenmesi. Elektrik devrelerinde gerilim, akım ve direnç arasındaki ilişkinin Ohm kanunu ile Kuramsal Bilgi: Bir iletkenden geçen elektrik akımına karşı, iletken maddenin içyapısına
DetaylıERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ LABORATUARI
ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ LABORATUARI DENEY FÖYÜ DENEY ADI ELEKTRİK İLETİM HATLARINDA GERİLİM DÜŞÜMÜ VE GÜÇ FAKTÖRÜ
DetaylıOHM KANUNU DĠRENÇLERĠN BAĞLANMASI
OHM KANUNU DĠRENÇLERĠN BAĞLANMASI 2.1 Objectives: Ohm Kanunu: Farklı direnç değerleri için, dirence uygulanan gerilime göre direnç üzerinden akan akımın ölçülmesi. Dirençlerin Seri Bağlanması: Seri bağlı
DetaylıMEMM4043 metallerin yeniden kazanımı
metallerin yeniden kazanımı 2016-2017 güz yy. Prof. Dr. Gökhan Orhan MF212 katot - + Cu + H 2+ SO 2-4 OH- Anot Reaksiyonu Cu - 2e - Cu 2+ E 0 = + 0,334 Anot Reaksiyonu 2H 2 O O 2 + 4H + + 4e - E 0 = 1,229-0,0591pH
DetaylıSİLİNDİRİK ELEKTROT SİSTEMLERİ
EM 420 Yüksek Gerilim Tekniği SİLİNDİRİK ELEKTROT SİSTEMLERİ YRD.DOÇ. DR. CABBAR VEYSEL BAYSAL ELEKTRIK & ELEKTRONIK YÜK. MÜH. Not: Tüm slaytlar, listelenen ders kaynaklarından alıntı yapılarak ve faydalanılarak
Detaylı5. Bölüm: BJT DC Öngerilimleme. Doç. Dr. Ersan KABALCI
5. ölüm: JT D Öngerilimleme Doç. Dr. rsan KAAL 1 Öngerilimleme Transistörün düzgün bir şekilde çalışması için öngerilimlenmesi gerekir. DA çalışma noktasını oluşturmak için birçok yöntem vardır. Öngerilimleme
DetaylıŞekil 1. n kanallı bir FET in Geçiş ve Çıkış Özeğrileri
DENEY NO : 3 DENEYİN ADI : FET - Elektriksel Alan Etkili Transistör lerin Karakteristikleri DENEYİN AMACI : FET - Elektriksel Alan Etkili Transistör lerin karakteristiklerini çıkarmak, ilgili parametrelerini
DetaylıİNM 305 ZEMİN MEKANİĞİ
İNM 305 ZEMİN MEKANİĞİ 2015-2016 GÜZ YARIYILI Prof. Dr. Zeki GÜNDÜZ 1 ZEMİNLERİN SIKIŞMASI, KONSOLİDASYON ve OTURMALAR 2 3 4 ZEMİNLERİN SIKIŞMASI ve KONSOLİDASYON 1. Giriş 2. Kohezyonsuz ve Kohezyonlu
DetaylıElektrik ve Magnetizma
Elektrik ve Magnetizma 1.1. Biot-Sawart yasası Üzerinden akım geçen, herhangi bir biçime sahip iletken bir tel tarafından bir P noktasında üretilen magnetik alan şiddeti H iletkeni oluşturan herbir parçanın
DetaylıMOSFET. MOSFET 'lerin Yapısı
MOSFET MOSFET 'lerin Yapısı JFET 'ler klasik transistörlere göre büyük bir gelişme olmasına rağmen bazı limitleri vardır. JFET 'lerin giriş empedansları klasik transistörlerden daha fazla olduğu için,
DetaylıKaradeniz Teknik Üniversitesi Mühendislik Fakültesi * Elektrik-Elektronik Mühendisliği Bölümü Elektronik Anabilim Dalı * Elektronik Laboratuarı I
Karadeniz Teknik Üniversitesi Mühendislik Fakültesi * Elektrik-Elektronik Mühendisliği Bölümü Elektronik Anabilim Dalı * Elektronik Laboratuarı I FET KARAKTERİSTİKLERİ 1. Deneyin Amacı JFET ve MOSFET transistörlerin
DetaylıEEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I
EEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I Prof. Dr. Selçuk YILDIRIM Siirt Üniversitesi Elektrik-Elektronik Mühendisliği Kaynak (Ders Kitabı): Fundamentals of Electric Circuits Charles K. Alexander Matthew N.O. Sadiku
DetaylıELM 232 Elektronik I Deney 3 BJT Kutuplanması ve Küçük İşaret Analizi
ELM 232 Elektronik I Deney 3 BJT Kutuplanması ve Küçük İşaret Analizi I. Amaç Bu deneyin amacı; BJT giriş çıkış karakteristikleri öğrenerek, doğrusal (lineer) transistör modellerinde kullanılan parametreler
DetaylıDENEY 3: DOĞRULTUCU DİYOT VE ZENER DİYOT UYGULAMASI
ENEY 3: OĞUTUCU İYOT E ENE İYOT UYGUAMAS Örnek 3 =1v Akım akma iyot ters yönde kutuplanmıştır. Örnek 4 =1v Akim akar >0 iyot doğru yönde kutuplanmıştır. Örnek 5 =1v Akım akma >0 iyot ters yönde kutuplanmıştır.
DetaylıİNM Ders 2.2 YER HAREKETİ PARAMETRELERİNİN HESAPLANMASI. Yrd. Doç. Dr. Pelin ÖZENER İnşaat Mühendisliği Bölümü Geoteknik Anabilim Dalı
İNM 424112 Ders 2.2 YER HAREKETİ PARAMETRELERİNİN HESAPLANMASI Yrd. Doç. Dr. Pelin ÖZENER İnşaat Mühendisliği Bölümü Geoteknik Anabilim Dalı YER HAREKETİ PARAMETRELERİNİN HESAPLANMASI Yapıların Depreme
DetaylıBölüm 4 Doğru Akım Devreleri. Prof. Dr. Bahadır BOYACIOĞLU
Bölüm 4 Doğru Akım Devreleri Prof. Dr. Bahadır BOYACIOĞLU Doğru Akım Devreleri Elektrik Akımı Direnç ve Ohm Yasası Elektromotor Kuvvet (EMK) Kirchoff un Akım Kuralı Kirchoff un İlmek Kuralı Seri ve Paralel
DetaylıDENEY-4 WHEATSTONE KÖPRÜSÜ VE DÜĞÜM GERİLİMLERİ YÖNTEMİ
DENEY- WHEATSTONE KÖPÜSÜ VE DÜĞÜM GEİLİMLEİ YÖNTEMİ Deneyin Amacı: Wheatson köprüsünün anlaşılması, düğüm gerilimi ile dal gerilimi arasındaki ilişkinin incelenmesi. Kullanılan Alet-Malzemeler: a) DC güç
DetaylıTAŞINIMIN FİZİKSEL MEKANİZMASI
BÖLÜM 6 TAŞINIMIN FİZİKSEL MEKANİZMASI 2 or Taşınımla ısı transfer hızı sıcaklık farkıyla orantılı olduğu gözlenmiştir ve bu Newton un soğuma yasasıyla ifade edilir. Taşınımla ısı transferi dinamik viskosite
DetaylıEEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I
EEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I Prof. Dr. Selçuk YILDIRIM Siirt Üniversitesi Elektrik-Elektronik Mühendisliği Kaynak (Ders Kitabı): Fundamentals of Electric Circuits Charles K. Alexander Matthew N.O. Sadiku
DetaylıV cn V ca. V bc. V bn. V ab 30. -V bn. V an HATIRLATMALAR. Faz-Faz ve Faz-Nötr Gerilimleri. Yıldız ve Üçgen Bağlı Yüklerde Akım-Gerilim İlişkileri
HATIRLATMALAR Faz-Faz ve Faz-Nötr Gerilimleri V cn V ca V ab 30 10 V an V bn V bc V ab 30 -V bn cos30 30 V an cos30 3 3 30 Yıldız ve Üçgen Bağlı Yüklerde Akım-Gerilim İlişkileri Üçgen Bağlı Yük: V LN =
Detaylı3. 2 +V DD I O2 + C C V O - T 1 T 6 T 3 -V SS T 5 T 8 I 7 I O. (c)
. Kazancın sonlu olması,. Lineerlik bölgesinin sonlu olması, 3. dengesizlik gerilimi, 4. frekans eğrisi, 5. gürültü alt başlıkları altında sıralanabilir. 3. V DD V CC I O I O I O I O V i - T T C C V O
DetaylıDENEY 1 DİYOT KARAKTERİSTİKLERİ
DENEY 1 DİYOT KARAKTERİSTİKLERİ 1.1. DENEYİN AMACI Bu deneyde diyotların akım-gerilim karakteristiği incelenecektir. Bir ölçü aleti ile (volt-ohm metre) diyodun ölçülmesi ve kontrol edilmesi (anot ve katot
Detaylı2 Hata Hesabı. Hata Nedir? Mutlak Hata. Bağıl Hata
Hata Hesabı Hata Nedir? Herhangi bir fiziksel büyüklüğün ölçülen değeri ile gerçek değeri arasındaki farka hata denir. Ölçülen bir fiziksel büyüklüğün sayısal değeri, yapılan deneysel hatalardan dolayı
Detaylı4. Bölüm: Çift Jonksiyonlu Transistörler (BJT) Doç. Dr. Ersan KABALCI
4. Bölüm: Çift Jonksiyonlu Transistörler (BJT) Doç. Dr. Ersan KABALC 1 Transistör Yapısı İki tip transistör vardır: pnp npn pnp Transistörün uçları: E - Emiter B - Beyz C - Kollektör npn 2 Transistör Yapısı
DetaylıTHEVENIN VE NORTON TEOREMLERİ. Bu teoremler en güçlü analiz tekniklerindendir EBE-215, Ö.F.BAY 1
THEVENIN VE NORTON TEOREMLERİ Bu teoremler en güçlü analiz tekniklerindendir EBE-25, Ö.F.BAY THEVENIN EŞDEĞER TEOREMİ DOĞRUSAL DEVRE Bağımsız ve bağımlı kaynaklar içerebilir DEVRE A v O _ a + i Bağımsız
DetaylıMAK 210 SAYISAL ANALİZ
MAK 210 SAYISAL ANALİZ BÖLÜM 5- SONLU FARKLAR VE İNTERPOLASYON TEKNİKLERİ Doç. Dr. Ali Rıza YILDIZ MAK 210 - Sayısal Analiz 1 İNTERPOLASYON Tablo halinde verilen hassas sayısal değerler veya ayrık noktalardan
DetaylıDENEY FÖYÜ 5: THEVENİN VE NORTON TEOREMLERİNİN İNCELENMESİ
Deneyin Amacı: DENEY FÖYÜ 5: THEVENİN VE NORTON TEOREMLERİNİN İNCELENMESİ Devre Analiz yöntemlerinden olan Thevenin ve Norton teoremlerinin deneysel olarak gerçeklenmesi. Doğrusal devreleri analiz etmek
DetaylıYAVAŞ DEĞİŞEN ÜNİFORM OLMAYAN AKIM
YAVAŞ DEĞİŞEN ÜNİFORM OLMAYAN AKIM Yavaş değişen akımların analizinde kullanılacak genel denklem bir kanal kesitindeki toplam enerji yüksekliği: H = V g + h + z x e göre türevi alınırsa: dh d V = dx dx
Detaylı3. V, R 3 ün açık bir altkümesi olmak üzere, c R. p noktasında yüzeye dik olduğunu gösteriniz.(10
Diferenisyel Geometri 2 Yazokulu 2010 AdıSoyadı: No : 1. ϕ (u, v) = ( u + 2v, v + 2u, u 2 v ) parametrizasyonu ile verilen M kümesinin bir regüler yüzey olduğunu gösteriniz. (15 puan) 3. V, R 3 ün açık
DetaylıÇukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği
Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği BMM212 Elektronik-1 Laboratuvarı Deney Föyü Deney#9 Alan Etkili Transistörlü Kuvvetlendiriciler Doç. Dr. Mutlu AVCI Arş. Gör. Mustafa İSTANBULLU ADANA, 2015
DetaylıDeney 2: FET in DC ve AC Analizi
Deneyin Amacı: Deney 2: FET in DC ve AC Analizi FET in iç yapısının öğrenilmesi ve uygulamalarla çalışma yapısının anlaşılması. A.ÖNBİLGİ FET (Field Effect Transistr) (Alan Etkili Transistör) FET yarıiletken
DetaylıV R1 V R2 V R3 V R4. Hesaplanan Ölçülen
DENEY NO : 1 DENEYİN ADI : Kirchhoff Akım/Gerilim Yasaları ve Düğüm Gerilimleri Yöntemi DENEYİN AMACI : Kirchhoff akım/gerilim yasalarının ve düğüm gerilimleri yöntemi ile hesaplanan devre akım ve gerilimlerinin
DetaylıKompozit Malzemeler ve Mekaniği. Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş
Kompozit Malzemeler ve Mekaniği Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş Bölüm 4 Laminatların Makromekanik Analizi Kaynak: Kompozit Malzeme Mekaniği, Autar K. Kaw, Çevirenler: B. Okutan Baba, R. Karakuzu. 4 Laminatların
DetaylıYAPILACAK DENEYLERİN LİSTESİ
YPILCK DENEYLERİN LİSTESİ 1. Ohm ve Kirşof Yasalarının Doğrulaması 2. Düğüm Noktası Gerilimleri ve Çevre kımları Yöntemlerinin Doğrulanması 3. Tevenin ve Norton Teoremlerinin Doğrulaması 4. Süperpozisyon
DetaylıA.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 10. HAFTA
A.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 10. HAFTA İçindekiler FV Güneş Pili Karakteristikleri FV GÜNEŞ PİLİ KARAKTERİSTİKLERİ Bir Fotovoltaj güneş pilinin elektriksel
DetaylıAKARSULARDA DEBİ ÖLÇÜM YÖNTEMLERİ
AKARSULARDA DEBİ ÖLÇÜM YÖNTEMLERİ Akım Ölçümleri GİRİŞ Bir akarsu kesitinde belirli bir zaman dilimi içerisinde geçen su parçacıklarının hareket doğrultusunda birçok kesitten geçerek, yol alarak ilerlemesi
DetaylıELM 331 ELEKTRONİK II LABORATUAR DENEY FÖYÜ
ELM 33 ELEKTRONİK II LABORATUAR DENEY ÖYÜ DENEY 2 Ortak Emitörlü Transistörlü Kuvvetlendiricinin rekans Cevabı. AMAÇ Bu deneyin amacı, ortak emitörlü (Common Emitter: CE) kuvvetlendiricinin tasarımını,
Detaylıİletken Düzlemler Üstüne Yerleştirilmiş Antenler
İletken Düzlemler Üstüne Yerleştirilmiş Antenler Buraya dek sınırsız ortamlarda tek başına bulunan antenlerin ışıma alanları incelendi. Anten yakınında bulunan başka bir ışınlayıcı ya da bir yansıtıcı,
DetaylıT.C. İSTANBUL ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
T.C. İSTANBUL ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK DEVRELER LABORATUARI I DENEY 4 MOSFET KARAKTERİSTİKLERİ AÇIKLAMALAR Deneylere gelmeden önce lütfen deneyle
DetaylıAkım ve Direnç. Bölüm 27. Elektrik Akımı Direnç ve Ohm Kanunu Direnç ve Sıcaklık Elektrik Enerjisi ve Güç
Bölüm 27 Akım ve Direnç Elektrik Akımı Direnç ve Ohm Kanunu Direnç ve Sıcaklık Elektrik Enerjisi ve Güç Öğr. Gör. Dr. Mehmet Tarakçı http://kisi.deu.edu.tr/mehmet.tarakci/ Elektrik Akımı Elektrik yüklerinin
Detaylı