X-IŞINI DİFRAKSİYON CİHAZI (XRD) TEKNİK ŞARTNAMESİ

Transkript

1 X-IŞINI DİFRAKSİYON CİHAZI (XRD) TEKNİK ŞARTNAMESİ Bu teknik şartnamede yer alan sistem, toz, katı, sıvı ve ince film hallerindeki örneklerde kantitatif ve kalitatif analizleri yapacaktır.dalga boyu dağılımlı olacak, malzemeleri tanımlayacak, minerallerin kristal yapılarını ve özelliklerini belirleyecek, metal veya benzeri yüzeylerin kaplamalarında kaplama kalınlığı ölçümünü ve faz karakterizasyonu gerçekleştirecek, impurite tespiti yapabilecek, kristalamorf faz oranları belirleyebilecek, stres,tekstür ve pol figür analizlerini yapabilecektir.sistem ile dar açılı x ışını saçılımı (SAXS) analizleri de gerçekleştirilebilecektir. GENEL ÖZELLİKLER 1- Cihazın kullanımı ve bakımı ile ilgili dokümanlar (kullanma kılavuzu, kullanma talimatı, katalogları vb.) orjinalleri ile birlikte eksiksiz olarak verilmelidir. 2- Cihaz, firma personelince, alıcının göstereceği yere kurulmalı, ve firma temsilcisi, farklı matriksler için standart validasyon numuneleri deneyerek cihazın güvenli sonuç verdiğini interferansları giderdiğini deneysel olarak yerinde kanıtlamalı ve sonrasında çalışır ve kullanıma hazır vaziyette teslim etmelidir. 3-Cihaz, katalogunda belirtilen standart aksesuarları, bağlantı parçaları, bağlantı kabloları ve emniyetli çalışması için gerekli aksesuarları ile eksiksiz olarak verilmelidir. 4-Cihazla ilgili yapım ve işçilik kusurları bulunmamalıdır. Tüm donanımları ve bu donanımlarda kullanılacak cihaz ve malzemeleri ile birlikte yeni ve kullanılmamış, bütün yüzeyleri düzgün, yüzeylerde çapak, pürüz, çatlak, boşluk, ezik, boya kabarcığı gibi imalat hataları bulunmamalıdır. Ambalajdan çıkan bozuk, arızalı ve deformasyona uğramış tüm malzemelerin sorumluluğu firmaya ait olacaktır. 5-Tedarik edilecek tüm donanım 220±%10 Volt AC, Hz frekans ile çalışmalı, güç ihtiyacı için başka bir ara birim gerektirmeyecek özellikte olmalıdır. Gerekiyorsa topraklama, kablo çekme gibi işlemler yüklenici firma tarafından gerçekleştirilecektir. 6- Cihaz üretim işçilik ve hatalarına karşı kati kabul tarihinden itibaren en az 2(iki) yıl süre ile garanti kapsamında olmalıdır. Garanti süresince arızalanan parçalar, cihaz ile verilen yedek parçalar kullanılmaksızın ücretsiz değiştirilmelidir. 7- Oluşabilecek herhangi bir probleme, firma 48 saat içinde müdahale etmelidir. 8-Yüklenici firma, garanti süresi bitiminden itibaren geçerli olmak üzere, ücreti karşılığı 10 (on) yıl süre ile servis ve yedek parça sağlamayı garanti etmelidir. 9-Tüketici hakları kapsamında, aynı teknik arızanın garanti süresi boyunda 3(üç) kez tekrar etmesi durumunda cihaz yenisiyle ücretsiz olarak değiştirilmelidir. 10- Garanti süresince cihazda önemli bir teknik hata tespit edilirse, cihazın en az şartnamede belirtilen özelikleri taşıyan yeni bir cihaz ile değiştirilmesi talep edilir. 11-Cihaz üzerinde imalatçı firma adı, model numarası ve seri numarası yırtılmaz ve silinmez etiket olmalıdır. 12-Teklif veren firma, TSE Teknik Servis Hizmet Yeterlilik Belgesine sahip olmalı ve bu belgelerin noter tasdikli örneklerini tekliflerine eklemelidir.

2 TEKNİK ÖZELLİKLER A-KONFİGÜRASYON Cihaz, aşağıda verilen kısımlardan oluşmalı ve firmanın ürettiği en son ve en üst model olmalıdır. 1- X-Işını Difraksiyon Cihazı 2- X-Işını Jeneratörü(En az 3kW gücünde) 3-.X-Işını Tüpü 4- Gonyometre(Dikey) 5- Dedektörler 6- X-Işını Optikleri 7- Numune Platformu ve Numune Tutucular 8- Veri Değerlendirme Ünitesi, Veri yazıcı 1-1 X-IŞINI DİFRAKSİYON CİHAZI: Cihaz, üretici firmanın çıkarmış olduğu en yeni ve üst versiyon Dikey Gonyometreli bir XRD sistemi olmalıdır Cihaz tamamen modüler yapıda olmalı ve tekrar kalibrasyon gerektirmeksizin kullanıcı tarafından istenilen şekilde düzenlenebilmelidir. Cihaz ve soğutma ünitesini besleyecek uygun güçte bir kesintisiz güç kaynağı (UPS) da sağlanmalıdır Cihazın tüm işlem parametreleri, X-ışını tüp akımı, voltajı ve gücü difraktometrenin yazılımı ile tamamen kontrol edilebilmelidir Cihaz, istenildiğinde yüksek sıcaklık ve rutubet kontrollü numune tutucu ünitelerin ilavesine imkan sağlamalıdır Cihaza eklenen tüm parçalar, ilave edildikten sonra herhangi bir ayara gerek olmadan direkt olarak çalıştırılabilmeli ve analize başlanabilmelidir. Hiçbir şekilde tekrar doğrusallık ayarı (alignment) gerekmemelidir. Cihaza eklenen programlanabilir parçaların ayrıca cihaza her seferinde tanıtılmasına gerek olmamalıdır. 1.2 X-IŞINI JENERATÖRÜ X ışını jeneratörünün gücü en az 3 kw olacaktır X ışını jeneratörünün voltajı kv arasında, en az 1 kv luk adımlarla ayarlanacaktır X ışını jeneratörünün akımı ma arasında en az 2 ma lik adımlarla ayarlanacaktır Cihazın voltaj değişmelerine ve su basıncındaki düşmelere karşı otomatik koruması olacaktır Cihaz, Avrupa radyasyon, elektrik ve mekanik güvenlik standartlarına tamamen uygun olacaktır Cihazla birlikte cihazın çalışması için gerekli tüm hardware (harici sirkülasyonlu soğutma ünitesi, bilgisayar.vb gibi) ve software programları sağlanmalıdır. 1.3 X IŞINI TÜPÜ Cihazla birlikte birer adet Bakır anotlu ve Cobalt anotlu Ni Beta filtreli X-ışını tüpü sağlanmalıdır. X-ışını tüpü en az 1,8 kw gücünde olmalı ve hem çizgi (line focus) hem de nokta (point focus) odaklı olarak çalıştırılabilmelidir X-ışını tüplerinde çizgi odaklamadan nokta odaklamaya geçilirken kabloların sökülüp takılmasına gerek olmamalı ve işlem çok kolaylıkla yapılabilmelidir. Gerekiyor ise nokta odak çevrim düzeneği teklif edilmelidir.

3 1.4 GONYOMETRE Dikey durumda Ө - Ө modunda çalışacaktır (Ө - 2Ө) eksenindeki en küçük adım büyüklüğü en az olacaktır Açısal tekrarlanabilirliği en az +/ olacaktır Gonyometre çapı en az 480 mm olmalıdır Gonyometre tarama hızı /dak ve 70 /dak arasında olmalıdır. Ayrıca bir açıdan diğer açıya geçiş hızı en az 500 o /dak olmalıdır Gonyometre tam otomatik olmalı ve tüm fonksiyonları bilgisayar tarafından kontrol edilmelidir Değişik optik komponentlerin değişiminden sonra kesinlikle herhangi bir ayar veya alignment gerekmemelidir Gonyometre tarama hızı, slit parametreleri, pik yükseklik analizi (PHA) değerleri bilgisayar tarafından otomatik olarak optimize edilmeli ve ölçüm otomatik olarak yapılmalıdır. 1.5 DETEKTÖRLER Sistemle birlikte bir adet katı hal tipinde piksel tabanlı (veya aynı çözünürlüğe sahip alternatif bir teknikle üretilmiş) olarak çalışan, ayrı bir soğutma ve bakım gereksinimi olmayan hızlı dedektör verilmelidir Sistemle birlikte verilen dedektör piksel (64 mikron x 64 mikron piksel çapı veya daha küçük piksel boyutu) veya muadili teknoloji ile üretilmiş olan, 0D modda iken noktasal dedektör olarak, 1D modda iken çizgisel dedektör ve 2D modunda ise alansal dedektör olarak 2 boyutlu Debye halkalarının gözlenmesinde kullanılabilmelidir. Firmalar 0D, 1D ve 2D çalışmalarını tek bir dedektör ile yapamıyor ise her bir boyutu kapsayacak birden fazla dedektör teklif etmelidirler. 2D çalışmaları için teklif edilen dedektör yukarıda belirtilen piksel özelliklerinde olmalıdır Eğer sistemde doğrultu ayarı için bir noktasal dedektör gerekli ise (sintilasyon veya oransal tipte) ikinci bir dedektör de ilave olarak verilecektir. 1.6 X-IŞINI OPTİKLERİ Sistemde hem X-ışını tüpü önünde hem de dedektör önünde programlanabilir otomatik slit düzenekleri bulunmalıdır. Böylece miktarsal analizlerde X-ışını uygulanan numune alanı değişmeyeceği için doğruluk arttırılmalıdır Sistemle birlikte 0.04rad lık soller slitler verilmelidir Metal veya diğer yüzeyler üzerine yapılan kaplamaların analizlerinde kullanılacak ince film çalışmaları için 1 adet 0.27 derecelik paralel kolimatör ve nikelden yapılmış geniş bir filtre verilmelidir. Veya firmalar aynı uygulama için kendi tavsiye edecekleri optik bileşenleri temin etmelidir Sisteme ileride istenildiğinde, yüksek çözünürlüklü ince film ve toz çalışmaları için 2 sekme ve 4 sekme Ge monokromatörler takılabilmelidir Sistem ile birlikte SAXS analizi için gerekli optik bileşenleri verilmelidir Sistem ile birlikte tekstür analizleri için uygun özellikte kolimatör veya uygun optik bileşenler verilmelidir Sistem ile birlikte kaplama kalınlığı ölçümlerinde kullanılmak üzere reflektivite analiz yazılımı ve optik bileşenleri verilmelidir.

4 1.6.8 Sistem başka bir yardımcı araca ve programa ihtiyaç duymadan derinliğine x- ışını profil analizi (depth-profile analysis) yapabilmelidir. 1.7 NUMUNE PLATFORMU VE NUMUNE TUTUCULAR Cihazla birlikte bir adet dönme hızı ayarlanabilen ve değişik tip, şekil ve miktardaki numunelerin analizinde kullanılan tutucuların konulduğu hem transmission hem de reflection modlarında kullanılabilen numune kompartmanı verilmelidir. İki geometriyi aynı anda kullanamayan sistemlerde reflection ve transmission için 2 adet ayrı ataşman verilecektir Cihazla birlikte 3 set olarak toz örneklerin konulacağı toz numune tutucu verilmelidir. Ayrıca bu numune tutuculara toz numunelerin en uygun şekilde konulmasını sağlayacak özel toz numune hazırlama aparatı verilmelidir Cihazla birlikte tablet veya film formunda örnek alabilen 3 adet numune tutucu verilmelidir. 4cm*4cm genişliğinde ince film numunelerinin yerleştirilebileceği bir beşik mutlaka yer almalıdır.( Cihaz 1 nanometreden 100 mikrometreye kadar penetrasyon yapabilmelidir.) Cihazla birlikte az miktardaki toz veya katı numunelerin analizinde kullanılacak tek kristal silikondan mamul düşük background değerine sahip 2 adet numune tutucu verilmelidir Sistem ile birlikte oda sıcaklığı ile 1600 santigrat derece arasında çalışma yapabilecek yüksek sıcaklık ataşmanı ve ekipmanları verilmelidir. Yüksek sıcaklık ataşmanında sıcaklık ile numunenin yüksekliğinde (z ekseninde) oluşacak artış veya azalmalar otomatik olarak kompanse edilmelidir. Sistem CE belgeli olmalıdır. Bu ataçmanla birlikte vakum altında çalışmayı sağlayacak vakum sistemi verilmelidir Cihazla birlikte Stress ve Texture analizlerinde 3-eksende (Chi, Phi ve z) tam otomatik software kontrollü olarak ayarlanabilinen bir numune beşiği (Cradle) verilmelidir.( Numune beşiği minumum 54 mm*54 mm*110 mm ölçülerindeki bir örneği alabilecek boyuta sahip olmalıdır.) 1.8 VERİ DEĞERLENDİRME ÜNİTESİ, VERİ YAZICI Veri değerlendirme ünitesi (1 adet) : Cihaz ile birlikte uygun özellikte bir bilgisayar ve yazıcı ünitesi verilmelidir Cihazı kontrol eden yazılım; otomatik olarak difraksiyon paternini inceleyecek, faz tanımlamaları, rietveld, kristal/amorf oranı, yarı kantitatif ve kantitatif analizini yapacaktır Sistemle birlikte verilecek yazılım ile Rietveld ile modelleme esaslı miktar tayini yapılabilmeli ve bunun için gerekli yapısal veri bankasını da içeren özel kristal kütüphanesi (PDF-4 veya muadili en az 300,000 adet hem arama/bulma hem de Rietveld analizinde kullanılan yapısal veri bulunan kütüphane) de sağlanmalıdır. Verilecek olan kütüphane uluslar arası yayınlar yapılabilecek nitelikte olmalıdır ve lisans yenilemesi gerekiyor ise en az 5 senelik lisansları ile birlikte verilmelidir. Lisans bitimi sorunu olmayan kütüphaneler tercih sebebi olacaktır. Kütüphane en az iki ayrı bilgisayarda çalışabilmelidir. Bunun için ikinci kütüphane de 5 senelik lisansı ile birlikte verilmelidir Cihazı kontrol eden yazılım, difraksiyon bilgilerini MS-Excel XML formatında saklayacak, işleyecek ve paylaşacaktır Cihazla birlikte verilecek tüm veri analiz software programları (Kalitatif, Cyrstal Ratio, Rietveld, Stress, Texture, SAXS) en az 10 kullanıcı için lisanslı olacak ve cihazdan alınan veriler başka bilgisayarlarda analiz edilebilecektir.

5 B.YEDEK MALZEMELER VE YARDIMCI CİHAZLAR 1. Bilgi İşlem Ünitesi (Özellikleri aşağıda belirtilmiştir.) 1.1. Bilgi İşlem Ünitesi İşlemci En az Intel Core 3.40GHz veya üstü performansa sahip işlemci bulunmalıdır Ana Bellek Sistemde en az 8 GB 1666MHz DDR3 veya üstü performanslı bellek bulunmalıdır Monitör Monitör, işletim sistemi tarafından, bilgisayar üreticisinin marka ve modeliyle tanınmalıdır. Daha sonradan etiket veya boya ile markalama yapıldığı anlaşılan ürünler kabul edilmeyecektir. Ekran boyutu en az 24 olmalıdır. Ekran, geniş ekran standartlarında 16:10 veya 16:9 oranında olmalıdır. Ekran en az 1080 yatay çizgi gösterecek doğal çözünürlüğe sahip olmalıdır. Tepki süresi en fazla 5 ms olmalıdır Sabit Disk En az 2 TB kapasiteli 7200 devir SATAII HDD bulunmalıdır Ağ Arabirimi Sistemde Gigabit Ethernet bulunmalıdır Kasa En az gerçek 320W gücünde, en az %80 verimle çalışan, Aktif PFC li güç kaynağına sahip olmalıdır Ekran Kartı Sistem üzerinde PCIe x16, 1GB bellekli, 256 bit, DirectX 11 ve OpenGL destekli ekran kartı bulunmalıdır veya ürün ile birlikte kutulu olarak verilmelidir Diğer Sistem ile aynı marka Q Türkçe klavye ve optik mouse verilmelidir. Sistem üzerinde Dual-Layer DVD yazıcı bulunmalıdır. Sistem üzerinde en az 20 değişik kartı okuyabilen dahili kart okuyucu olmalıdır. Sistem en az 4 kanal ses kartına sahip olmalıdır. Sistemin ön ve arka USB girişleri bulunmalıdır İşletim Sistemi Donanım ürünleri ile birlikte, işletim sistemi OEM Windows 7 Home Basic olarak teklif edilecek, kurum tarafından sağlanacak Windows 7 Pro Akademik yükseltme lisans ürünü ile yükseltmesi ve aktivasyonları yapılacaktır. Üretici firma tarafından duyurusu yapılmış olan, işletim sisteminin tüm yama sürümleri (güvenlik, servis paketi gibi) yüklü gelecektir. 2. XRD cihazını, Soğutma Ünitesini ve Bilgi İşlem Ünitesini besleyecek uygun güçte bir kesintisiz güç kaynağı (UPS) bulunmalıdır. C.KALİBRASYON 1- Cihaz ve cihazla birlikte verilecek aksesuar için gerekiyorsa ISO17025 standardına uygun yeterlilik belgesine sahip kalibrasyon laboratuarlarınca düzenlenmiş kalibrasyon sertifikası verilmelidir. 2- Cihazın dahili kalibrasyonu ve doğrulaması için gerekli tüm sertifikalı kalibrasyon standartları ve sertifikalı referans numuneler verilmelidir. Bu sertifikalar izlenebilirlik zinciri içersinde değerlendirilebiliyor olmalıdır. Bu maddelere ait üretici firma tarafından üretim tarihi, son kullanma tarihi, saklama koşulları, Güvenlik bilgi formları vb. verilmelidir. 3-Cihazın ölçüm belirsizliği değerleri ve bunları gösterir raporlar sunulmalıdır.

6 4-Cihazın ölçüm belirsizliği ile ilgili en az üç deney yapılmalı ve cihazın çalışır durumda olduğu ve belirsizliği belgelenmelidir. Elde edilecek sayısal değerlere ait kesinlik, rölatif standart sapma (RSD) veya güven aralığı değerleri aynı raporda belirtilmelidir. 5-Cihazın üzerinde kalibrasyon etiketi bulunmalıdır. 6-Cihaz veya cihazla birlikte verilen aksesuarlar için gerekiyorsa ilk bir yıl sonundaki kalibrasyonların yetkilendirilmiş kalibrasyon laboratuarlarınca yerinde veya dışarıda yapılmasına ait masraflar firma tarafından karşılanmalıdır. 1.2.EĞİTİM VE KURULUM Cihazın kurulumu ve teslimi aşamasında firma tarafından cihazın kullanımı ve bakımı ile ilgili uygulamalı ön eğitim verilmelidir. Bu ön eğitimi müteakip firmanın uzman personeli tarafından toplamda en az 15 gün süresince Rietveld analizi de dahil olmak üzere cihazın tüm uygulamaları hakkında detaylı eğitim verilmelidir. Bu eğitimler her seferinde 3 günden az olmamak üzere kullanıcı ile mutabık kalınarak parçalar halinde istenilen zamanlarda aralıklarla verilecektir Firmanın söz konusu eğitimi verme yeterliliği ve belgesi (eğitici belgesi) ibraz edilmelidir Verilen eğitimler ile ilgili olarak katılımcılar adına ayrı ayrı eğitime katılım belgesi veya eğitim sertifikası verilmelidir Sistem ile birlikte stres, tekstür, SAXS ve toz uygulamaları için ayrı ayrı referans ve doğrulama numuneleri verilmelidir Cihazının kurulumu için gerekli tüm elektriksel donanım (kablo, priz, topraklama vb.) yüklenici firma tarafından sağlanmalıdır Cihazın yerleştirileceği yerdeki koşulların, cihazının çalışmasına uygun hale getirilmesi için gereken tüm işlemler yüklenici firma tarafından üstlenilecektir.