MİKROSKOP ve GÖRÜNTÜ ANALİZ SİSTEMLERİ IMAGIN

Transkript

1 MİKROSKOP ve GÖRÜNTÜ ANALİZ SİSTEMLERİ IMAGIN

2

3 IMAGIN MESURA 200 Fotoğraf çekme Arşivleme Görüntü geliştirme Kalibrasyon Temel ölçümler Manuel Faz Analizi Fotoğrafa Bilgi Notu Ekleme Excel e direkt veri transferi GRANO 200 Fotoğraf Çekme, Arşivleme Kalibrasyon ASTM E112 ve NF EN ISO 643 standartlarına göre tane boyutu ölçümü Hassas tane sınırları tespiti Excel e direkt veri transferi NODULA 200 Fotoğraf Çekme, Arşivleme Kalibrasyon Grafit nodüllerin şekil ve büyüklüklerine göre otomatik tespiti ve renklendirilmesi EN ISO 945 standardlanna gore dökme demir analizi Ferrite / Perlite oranı bulma Gelişmiş raporlama sistemi Excel'e direkt veri transferi MESURA 200 IMAGIN MESURA 200 kamera ile elde edilen görüntüler üzerinde analiz, ölçme ve değerlendirmelerin daha sağlıklı yapılabilmesi için birçok resim işleme fonksiyonunu içinde bulundurur. Elde edilen mikroyapı görüntüleri mevcut kayıtlı görüntüler ile karşılaştırmak mümkündür. IMAGIN MESURA 200 mikroyapı görüntüleri üzerinde; iki nokta arası uzaklık, alan, açı ovallik vb. gibi ölçümleri yapmanıza, kayıt edip arşivlemenize olanak sağlar. Kaynak uygulama değerlendirmeleri, makro analiz, PCB komponent ölçümleri gibi uygulama alanları için idealdir. Bilgi Notu ekleme özelliği sayesinde görüntü üzerine yorumlama, grafik, şekiller gibi eklemeler yapmak mümkündür. Bu sayede görüntü üzerinde isteğinize göre etiketleme yapılabilmektedir. IMAGIN MESURA 200 Tüm verilerinizin gözlemlenmek ve tekrar kullanılabilmek amacı ile bir yerde toplanmasını sağlar. Depolanmış tüm görüntü ve verilerinizden yeni çıkarımlar elde etmek için veri incelemeye olanak tanıdığı gibi dilerseniz METKON Standard Şablonlarını da kullanabilirsiniz. GRANO 200 İmaj analiz uygulamalarındaki müşteri gereksinimleri, endüstriyel araştırma sahalarındaki karmaşık malzeme uygulamalarına paralel olarak artmaktadır. IMAGIN GRANO ASTM E112 ve EN ISO 643 standartlarına göre otomatik tane boyutu ölçümü için tasarlanmıştır. Tane sınırı tespitinden sonra tane boyutu ölçümünü iki farklı yöntem ile hassas olarak ölçmek mümkündür. Intercept Metodu ile alan üzerindeki tane boyutlarında kesişmeler sayılarak tane boyutu ölçümü yapılır. Granulometry metodu ile tane sınırlarının renklendirerek tespiti ve tane boyutu ölçümü minimum, maksimum ve ortalama tane büyüklüklerinin hesaplanması mümkündür. NODULA 200 IMAGIN Modüler görüntü analiz yazılımları, müşteriye kendi gereksinimlerine göre sistemini seçmesi ve kurması için esneklik sunar. Gelişmeye ihtiyaç duyulduğunda daha fazla modül eklenebilir. IMAGIN NODULA 200 dökme demirlerdeki grafit analizi için ideal çözümdür. Grafit nodüllerin şekil ve büyüklüklerine göre otomatik tespiti ve renklendirilmesi, NF EN ISO 945 standartlarına göre dökme demir analizi, %Ferrit, % Grafit, % Perlit ölçümü mümkün olduğu gibi Ferrit / Perlit oranını da otomatik olarak vermektedir.

4 UPM 902 Üstten Aydınlatmalı Metalurjik Mikroskop Sipariş No : Kafa : Trinoküler, 30 eğimli, 360 döner. Oküler : WF10X/22mm. Mercek Yeri : 5-konumlu, ters çevrilmiş. Objektifler : 5x/0.15, 10x/0.3, 20x/0.45, 50x/0.55,100x/0.9 (kuru). Toplam Büyütme : 50x, 100x, 200x, 500x, 1000x. Odaklama Sistemi : Eş eksenli kaba ve hassas Tabla : Çift katmanlı mekanik hareketli tabla175x145 mm, hareket mesafesi 76x52 mm. Mercek : 0,7 N.A. Menteşeli tip, iris diyaframı ile birlikte, merkezlenebilir ve odaklanabilir. Aydınlatma : METKON XLED sistemi saat ömür. 6300K sıcaklık. 3.6W düşük enerji tüketimi. 50W standart halojen ampule eşdeğer ışık yoğunluğu. Ayarlanabilir parlaklık. Metalurjik Bağlantılar: Çok güçlü METKON XLED sistemi, ayarlanabilir parlaklık; alan ve açıklık diyaframları (merkezlenebilir), Basit kayar karanlık alan sistemi Filtreler : Mavi, polarize & analizör. Sipariş No: Ergonomik binoküler kafa Oküler EWF10x/22mm Oküler WF15x/16mm Oküler mikrometre EWF10x/22mm x76mm mikrometrik slayt. R:1mm, div:0,01mm IMAGINE HARDWARE SET bağlantı adaptörü IMM 901 Trinokuler Invert Tip Metal Mikrosobu Toplam Büyütme : 100 x x, Okulerler : WF 10x ( Çift ), Objektifler : 10x/0.25 (W.D. 6.7mm), 20x/0.40 (W.D. 0.76mm) 40x/0.65 (W.D. 0.67mm), 100x/1.25 (W.D. 0.3mm), Tabla : Hassas Mekanik Tabla 200 x 152 mm, 15 x 15mm hareketli kurs, Odaklama : Yatay Eksen üzerinde kaba/ince ayar (2mikron), Aydınlatma : 6V 20W ayarlanabilir Halojen Aydınlatma, Boyutlar : 540 x 195 x 320mm, 9 kg., Sip. No : Sipariş No: Okuler, WF 12.5X (IMM) Okuler, WF 10X, Skalalı (IMM) Kalibrasyon Skalası, 1mm 100 divizyon (IMM) GR 0415 Tane Büyüklüğü Oküleri ASTM E112 IMM 901 Trinokuler Invert Tip Metal Mikroskobu

5 IMM 902 Invert-Tip Metalurjik Mikroskop Sipariş No : Kafa : Trinoküler, 45 eğimli, Oküler : WF10X/22mm. Mercek Yeri : 5-konumlu, Objektifler : 5x/0.15, 10x/0.3, 20x/0.45, 50x/0.55. Toplam Büyütme : 50x, 100x, 200x, 500x. Odaklanma Sistemi : Eş eksenli kaba ve hassas Tabla : 250x230mm; mekanik tabla alçaltılmış ergonomik eş eksenli kontrol. X-Y Hareket Mesafesi : 120x80mm. Diyaframlar : Alan ve açıklık diyaframları (merkezlenebilir) Aydınlatma : 12V/50W harici kutu içerisinde halojen ampul Merkezlenebilir ampul ve ayarlanabilir aydınlatma. Filtreler : Mavi, polarize & analizör. Sipariş No: Metalurjik numuneler icin tutucu(15 mm açıklık) Manuel X-Y tablası, IMM Oküler WF15x/16mm Oküler mikrometre EWF10x/22mm x76mm mikrometrik slayt. R:1mm, div:0,01mm Objektif 100x/0, Objektif 100x/0, IMAGINE HARDWARE SET bağlantı adaptörü V/50W halojen ampul Özel koruyucu toz örtüsü, IMM 902 PST 901 Trinokuler Stereo - Zoom Mikroskobu Toplam Büyütme : 6.5x - 45x, Okulerler : WF 10x ( Çift ), Objektifler : 0.65x -.4.5x Trinokuler kafa ve ayarlanabilir kolon, Floresan ring aydınlatmalı, Boyutlar : 170 x 250 x 555mm, 6 kg., Sip. No : Opsiyonel Aksesuarlar Okuler, WF 10X, Skalalı (PST) Kalibrasyon Skalası, 5mm 100 divizyon (PST) Manuel X-Y Tablası Objektif, 0,5x PST 901 Trinokuler Stereo Zoom Mikroskobu

6 PST 902 Stereo Mikroskop Sipariş No : Optik Sistem : Kafa : Tabla : Oküler : Objektif : Çalışma Mesafesi : Fotoğraf/video Işık Hüzmesi Ayırıcısı : Aydınlatma : Paralel Optikler Binoküler 30 eğimli, 360 dönebilir Geniş Tabla, sabit kol tipi, LED aydınlatmalı, eş eksenli makro ve mikro odaklanma düğmeleri WF10x/22mm, yüksek göz noktası Zoom 0,8x...6,4x 80 mm. 1 port Halka tipi LED aydınlatıcı, sürekli ve harici aydınlatma kontrollü. Sipariş No: Oküler (çift) WF15x/15mm Oküler (çift) WF20x/12mm Mikrometrik oküler WF10x/22mm Objektif 0,3x(w.d. 280mm) Objektif 0,5x(w.d. 118mm Objektif 2x(w.d. 32,5mm IMAGINE HARDWARE SET bağlantı adaptörü Özel koruyucu cam, PST Temizleme kiti IPP 902 Polarize Laboratuvar Mikroskopu Sipariş No : Kafa : Oküler : Bertrand Merceği : Polarize Bağlantılar: Mercek Yeri : Objektifler : Toplam Büyütme : Odaklanma Sistemi : Tabla : Mercek : İletilen : Gelen ışık : Trinoküler, 30 eğimli, 360 döner. Oküler: WF10X/22mm. Menteşeli tip; merkezlenebilir (Conoscopy/Orthoscopy için) Polarize Bağlantılar: Mavi filtre, 0-90 döner analiz filtresi, l slip (birinci sınıf kırmızı), 1/4 l slip, kuvars kama 4-konumlu tüm objektifler için merkezleme mekanizmalı Iletilen ve gelen polarize ışık için 5x/0.15, 10x/0.25, 20x/0.40, 50x/0.70 Toplam Büyütme: 50x, 100x, 200x, 500x Eş eksenli kaba ve hassas 160mm çap; 360 dönebilir ve 0.1 skala 0,9 N.A., iris diyaframı ile birlikte, merkezlenebilir ve odaklanabilir, döner polarize filtre ile birlikte(menteşeli tip) LED sistem. LED sistem, entegre polarize filtreli polarize bağlantısı. Alan ve açıklık diyaframları. SiparişNo: Ergonomik binoküler kafa Oküler WF15x/16mm Oküler mikrometre EWF10x/22mm x76mm mikrometrik slayt. R:1mm, div:0,01mm x akromatik objektif Özel koruyucu toz örtüsü, IPP Mavi filtre, 45mm çap Green filter, 45mm diameter Yeşil filtre, 45mm çap Buzlu cam fıltre, 45mm çap Vizor lastiği (çift) IMAGINE HARDWARE SET baglantı adaptöru İmersiyon yağı, 10ml Temizleme kiti

7 Teknik Özellikler IMAGIN Hardware Set 5 megapiksel Cmos Kamera, Aktarım kablosu, Fotoğraf çekme,kalibrasyon yapabilme imkanı IMAGIN MESURA 200 Fotoğraf çekme, arşivleme, görüntü geliştirme iyileştirme, Kalibrasyon, temel ölçümler (uzunluk, genişlik, kalınlık, açı, çevre, alan v.b.), manuel faz analizi, fotoğrafa bilgi notu ekleme. Gelişmiş raporlama, Excel'e direk veri transferi. Bilgisayar hariç. 1 günlük eğitim dahil. Sip. No: IMAGIN GRANO 200 Fotoğraf çekme, arşivleme ve kalibrasyon. ASTM E112 ve EN ISO 643 standardlarına göre tane boyutu ölçümü, Intercept methodu ile hızlı ve hassas ölçüm kolaylığı. Tane sınırlarının hassas olarak tespiti. Imaj karşılaştırma metodu ile tane boyutu ölçüm ve G sonuçlarınınbulunması. Granulometry metodu iletane sınırlarının renklendirerek tespiti ve tane boyutu ölçümü.minimum, maximum ve ortalama tane büyüklüklerinin hesaplanması. Gelişmiş raporlama sistemi. Excel'e doğrudan veri transferi Bilgisayar hariç. 1 günlük eğitim dahil. Sip. No: IMAGIN NODULA 200 Fotoğraf çekme, arşivleme ve kalibrasyon.grafit nodüllerinin şekil ve büyüklüklerine göre otomatik tespiti ve renklendirilmesi, EN ISO 945 standardlarına göre dökme demir analizi, Ferrite / Perlite oranı bulma. Gelişmiş raporlama sistemi. Excel'e doğrudan data transferi Bilgisayar hariç.1 günlük eğitim dahil. Sip. No: Sistem Gereksinimleri Min. Windows XP yada Windows İdeal kullanım için Pentium 4 ve min 512 Mb Ram hafızası. * Diğer voltaj ve frekanslar isteğe göre düzenlenebilir. Siparişinizde lütfen belirtiniz. Bütün spesifikasyonlar belirtilmeden değiştirilebilir.

8 Metkon Endüstriyel Cihaz San. Tic. A.Ş. Demirtaş Organize San. Bölgesi Ali Osman Sönmez Cad. No: 14 Bursa / TÜRKİYE Tel: Fax: satis@metkon.com