İletimle Bağışıklık/Yayınım Testleri Öncesinde VNA Kullanılarak Doğrulama Ölçümlerinin Yapılması. Osman ŞEN 25/04/2019 TÜBİTAK UME

Ebat: px

Şu sayfadan göstermeyi başlat:

Download "İletimle Bağışıklık/Yayınım Testleri Öncesinde VNA Kullanılarak Doğrulama Ölçümlerinin Yapılması. Osman ŞEN 25/04/2019 TÜBİTAK UME"

Ata Ataseven
4 yıl önce
İzleme sayısı:

1 İletimle Bağışıklık/Yayınım Testleri Öncesinde VNA Kullanılarak Doğrulama Ölçümlerinin Yapılması Osman ŞEN 25/04/2019 TÜBİTAK UME

2 Örnek EMC Problemi 2

Elektromanyetik Girişim (EMI) Elektrik-elektronik ve elektromekanik sistemlerin

bulunan elektromanyetik enerji ile karşılıklı olarak birbirlerini etkilemeleri ve

çalışamaz hale gelmelerine, istenmeyen tepkiler vermesine veya hatalı işlemesine

3 Elektromanyetik Girişim (EMI) Elektrik-elektronik ve elektromekanik sistemlerin çalışırken açığa çıkardıkları elektromanyetik enerji ile veya ortamda mevcut bulunan elektromanyetik enerji ile karşılıklı olarak birbirlerini etkilemeleri ve bu etkileşim sonucunda sistemlerin çalışma performanslarında bozulma veya tamamen çalışamaz hale gelmelerine, istenmeyen tepkiler vermesine veya hatalı işlemesine yol açan radyo frekanslarında doğal veya insan kaynaklı her türlü bozucu etki, işaret ve emisyondur. 3

sistemlerden kaynaklanan girişime bağışıksa, Kendi

4 Elektromanyetik Uyumluluk (EMC) Bir cihaz, Diğer sistemlere girişimde bulunmuyorsa, Diğer sistemlerden kaynaklanan girişime bağışıksa, Kendi içinde girişime yol açmıyorsa elektromanyetik uyumlu demektir. 4

İletimle Yayınım Testi İletimle yayınım deneyi,

5 İletimle Yayınım Testi İletimle yayınım deneyi, cihazların güç portlarından 150 khz ve 30 MHz arası iletimle yayılan bozucu işaretlerin seviyesini tespit etmek amacıyla yapılmaktadır. clamps_tim_williams.pdf 5

LISN ve Kullanım Amacı Besleme tarafında, DAC ın tanımlı bir RF empedans (50 Ω) görmesini sağlamak Besleme şebekesinden gelebilecek EMI gürültüsünün

6 LISN ve Kullanım Amacı Besleme tarafında, DAC ın tanımlı bir RF empedans (50 Ω) görmesini sağlamak Besleme şebekesinden gelebilecek EMI gürültüsünün deney düzeneğine ulaşmasını engellemek DAC dan kaynaklanan EMI gürültüsünü, EMI alıcısına yönlendirmek ve şebekeye ulaşmasını engellemek LISN devresi 6

7 LISN Empedans Ölçüm Düzeneği LISN Ortak Mod Devresi LISN Farksal Mod Devresi Empedans Ölçüm Düzeneği Empedans Ölçüm Düzeneği 7

"Improved Just-Before-Test Verification Methods with VNA for Conducted EMC Tests ", IEEE

8 LISN Ölçüm Sonuçları Topraklama ile ilgili ölçüm düzenekleri Ortak Mod Empedansı Farksal Mod Empedansı 50Ω Yük ölçüm düzeneği Farksal Mod Empedansı Farksal Mod Empedansı Sen, O., Cakir, S. "Improved Just-Before-Test Verification Methods with VNA for Conducted EMC Tests ", IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2018, August:art. no (2018) :

İletimle Bağışıklık Deneyi İletimle bağışıklık

bozulmanın meydana gelip gelmediğinin tespit

9 İletimle Bağışıklık Deneyi İletimle bağışıklık deneyi, cihazların tüm hatlarına iletkenlik yoluyla kuple olan elektriksel sinyallere karşı, cihazların fonksiyonlarında herhangi bir bozulmanın meydana gelip gelmediğinin tespit etmek için 150 khz ve 230 MHz frekans aralığında uygulanır. 9

10 CDN ve Kullanım Amacı Daha tekrarlanabilir sonuçlar için, DAC ın tanımlı bir ortak mod empedans (150 Ω) görmesini sağlamak. Uygulanan bozucu sinyalleri, DAC a yönlendirmek, bozucu sinyallerin yardımcı test cihazları ve diğer cihazları ulaşmasını engellemek. CDN ortak mod empedansı M3 CDN devresi 10

11 CDN Empedans Ölçüm Düzeneği Empedans Ölçüm Düzeneği CDN Ortak Mod Devresi 11

"Improved Just-Before-Test Verification Methods with VNA for Conducted EMC Tests ",

12 CDN Ölçüm Sonuçları Topraklama ile ilgili ölçüm düzenekleri Ortak Mod Empedansı 50Ω Yük ölçüm düzeneği Ortak Mod Empedansı Sen, O., Cakir, S. "Improved Just-Before-Test Verification Methods with VNA for Conducted EMC Tests ", IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility 2018, August:art. no (2018) :

13 İletimle Bağışıklık Deneyinde Yalıtkan Destek Etkisi 13

14 Ölçüm Sonuçları Sen, O., Cakir, S., Acak, S. "More Insight into Conducted Immunity Tests and Investigation of Support Influences", Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), Seul (20-23/06/2017) : 3 p. 14

15 Teşekkür Ederiz. ÖLÇÜMİÇİN DOĞRUMERKEZ T: F:

Benzer belgeler

ASANSÖR KONTROL KARTLARININ ELEKTROMANYET

ASANSÖR KONTROL KARTLARININ ELEKTROMANYETĐK UYUMLUK TESTLERINDE KARŞILAŞILAN PROBLEMLER VE ALINABĐLECEK ÖNLEMLERE ÖRNEKLER Ersoy Özdemir Esim Test Hizmetleri A.Ş Đmes Sanayi Sitesi C blok 308. Sok. No