1.ELEKTRON TARAMALI MİKROSKOP (SEM)
|
|
- Soner Ilkin
- 8 yıl önce
- İzleme sayısı:
Transkript
1 1 1.ELEKTRON TARAMALI MİKROSKOP (SEM) İnsan gözünün çok ince ayrıntıları görebilme olanağı sınırlıdır. Bu nedenle görüntü iletimini sağlayan ışık yollarının merceklerle değiştirilerek, daha küçük ayrıntıların görülebilmesine olanak sağlayan optik cihazlar geliştirilmiştir. Ancak bu cihazlar, gerek büyütme miktarlarının sınırlı oluşu gerekse elde edilen görüntü üzerinde işlem yapma imkânının olmayışı nedeniyle araştırmacıları bu temel üzerinde yeni sistemler geliştirmeye itmiştir. Elektronik ve optik sistemlerin birlikte kullanımı ile yüksek büyütmelerde üzerinde işlem ve analizler yapılabilen görüntülerin elde edildiği cihazlar geliştirilmiştir. Elektrooptik prensipler çerçevesinde tasarlanmış taramalı elektron mikroskobu (Scanning Electron Microscope-SEM), bu amaca hizmet eden cihazlardan birisidir. Taramalı Elektron Mikroskobu, birçok dalda araştırma-geliştirme çalışmalarında kullanımı yanında, mikro elektronikte yonga üretiminde, sanayinin değişik kollarında hata analizlerinde, biyolojik bilimlerde, tıp ve kriminal uygulamalarda yaygın olarak kullanılmaktadır. İlk ticari taramalı elektron mikroskobu 1965'de kullanılmaya başlanmış, bundan sonra teknik gelişmeler birbirini izlemiştir. Taramalı Elektron Mikroskobunda (SEM) görüntü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli girişimler sonucunda meydana gelen etkilerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sinyal güçlendiricilerinden geçirildikten sonra bir katot ışınları tüpünün ekranına aktarılmasıyla elde edilir. Modern sistemlerde bu algılayıcılardan gelen sinyaller dijital sinyallere çevrilip bilgisayar monitörüne verilmektedir. Gerek ayırım gücü (resolution), gerek odak derinliği (depth of focus) gerekse görüntü ve analizi birleştirebilme özelliği, taramalı elektron mikroskobunun kullanım alanını genişletmektedir. Örneğin 1000X büyütmede optik mikroskobun odak derinliği yalnızca 0.1 µm iken taramalı elektron mikroskobunun odak derinliği 30 µm. dir. Tablo 1 de ışık mikroskobu ile elektron mikroskobu özellikleri bakımından karşılaştırılmıştır.
2 2 Tablo 1. Mikroskopların farklı özellikleri Işık Mikroskobu Elektron Mikroskobu Aydınlatma Kaynağı Görünür ışınlar (λ=550 nm) Elektron demeti (λ=0.005 nm) Çözünürlük 0.25µm 0.05nm Max büyütme 1400X X Günümüzde modern taramalı elektron mikroskoplarının ayırım gücü 0,05 nm'ye kadar inmiştir. Büyütme miktarı ise 5X X arasında değişmektedir. ASELSAN MGEO Ürün Kalitesi Direktörlüğünde, X büyütme gücüne sahip JEOL 6400 model Taramalı Elektron Mikroskobu ve Tra cor Series II model EDS (Energy-Dispersive Spectroscopy) analiz ünitesinden oluşan bir sistem bulunmaktadır (Şekil.1). Şekil 1. Taramalı elektron mikroskobu
3 Çalışma Prensibi Taramalı Elektron Mikroskobu Optik Kolon, Numune Hücresi ve Görüntüleme Sistemi olmak üzere üç temel kısımdan oluşmaktadır (Şekil 2). Optik kolon kısmında; elektron demetinin kaynağı olan elektron tabancası, elektronları numuneye doğru hızlandırmak için yüksek gerilimin uygulandığı anot plakası, ince elektron demeti elde etmek için yoğunlaştırıcı mercekler, demeti numune üzerinde odaklamak için objektif merceği, bu merceğe bağlı çeşitli çapta apatürler ve elektron demetinin numune yüzeyini taraması için tarama bobinleri yer almaktadır. Mercek sistemleri elektromanyetik alan ile elektron demetini inceltmekte veya numune üzerine odaklamaktadır. Tüm optik kolon ve numune 10-4 Pa gibi bir vakumda tutulmaktadır. Görüntü sisteminde, elektron demeti ile numune girişimi sonucunda oluşan çeşitli elektron ve ışımaları toplayan dedektörler, bunların sinyal çoğaltıcıları ve numune yüzeyinde elektron demetini görüntü ekranıyla senkronize tarayan manyetik bobinler bulunmaktadır. Şekil 2. Taramalı elektron mikroskobunun şematik görünüşü
4 Demet Numune Etkileşimi ve Sonuçları Yüksek voltaj altında ivmelendirilen elektron demeti ile numune arasındaki etkileşim sonuçları Şekil 3'de şematik olarak gösterilmektedir. Bu girişim hacmi su damlası görünümü olarak tanımlanır. Yüksek enerjili demet elektronları numune atomlarının dış yörünge elektronları ile elastik olmayan girişimi sonucunda düşük enerjili Auger elektronları oluşur. Bu elektronlar numune yüzeyi hakkında bilgi taşır ve Auger Spektroskopisinin çalışma prensibini oluşturur. Yine yörünge elektronları ile olan girişimler sonucunda yörüngelerinden atılan veya enerjisi azalan demet elektronları numune yüzeyine doğru hareket ederek yüzeyde toplanırlar. Bu elektronlar ikincil elektron (seconder electrons) olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune odasında bulunan sintilatörde toplanarak ikincil elektron görüntüsü sinyaline çevrilir. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır. (a)
5 5 (b) Şekil 3. Elektron demeti ile numune arasındaki etkileşim Şekil 4' de bronz toz numunesinin topografik görüntüsü görülmektedir. Ayrıca numune atomları ile elektron demeti arasında elastik olmayan girişimler sonucu numunede karakteristik X-ışınları ve sürekli ışımalar da meydana gelmektedir. Karakteristik ışımalar, dalga boyu veya enerji dağılımlı X-ışını analitik sistemlerde değerlendirildiğinde, numunenin kimyasal bileşimi hakkında bilgi vermektedir. Bu yöntem Elektron Mikroskop Analizi olarak bilinir. Şekil 4. Toz metalurjisinde kullanılan bronz tozlarının küçük ve yüksek büyütmelerde topografik görüntüsü
6 6 Numune üzerine odaklanan elektron demeti, numune atomları ile ayrıca elastik girişimlerde de bulunabilir. Bu girişimlerde demet elektronları, numune atomlarının çekirdeğinin çekim kuvveti ile saptırılarak numune yüzeyinden geri saçılmaktadır. Bu elektronlar geri saçılmış (back scattered) elektronlar olarak tanımlanır ve objektif merceğin altında yer alan özel üç adet silikon dedektörde (A, B, C) toplanarak görüntü oluşumunda kullanılır. Böyle bir görüntü geri saçılmış (back scattered) elektron görüntüsü olarak tanımlanır. Geri saçılmış elektron miktarı, numunenin atom numarasıyla orantılıdır. Bu nedenle geri saçılmış elektron görüntüsü özellikle çok fazlı sistemlerde atom numarası farkına dayanan kontrast içerir. Geri saçılmış elektron dedektöründe sinyaller toplandığında (A+B) atom numarası kontrastına bağlı kompozisyon görüntüsü elde edilir. Eğer sinyal farkı alınarak görüntü elde edilirse (A-B), topografik bileşim görüntüsü oluşur. Ayrıca üçüncü algılayıcı (C), bir açı altında tutulup sinyaller toplandığında (A+B+C) gölge görüntüsü (shadow) de elde edilir. Söz konusu görüntü türlerine örnek Şekil 5' de verilmiştir. Geri saçılmış elektronlar, ikincil elektronlara göre numune yüzeyinin daha derin bölgesinden geldiği için görüntünün ayırım gücü düşük olmaktadır. Bu nedenle geri saçılmış elektron görüntüleri en fazla x2000 büyütmeye kadar olan incelemelerde kullanılmaktadır. a. İkincil elektron görünt b. Kompozisyon görüntüsü Topografik görüntü d.gölge görüntüsü Şekil 5. PbO sıvı fazında sinterlenmiş ZnO kristalleri
7 Numune Hazırlama SEM içinde incelenen numuneler iletken olanlar ve olmayanlar şeklinde iki kategoriye ayrılabilir. Numune hazırlama esnasında hesaba katılabilecek faktörler aşağıda verilmiştir: 1. Numunenin büyüklüğü (gerekirse), numuneyi koyacak veya tutacak yere (holders and stages) uyması için küçültülmelidir. 2. Madde SEM içindeki yüksek vakuma karşı koyabilmelidir. Maddenin şekil değişmemeli ve fazla gaz çıkarmamalıdır. Burada soğuk stage yardımcı olabilir. 3. Numune temiz, tozsuz, lekesiz ve yağsız olmalıdır. (Bunların oluşu yük birikimi ve kirlenme etkilerine yol açabilir.) 4. Numunenin altınla kaplanması gibi şeyler ikincil ürünün (secondary yield) az miktarlarda kullanıldığında daha iyi olmasını sağlayabilir. 5. Hazırlama işlemlerinden dolayı yüzey yapının herhangi bir zarar görmesi bazı yüzeysel ayrıntılara yol açacaktır ve bunlar resimleri kaydetme aşamasındaki büyüklükte anlaşılmaya çalışılmalıdır. 6. Ortaya çıkan sonucun hazırlama işleminden dolayı olduğuna şüpheleniliyorsa kontrol numunesi kullanılmalıdır. 7. Numune stub'ı (holder) yer potansiyeli iyi bir elektrik temasında olmalıdır. 8. Numunenin yüzeyi ile numunenin stub'ı arasında iyi bir elektrik teması olmalıdır. Mesela numuneye gümüş-dag gibi iletken boyalar sürülür ve gerekirse numune yeteri kadar kaplanır. 9. Numune stub'ı mümkün olduğunca az backscattered ve secondary elektronlara yol açmalıdır. Genellikle alüminyum stub'lar kullanılır, X ışını mikroanaliz uygulamalarında karbon stub'lar kullanılabilir. 10. Küçük parçacıklar en az background sinyal vermesi için mass foil'e çok iyi monte edilir. Mesela alüminyum halkası üzerinde uzanan naylon film gibi. 11. Numune, numune tutucusuna (stub) iliştirilmeli; böylelikle elektron ışınına maruz bırakıldığında hareket etmez. 12. Mevcut aşama hareketlerini (yan yatırmak, döndürmek, X, Y, Z) kullanılarak bütün yüzeyin çalışılabilmesi için numune, numune tutucuya (stub) iliştirilmelidir.
8 İletkenler ve iletken olmayanlar İletkenler İki gruba ayrılabilir: Metaller: Genellikle mükemmel iletkenlikleri vardır ve hazırlığa ihtiyaçtan yoktur ohm'dan daha az bir rezistans ile yan-iletken numuneler hazırlıksız incelenebilir. İletken olmayanlar Bu grup elektriksel iletkenliği olmayan tüm numuneleri içine alır. Mesela fiberler, plastikler polymerler, ohm'dan daha büyük bir rezistans ile yan-iletken gibi. Bunlar uçucu ihtiva etmezler. Biyolojik ve botanik numuneler genellikle uçucu ihtiva ederler Uçucu olmayanlar, iletken olmayanlar Düşük hızlandırma voltajı kullanılmadan ve numuneyi kaplamasız bırakmadan uygun bir çözünme (resulasyon) elde etmek mümkün değilse şunlar uygulanır: Çoğu uçucu olmayan element ihtiva eden iletken olamayanlar (örnek su) vakum sistemi içinde outgas verecek. Uçucu olmayan element ihtiva eden iletken olmayanları Au, C, Au/Pd, Al gibi birçok ince iletken araç tabakası ile kaplamak yeterlidir. Bu tabaka tipik olarak nm kalınlığındadır. Bunun için bazı sebepler vardır: Numunenin artmış iletkenliği; böylelikle numunenin yüklenmesi en aşağı iner ki bu olay elektron demetinin başka yere yansımasına ve son resmin kötü çıkmasına yol açabilir. Yükselmiş ısınma durumuna bağlı olarak numunenin yükselmiş mekanik kararlılığı (stability). Primary ve secondary elektron yayılımın (emission) artması. Elektron demetinin nüfuz etmesindeki azalma; daha iyi spatial çözünmeye (resulasyon) yol açacak. Şu anda kullanılan iki önemli kaplama tekniği vakum evaporation ve iyon sputtering'dir. Altın genellikle şu sebeplerden dolayı kullanılır: Yüksek secondary yayılma co-efficient. Elektronların ve sıcaklığın yüksek iletkenliği. Oksitlenmezligi.
9 9 Evaporited(buharlaştırılmış) yada sputtered parçacıkların iyi taneli olması. Evaporation'la karbon kaplama genellikle X-ışını mikro analizindeki numune üzerine yapıldığı zaman çalışılan madde karbon içermediği takdirde kullanılabilir. Eğer madde karbon içeriyorsa bu durumda alüminyum kullanılabilir. Daha geçenlere kadar taneciği az olduğu için Pt/Pd ve Au/Pd kullanılırdı. Alüminyumda kullanılabilir. Fakat alüminyumun düşük mekanik kuvveti vardır ve oksitlenebilir SEM'de İncelenecek Numunenin Maksimum Boyutları ve Özellikleri SEM' de analiz yapılacak numunenin maksimum boyutları: Eni: max. 7.5 cm Boyu: max. 7.5 cm Yüksekliği: max. 1.5 cm, olmalıdır. Şekil 6. Analiz yapılacak numunenin maksimum boyutları SEM' de incelenecek numunenin maksimum boyutları: Eni: max. 7.5 cm Boyu: max. 7.5 cm Yüksekliği: max. 2 cm, olmalıdır.
10 10 Şekil 7. İncelenecek numunenin maksimum boyutları 1.5. SEM de Yapılan Uygulamalar Bir örnek üzerinde açıklayacak olursak; üretimde kullanılan yongalar optik mikroskop altında önceden belirlenmiş hata kriterlerine göre denetlendikten sonra üretime girmektedir. Gerek donatıcı firmalarda yapılan kaynağında denetim, gerekse ASELSAN'da yapılan giriş kalite denetimlerinde birtakım hataların kabul/red kararları optik mikroskop görüntüsü ile verilememektedir. Bu gibi tartışmalı durumlarda elektron mikroskobu incelemesi yoluyla hata hakkında daha fazla bilgi toplanarak kabul/red kararı verilmektedir. Şekil-8a'da bir yonga üzerindeki belirsizliğin optik mikroskopta çekilmiş fotoğrafı ve Şekil 8b'de aynı belirsizliğin elektron mikroskobunda çekilmiş fotoğrafı görülmektedir. (a) Şekil 8. Yonga üzerindeki belirsizlik (b)
11 11 Fotoğraflardan da anlaşılacağı gibi optik mikroskopta yongada bulunan belirsizliğin ne olduğuna karar verilememekte ve belirsizlik hata kriterleri ile tanımlanamamaktadır. Elektron mikroskobu görüntüsünde ise belirsizliğin yonganın yalıtkan tabakasında bulunan bir süreksizlik olduğu ortaya çıkartılmakta ve yonga red edilebilmektedir. Elektronik üretimde kullanılan çeşitli mekanik ve elektronik malzemenin giriş kalite denetimi sırasında doküman ve standart değerlerini karşılayıp karşılamadığı konusunda elektron mikroskobu ve mikro-analiz incelemeleri yapılmaktadır. Bu incelemelerde iletken ve boyutu elektron mikroskobunun numune haznesine uygun olan örnekler tahribatsız olarak, iletken olmayan örnekler yüzeyde iletkenlik sağlamak üzere plazma tekniği ile çok ince bir altın tabaka ile kaplanarak kullanılmaktadır. Boyutları büyük olan örneklerden ise uygun kesitler alınarak incelemeye tabi tutulmaktadır. Malzemelerin mikroyapı kontrolü, yapılarında bulunan düzensizlikler ve yabancı maddeler elektron mikroskobunda görüntü olarak belirlendikten sonra mikro analiz yapılarak hatanın kaynağı belirlenmektedir. Giriş kalite denetimleri sırasında malzemelerin kaplamalarının tanımlanması, kalitesinin belirlenmesi ve kaplama kalınlıklarının ölçülmesi işlemleri yapılmaktadır. Ayrıca malzemelerin kullanımı sırasında ortaya çıkan hatalardan; mekanik hasar incelemelerinde, yabancı maddelerin yol açtığı hasarın tanımlanmasında, elektrostatik boşalmaların yol açtığı hasarların tanımlanmasında, mikro-çatlakların belirlenmesinde elektron mikroskobu ve donanımları kullanılmaktadır. Taramalı elektron mikroskobu üzerinde bulunan fotoğraf ünitesi ile ekranda incelenen görüntünün fotoğrafı alınabilmekte, elde edilen diğer ölçüm sonuçları ve analiz grafikleri ile birlikte anlaşmazlıkları sonuçlandırmakta somut veri olarak kullanılmaktadır. Şekil 9 da bazı SEM görüntüleri görünmektedir. Demir Büyütme 9 mm Kurşun 16 Büyütme
12 12 İnsan Saçı 450 Büyütme İnsan Saçı 450 Büyütme Kene 484 Büyütme Kene 909 Büyütme Karınca 30 Büyütme Karıncanın Gözü 400 Büyütme Şekil 9. Bazı SEM görüntüleri
13 13 KAYNAKLAR Scanning and Transmission Electron Microscopy: An Introduction, S.L. Flegler, J.W. Heckman, K.L. Klomparens, Oxford Univ. Press (1993), ISBN # Encyclopedia of Materials Characterization, C.R. Brundle, C.A. Evans, Jr., S. Wilson, Butterworth-Heinemann (1992), ISBN #
TARAMA ELEKTRON MİKROSKOBU SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM)
GAZİ ÜNİVERSİTESİ TEKNOLOJİ FAKÜLTESİ METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ MEM-317 MALZEME KARAKTERİZASYONU TARAMA ELEKTRON MİKROSKOBU SCANNING ELECTRON MICROSCOPE (SEM) Yrd. Doç. Dr. Volkan KILIÇLI Arş.
Detaylı20.03.2012. İlk elektronik mikroskobu Almanya da 1931 yılında Max Knoll ve Ernst Ruska tarafından icat edilmiştir.
SERKAN TURHAN 06102040 ABDURRAHMAN ÖZCAN 06102038 1878 Abbe Işık şiddetinin sınırını buldu. 1923 De Broglie elektronların dalga davranışına sahip olduğunu gösterdi. 1926 Busch elektronların magnetik alanda
DetaylıSEM İncelemeleri için Numune Hazırlama
SEM İncelemeleri için Numune Hazırlama Giriş Taramalı elektron mikroskobunda kullanılacak numuneleri, öncelikle, Vakuma dayanıklı (buharlaşmamalı) Katı halde temiz yüzeyli İletken yüzeyli olmalıdır. Günümüzde
DetaylıMalzeme muayene metodları
MALZEME MUAYENESİ Neden gereklidir? Malzemenin mikroyapısını tespit etmek için. Malzemelerin kimyasal kompozisyonlarını tesbit etmek için. Malzemelerdeki hataları tesbit etmek için Malzeme muayene metodları
DetaylıGEÇĐRĐMLĐ ELEKTRON MĐKROSKOBU
GEÇĐRĐMLĐ ELEKTRON MĐKROSKOBU GĐRĐŞ TEM (Transmission Electron Microscope) Büyütme oranı 1Mx Çözünürlük ~1Å Fiyat ~1000 000 $ Kullanım alanları Malzeme Bilimi Biyoloji ÇALIŞMA PRENSĐBĐ Elektron tabancasından
DetaylıPaslanmaz Çelik Gövde. Yalıtım Sargısı. Katalizör Yüzey Tabakası. Egzoz Emisyonları: Su Karbondioksit Azot
Paslanmaz Çelik Gövde Yalıtım Sargısı Egzoz Emisyonları: Su Karbondioksit Azot Katalizör Yüzey Tabakası Egzoz Gazları: Hidrokarbonlar Karbon Monoksit Azot Oksitleri Bu bölüme kadar, açıkça ifade edilmese
DetaylıBahar Yarıyılı Bölüm-2 ve Bölüm-3 (Uygulamalar) Ankara A. OZANSOY
FİZ314 Fizikte Güncel Konular 2015-2016 Bahar Yarıyılı Bölüm-2 ve Bölüm-3 (Uygulamalar) Ankara A. OZANSOY Gece Görüş Sistemleri Gece gören cihazların temeli fotoelektrik olaya dayanır. (Gözlük, dürbün,
DetaylıFZM 220. Malzeme Bilimine Giriş
FZM 220 Yapı Karakterizasyon Özellikler İşleme Performans Prof. Dr. İlker DİNÇER Fakültesi, Fizik Mühendisliği Bölümü 1 Ders Hakkında FZM 220 Dersinin Amacı Bu dersin amacı, fizik mühendisliği öğrencilerine,
DetaylıANİZOTROPİ. Schmid s Tek kristle uygulandığında:
ANİZOTROPİ Schmid s Tek kristle uygulandığında: En büyük kayma gerilmesi için: λ = φ = 45 o olmalıdır. Diğer düzlemlerde daha düşük gerilmeler elde edilir. Tek kristalde atom düzlemleri farklı açılar yapabilir.
Detaylı2. HAFTA MİKROSKOPLAR
2. HAFTA MİKROSKOPLAR MİKROSKOPLAR Hücreler çok küçük olduğundan (3-200 µm) mikroskop kullanılması zorunludur. Soğan zarı, parmak arası zarlar gibi çok ince yapılar, kesit almadan ve mikroskopsuz incelenebilir.
DetaylıModern Fiziğin Teknolojideki Uygulamaları
40 Modern Fiziğin Teknolojideki Uygulamaları 1 Test 1 in Çözümleri 1. USG ve MR cihazları ile ilgili verilen bilgiler doğrudur. BT cihazı c-ışınları ile değil X-ışınları ile çalışır. Bu nedenle I ve II.
DetaylıDPÜ %PER )QMW]SRPY 8EVEQEP )PIOXVSR 1MOVSWOSFY *)7)1 *MIPH )QMWWMSR 7GERRMRK )PIGXVSR 1MGVSWGSTI
Laboratuvarımızda hizmet veren FESEM cihazı, Türkiye de mevcut SEM ler arasında en fazla sayıda ve farklı tipte dedektöre sahip olan en fonksiyonel taramalı Elektron Mikroskoplarından biridir. FESEM cihazı,
DetaylıBölüm 7 Tahribatsız Malzeme Muayenesi
Bölüm 7 Tahribatsız Malzeme Muayenesi Tahribatsız muayene; malzemelerin fiziki yapısını ve kullanılabilirliğini bozmadan içyapısında ve yüzeyinde bulunan süreksizliklerin tespit edilmesidir. Bu işlemlerde,
DetaylıAlüminyum Test Eğitim ve Araştırma Merkezi. Mart 2017
Alüminyum Test Eğitim ve Araştırma Merkezi Mart 2017 SEM Nedir? SEM ile Neler Yapılabilir? SEM ile Neler Yapılabilir? SEM Giriş SEM nedir? Mikro ve nano boyuttaki yapıları görüntüleyebilmek için kullanılan
DetaylıX-IŞINI FLORESANS SPEKTROSKOPİSİ. X-ışınları spektrometresi ile numunelerin yarı kantitatif olarak içeriğinin belirlenmesi.
X-IŞINI FLORESANS SPEKTROSKOPİSİ 1. DENEYİN AMACI X-ışınları spektrometresi ile numunelerin yarı kantitatif olarak içeriğinin belirlenmesi. 2. TEORİK BİLGİ X-ışınları, yüksek enerjiye sahip elektronların
DetaylıX IŞINLARININ NİTELİĞİ VE MİKTARI
X IŞINLARININ NİTELİĞİ VE MİKTARI X IŞINI MİKTARINI ETKİLEYENLER X-ışınlarının miktarı Röntgen (R) ya da miliröntgen (mr) birimleri ile ölçülmektedir. Bu birimlerle ifade edilen değerler ışın yoğunluğu
DetaylıKasetin arka yüzeyi filmin yerleştirildiği kapaktır. Bu kapakların farklı farklı kapanma mekanizmaları vardır. Bu taraf ön yüzeyin tersine atom
KASET Röntgen filmi kasetleri; radyografi işlemi sırasında filmin ışık almasını önleyen ve ranforsatör-film temasını sağlayan metal kutulardır. Özel kilitli kapakları vardır. Kasetin röntgen tüpüne bakan
DetaylıX IŞINLARININ ELDE EDİLİŞİ
X IŞINLARININ ELDE EDİLİŞİ Radyografide ve radyoterapide kullanılan X- ışınları, havası boşaltılmış bir tüp içinde, yüksek gerilim altında, ısıtılan katottan çıkan elektron demetinin hızlandırılarak anota
DetaylıBölüm 1 Maddenin Yapısı ve Radyasyon. Prof. Dr. Bahadır BOYACIOĞLU
Bölüm 1 Maddenin Yapısı ve Radyasyon Prof. Dr. Bahadır BOYACIOĞLU İÇİNDEKİLER X-ışınlarının elde edilmesi X-ışınlarının Soğrulma Mekanizması X-ışınlarının özellikleri X-ışını cihazlarının parametreleri
DetaylıNanomalzemelerin Karakterizasyonu. Yapısal Karakterizasyon Kimyasal Karakterizasyon
Nanomalzemelerin Karakterizasyonu Yapısal Karakterizasyon Kimyasal Karakterizasyon 1 Nanomalzemlerin Yapısal Karakterizasyonu X ışını difraksiyonu (XRD) Çeşitli elektronik mikroskoplar(sem, TEM) Atomik
DetaylıFZM 220. Malzeme Bilimine Giriş
FZM 220 Yapı Karakterizasyon Özellikler İşleme Performans Prof. Dr. İlker DİNÇER Fakültesi, Fizik Mühendisliği Bölümü 1 Ders Hakkında FZM 220 Dersinin Amacı Bu dersin amacı, fizik mühendisliği öğrencilerine,
DetaylıA.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 3. HAFTA
A.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 3. HAFTA İçindekiler 1.Nesil Güneş Pilleri Tek Kristalli Güneş Pilleri Çok Kristalli Güneş Pilleri 1. Tek Kristal Silisyum Güneş
DetaylıTARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU BAHAR 2010
TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU BAHAR 2010 TARİHSEL GELİ İM 1878 Abbe Işık şiddet sınırını buldu 1923 de Broglie elektronların dalga davranışına sahip olduğunu gösterdi 1926 Busch elektronların mağnetik alanda
DetaylıDİCLE ÜNİVERSİTESİ TIP FAKÜLTESİ DÖNEM I HÜCRE BİLİMLERİ 2 KOMİTESİ MİKROSKOP ÇEŞİTLERİ ÇALIŞMA PRENSİPLERİ. Doç.Dr. Engin DEVECİ MİKROSKOP KULLANIMI
DİCLE ÜNİVERSİTESİ TIP FAKÜLTESİ DÖNEM I HÜCRE BİLİMLERİ 2 KOMİTESİ MİKROSKOP ÇEŞİTLERİ ÇALIŞMA PRENSİPLERİ Doç.Dr. Engin DEVECİ MİKROSKOP KULLANIMI Histoloji: Dokuların yapısını inceleyen bilim dalı olduğu
DetaylıRÖNTGEN FİZİĞİ X-Işını oluşumu. Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak
RÖNTGEN FİZİĞİ X-Işını oluşumu Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak X-IŞINI TÜPÜ X-IŞINI TÜPÜ PARÇALARI 1. Metal korunak (hausing) 2. Havası alınmış cam veya metal tüp 3. Katot 4. Anot X-ışın
DetaylıX-Işınları. 4. Ders: X-ışını sayaçları. Numan Akdoğan.
X-Işınları 4. Ders: X-ışını sayaçları Numan Akdoğan akdogan@gyte.edu.tr Gebze Yüksek Teknoloji Enstitüsü Fizik Bölümü Nanomanyetizma ve Spintronik Araştırma Merkezi (NASAM) X-ışını sayaç çeşitleri 1. Fotoğraf
DetaylıHarici Fotoelektrik etki ve Planck sabiti deney seti
Deneyin Temeli Harici Fotoelektrik etki ve Planck sabiti deney seti Fotoelektrik etki modern fiziğin gelişimindeki anahtar deneylerden birisidir. Filaman lambadan çıkan beyaz ışık ızgaralı spektrometre
DetaylıKonu: Yüksek Hassasiyetli Yağ Keçelerinin Takviye Bilezik Kalıplarının Üretiminde Kullanılan Takım Çelikleri ve Üretim Prosesleri
Nurettin ÇALLI Fen Bilimleri Ens. Öğrenci No: 503812162 MAD 614 Madencilikte Özel Konular I Dersi Veren: Prof. Dr. Orhan KURAL İTÜ Maden Fakültesi Konu: Yüksek Hassasiyetli Yağ Keçelerinin Takviye Bilezik
DetaylıGörüntüleme ve kontrastlama
KOCAELĠ ÜNĠVERSĠTESĠ MÜHENDĠSLĠK FAKÜLTESĠ METALURJĠ ve MALZEME MÜHENDĠSLĠĞĠ BÖLÜMÜ Görüntüleme ve kontrastlama IĢık mikroskobu - donanım Bir mikroskobun aydınlatma (ışıklandırma) düzeni için aşağıda verilen
DetaylıŞekil 1. Elektrolitik parlatma işleminin şematik gösterimi
ELEKTROLİTİK PARLATMA VE DAĞLAMA DENEYİN ADI: Elektrolitik Parlatma ve Dağlama DENEYİN AMACI: Elektrolit banyosu içinde bir metalde anodik çözünme yolu ile düzgün ve parlatılmış bir yüzey oluşturmak ve
DetaylıMİKROSKOP ÇEŞİTLERİ. Doç.Dr.Engin DEVECİ
MİKROSKOP ÇEŞİTLERİ Doç.Dr.Engin DEVECİ MİKROSKOP KULLANIMI Histoloji: Dokuların yapısını inceleyen bilim dalı olduğu için kendine özgü teknik ve araçlara gereksinim duyar. Kullanılan araçların en önemlisi
DetaylıAkım ve Direnç. Bölüm 27. Elektrik Akımı Direnç ve Ohm Kanunu Direnç ve Sıcaklık Elektrik Enerjisi ve Güç
Bölüm 27 Akım ve Direnç Elektrik Akımı Direnç ve Ohm Kanunu Direnç ve Sıcaklık Elektrik Enerjisi ve Güç Öğr. Gör. Dr. Mehmet Tarakçı http://kisi.deu.edu.tr/mehmet.tarakci/ Elektrik Akımı Elektrik yüklerinin
DetaylıALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ. X-Işını Spektroskopisi Yrd. Doç. Dr. Gökçe MEREY
ALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ X-Işını Spektroskopisi Yrd. Doç. Dr. Gökçe MEREY X-IŞINI SPEKTROSKOPİSİ X-ışını spektroskopisi, X-ışınlarının emisyonu, absorbsiyonu ve difraksiyonuna (saçılması) dayanır. Kalitatif
DetaylıI. Histoloji nedir? II. Niçin Histoloji öğreniyoruz? III. Histolojik inceleme nasıl yapılır?
Histolojiye Giriş I. Histoloji nedir? II. Niçin Histoloji öğreniyoruz? III. Histolojik inceleme nasıl yapılır? Histology (Eski Yunanca,Grekçe ): /histo- doku /logia- bilim Histoloji DOKU BİLİMİ demektir
Detaylıİleri Elektronik Uygulamaları Hata Analizi
İleri Elektronik Uygulamaları Hata Analizi Tuba KIYAN 01.04.2014 1 Tarihçe Transistör + Tümleşik devre Bilgisayar + İnternet Bilişim Çağı Transistörün Evrimi İlk transistör (1947) Bell Laboratuvarları
DetaylıEYETECH PARTİKÜL TAYİN CİHAZI
EYETECH PARTİKÜL TAYİN CİHAZI Ambivalue şirketinin yeni nesil üretmiş olduğu Eyetech model partikül tayin cihazı ile parçacık boyut analizlerinde ve şekil çözümleyicilerin de yeni nesil cihaz üretimi gerçekleştirmiştir.
DetaylıHazırlayan: Tugay ARSLAN
Hazırlayan: Tugay ARSLAN ELEKTRİKSEL TERİMLER Nikola Tesla Thomas Edison KONULAR VOLTAJ AKIM DİRENÇ GÜÇ KISA DEVRE AÇIK DEVRE AC DC VOLTAJ Gerilim ya da voltaj (elektrik potansiyeli farkı) elektronları
DetaylıX-IŞINLARI FLORESAN ve OPTİK EMİSYON SPEKTROSKOPİSİ
X-IŞINLARI FLORESAN ve OPTİK EMİSYON SPEKTROSKOPİSİ 1. EMİSYON (YAYINMA) SPEKTRUMU ve SPEKTROMETRELER Onyedinci yüzyılda Newton un güneş ışığının değişik renkteki bileşenlerden oluştuğunu ve bunların bir
Detaylı10. HAFTA PARTİKÜL BÜYÜKLÜĞÜ TAYİN YÖNTEMLERİ
10. HAFTA PARTİKÜL BÜYÜKLÜĞÜ TAYİN YÖNTEMLERİ YÖNTEM Elek Analizi Optik Mikroskop YÖNTEMİN DAYANDIĞI PRENSİP Geometrik esas PARAMETRE / DAĞILIM Elek Çapı / Ağırlık Martin, Feret ve İzdüşüm alan Çap / Sayı
DetaylıRÖNTGEN FİZİĞİ 5 X-ışınlarının özellikleri, kalitesi ve kantitesi. Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak
RÖNTGEN FİZİĞİ 5 X-ışınlarının özellikleri, kalitesi ve kantitesi Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak X-ışınlarının özellikleri, kalitesi ve kantitesi X-ışınları cam veya metal kılıfın penceresinden
DetaylıMAKRO-MEZO-MİKRO. Deney Yöntemleri. MİKRO Deneyler Zeta Potansiyel Partikül Boyutu. MEZO Deneyler Reolojik Ölçümler Reometre (dinamik) Roww Hücresi
Kolloidler Bir maddenin kendisi için çözücü olmayan bir ortamda 10-5 -10-7 cm boyutlarında dağılmasıyla oluşan çözeltiye kolloidal çözelti denir. Çimento, su, agrega ve bu sistemin dispersiyonuna etki
DetaylıMETAL OKSİT KAPLI TİTANYUM ANOTLARIN GENEL ŞARTNAMESİ. Anotlar, kablolar, bağlantı ve kalite kontrol işlemleri bu şartnamede verilmiştir.
1.AMAÇ: METAL OKSİT KAPLI TİTANYUM ANOTLARIN GENEL ŞARTNAMESİ Anotlar, kablolar, bağlantı ve kalite kontrol işlemleri bu şartnamede verilmiştir. 2.AÇIKLAMA: 2.1.LIDA (Lineer Dağılımlı Anot) manasına gelen
DetaylıBARA SİSTEMLERİ HAKKINDA GENEL BİLGİLER
BARA SİSTEMLERİ HAKKINDA GENEL BİLGİLER Günümüzde bara sistemlerinde iletken olarak iki metalden biri tercih edilmektedir. Bunlar bakır ya da alüminyumdur. Ağırlık haricindeki diğer tüm özellikler bakırın
DetaylıBÖLÜM 7. ENSTRÜMENTAL ANALİZ YÖNTEMLERİ Doç.Dr. Ebru Şenel
BÖLÜM 7. ENSTRÜMENTAL ANALİZ YÖNTEMLERİ 1. SPEKTROSKOPİ Bir örnekteki atom, molekül veya iyonların bir enerji düzeyinden diğerine geçişleri sırasında absorplanan veya yayılan elektromanyetik ışımanın,
DetaylıRADYASYON ÖLÇME SİSTEMLERİ
RADYASYON ÖLÇME SİSTEMLERİ Ankara Üniversitesi Nükleer RADYASYON DOZU 1. Activite: Verilen bir zaman içersindeki parçalanma sayısı A. Becquerel 1 parçalanma / saniye Radyoaktif Çekirdek Saniyede bir parçalanma
DetaylıFotovoltaik Teknoloji
Fotovoltaik Teknoloji Bölüm 3: Güneş Enerjisi Güneşin Yapısı Güneş Işınımı Güneş Spektrumu Toplam Güneş Işınımı Güneş Işınımının Ölçülmesi Dr. Osman Turan Makine ve İmalat Mühendisliği Bilecik Şeyh Edebali
Detaylı12. SINIF KONU ANLATIMLI
12. SINIF KONU ANLATIMLI 3. ÜNİTE: DALGA MEKANİĞİ 2. Konu ELEKTROMANYETİK DALGA ETKİNLİK VE TEST ÇÖZÜMLERİ 2 Elektromanyetik Dalga Testin 1 in Çözümleri 1. B manyetik alanı sabit v hızıyla hareket ederken,
DetaylıMMM291 MALZEME BİLİMİ
MMM291 MALZEME BİLİMİ Ofis Saatleri: Perşembe 14:00 16:00 ayse.kalemtas@btu.edu.tr, akalemtas@gmail.com Bursa Teknik Üniversitesi, Doğa Bilimleri, Mimarlık ve Mühendislik Fakültesi, Metalurji ve Malzeme
DetaylıBüyük Patlama ve Evrenin Oluşumu. Test 1 in Çözümleri
7 Büyük Patlama ve Evrenin Oluşumu 225 Test 1 in Çözümleri 1. Elektrikçe yüksüz parçacıklar olan fotonların kütleleri yoktur. Işık hızıyla hareket ettikleri için atom içerisinde bulunamazlar. Fotonlar
DetaylıLaboratuarımız. Ankara Üniversitesi. Mühendislik Fakültesi Manyetik Malzemeler Araştırma Grubu. Ankara Üniversitesi
Mühendislik Fakültesi Manyetik Malzemeler Araştırma Grubu Laboratuarımız Örnek Hazırlama Ark Fırınları Isıl İşlem Fırınları Mekanik Alaşımlama Sistemleri Şerit Üretim Sistemi (Melt Spinner) Yapısal Karakterizasyon
DetaylıTahribatsız Muayene Yöntemleri
Tahribatsız Muayene Yöntemleri Tahribatsız muayene; malzemelerin fiziki yapısını ve kullanılabilirliğini bozmadan içyapısında ve yüzeyinde bulunan süreksizliklerin tespit edilmesidir. Tahribatsız muayene
DetaylıMalzemeler elektrik yükünü iletebilme yeteneklerine göre 3 e ayrılırlar. İletkenler Yarı-iletkenler Yalıtkanlar
Malzemeler elektrik yükünü iletebilme yeteneklerine göre 3 e ayrılırlar. İletkenler Yarı-iletkenler Yalıtkanlar : iletkenlik katsayısı (S/m) Malzemelerin iletkenlikleri sıcaklık ve frekansla değişir. >>
DetaylıATOMİK YAPI. Elektron Yükü=-1,60x10-19 C Proton Yükü=+1,60x10-19 C Nötron Yükü=0
ATOMİK YAPI Elektron Yükü=-1,60x10-19 C Proton Yükü=+1,60x10-19 C Nötron Yükü=0 Elektron Kütlesi 9,11x10-31 kg Proton Kütlesi Nötron Kütlesi 1,67x10-27 kg Bir kimyasal elementin atom numarası (Z) çekirdeğindeki
DetaylıDers 2- Temel Elektriksel Büyüklükler
Ders 2- Temel Elektriksel Büyüklükler Yard.Doç.Dr. Ahmet Özkurt Ahmet.ozkurt@deu.edu.tr http://ahmetozkurt.net Yük Elektriksel yük maddelerin temel özelliklerinden biridir. Elektriksel yükün iki temel
DetaylıDENEY 12 SCR ile İki yönlü DC Motor Kontrolü
DENEY 12 SCR ile İki yönlü DC Motor Kontrolü DENEYİN AMACI 1. Elektromanyetik rölelerin çalışmasını ve yapısını öğrenmek 2. SCR kesime görüme yöntemlerini öğrenmek 3. Bir dc motorun dönme yönünü kontrol
Detaylıİmalat Mühendisliğinde Deneysel Metotlar
İmalat Mühendisliğinde Deneysel Metotlar 3. Hafta 1 YÜZEY PÜRÜZLÜLÜK ÖLÇÜMÜ 1. DENEYİN AMACI Malzemelerin yüzey pürüzlülüğünün ölçümü, önemi ve nerelerde kullanıldığının belirlenmesi. 2 2.TEORİK BİLGİ
DetaylıAdli Metalurji. Doç.Dr. Derya Dışpınar İstanbul Üniversitesi
Adli Metalurji Doç.Dr. Derya Dışpınar deryad@istanbul.edu.tr İstanbul Üniversitesi Hata Kazaya mı sebep oldu? Kaza sonucu mu oluştu? İstanbul Üniversitesi Yük Yapısı Boyutu Yönü İstanbul Üniversitesi Tasarım
DetaylıATOMİK YAPI. Elektron Yükü=-1,60x10-19 C Proton Yükü=+1,60x10-19 C Nötron Yükü=0
ATOMİK YAPI Atom, birkaç türü birleştiğinde çeşitli molekülleri, bir tek türü ise bir kimyasal öğeyi oluşturan parçacıktır. Atom, elementlerin özelliklerini taşıyan en küçük yapı birimi olup çekirdekteki
DetaylıMalzeme Bilgisi. Madde ve Özellikleri
Malzeme Bilgisi Madde: Boşlukta yer kaplayan, kütlesi ve hacmi olan katı, sıvı veya gaz şeklinde bulunan her şeye madde denir. Ayırt edici özellikler: Bir maddenin diğer maddelerden farklılık gösterenyanları,
DetaylıGAZİ ÜNİVERSİTESİ TEKNOLOJİ FAKÜLTESİ METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ MEM-317 MALZEME KARAKTERİZASYONU OPTİK MİKROSKOP
GAZİ ÜNİVERSİTESİ TEKNOLOJİ FAKÜLTESİ METALURJİ VE MALZEME MÜHENDİSLİĞİ MEM-317 MALZEME KARAKTERİZASYONU OPTİK MİKROSKOP Yrd. Doç. Dr. Volkan KILIÇLI ANKARA 2012 OPTİK MİKROSKOP Hemen hemen bütün metalografik
DetaylıÖĞRENME ALANI : FĐZĐKSEL OLAYLAR ÜNĐTE 3 : YAŞAMIMIZDAKĐ ELEKTRĐK (MEB)
ÖĞENME ALANI : FZKSEL OLAYLA ÜNTE 3 : YAŞAMIMIZDAK ELEKTK (MEB) B ELEKTK AKIMI (5 SAAT) (ELEKTK AKIMI NED?) 1 Elektrik Akımının Oluşması 2 Elektrik Yüklerinin Hareketi ve Yönü 3 ler ve Özellikleri 4 Basit
DetaylıDielektrik malzeme DİELEKTRİK ÖZELLİKLER. Elektriksel Kutuplaşma. Dielektrik malzemeler. Kutuplaşma Türleri 15.4.2015. Elektronik kutuplaşma
Dielektrik malzeme DİELEKTRİK ÖZELLİKLER Dielektrik malzemeler; serbest elektron yoktur, yalıtkan malzemelerdir, uygulanan elektriksel alandan etkilenebilirler. 1 2 Dielektrik malzemeler Elektriksel alan
DetaylıPaylaşılan elektron ya da elektronlar, her iki çekirdek etrafında dolanacaklar, iki çekirdek arasındaki bölgede daha uzun süre bulundukları için bu
4.Kimyasal Bağlar Kimyasal Bağlar Aynı ya da farklı cins atomları bir arada tutan kuvvetlere kimyasal bağlar denir. Pek çok madde farklı element atomlarının birleşmesiyle meydana gelmiştir. İyonik bağ
DetaylıRÖNTGEN FİZİĞİ X-Işını oluşumu. Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak
RÖNTGEN FİZİĞİ X-Işını oluşumu Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak X-IŞINI OLUŞUMU Hızlandırılmış elektronların anotla etkileşimi ATOMUN YAPISI VE PARÇACIKLARI Bir elementi temsil eden en küçük
DetaylıELEKTRİK DEVRE TEMELLERİ
ELEKTRİK DEVRE TEMELLERİ Dr. Cemile BARDAK Ders Gün ve Saatleri: Çarşamba (09:55-12.30) Ofis Gün ve Saatleri: Pazartesi / Çarşamba (13:00-14:00) 1 TEMEL KAVRAMLAR Bir atom, proton (+), elektron (-) ve
DetaylıFaz ( denge) diyagramları
Faz ( denge) diyagramları İki elementin birbirleriyle karıştırılması sonucunda, toplam iç enerji mimimum olacak şekilde yeni atom düzenleri meydana gelir. Fazlar, İç enerjinin minimum olmasını sağlayacak
DetaylıDanışman: Yard. Doç. Dr. Metin Özgül
Hazırlayan:Nida EMANET Danışman: Yard. Doç. Dr. Metin Özgül 1 ELEKTROSERAMİK NEDİR? Elektroseramik terimi genel olarak elektronik, manyetik ve optik özellikleri olan seramik malzemeleri ifade etmektedir.
DetaylıX-IŞINLARI KIRINIM CİHAZI (XRD) ve KIRINIM YASASI SİNEM ÖZMEN HAKTAN TİMOÇİN
X-IŞINLARI KIRINIM CİHAZI (XRD) ve KIRINIM YASASI SİNEM ÖZMEN HAKTAN TİMOÇİN 2012 İÇERİK X-IŞINI KIRINIM CİHAZI (XRD) X-RAY DİFFRACTİON XRD CİHAZI NEDİR? XRD CİHAZININ OPTİK MEKANİZMASI XRD CİHAZINDA ÖRNEK
DetaylıMALZEME BİLİMİ. Malzeme Bilimine Giriş
MALZEME BİLİMİ Malzeme Bilimine Giriş Uygarlığın başlangıcından beri malzemeler enerji ile birlikte insanın yaşama standardını yükseltmek için kullanılmıştır. İlk uygarlıklar geliştirdikleri malzemelerin
DetaylıEkran, görüntü sergilemek için kullanılan elektronik araçların genel adıdır.
Ekran Ekran, görüntü sergilemek için kullanılan elektronik araçların genel adıdır. Ekrandaki tüm görüntüler noktalardan olusur. Ekrandaki en küçük noktaya pixel adı verilir. Pixel sayısı ne kadar fazlaysa
Detaylı12. SINIF KONU ANLATIMLI
12. SINIF KONU ANLATIMLI 3. ÜNİTE: DALGA MEKANİĞİ 2. Konu ELEKTROMANYETİK DALGA ETKİNLİK VE TEST ÇÖZÜMLERİ 2 Elektromanyetik Dalga Etkinlik A nın Yanıtları 1. Elektromanyetik spektrum şekildeki gibidir.
DetaylıMALZEME BİLGİSİ DERS 4 DR. FATİH AY.
MALZEME BİLGİSİ DERS 4 DR. FATİH AY www.fatihay.net fatihay@fatihay.net GEÇEN HAFTA KRİSTAL KAFES NOKTALARI KRİSTAL KAFES DOĞRULTULARI KRİSTAL KAFES DÜZLEMLERİ DOĞRUSAL VE DÜZLEMSEL YOĞUNLUK KRİSTAL VE
DetaylıÖLÇME VE ÖLÇÜ ALETLERİ
ÖLÇME VE ÖLÇÜ ALETLERİ 1. KISA DEVRE Kısa devre; kırmızı, sarı, mavi, nötr ve toprak hatlarının en az ikisinin birbirine temas ederek elektriksel akımın bu yolla devresini tamamlamasıdır. Kısa devre olduğunda
DetaylıİNŞAAT MALZEME BİLGİSİ
İNŞAAT MALZEME BİLGİSİ Prof. Dr. Metin OLGUN Ankara Üniversitesi Ziraat Fakültesi Tarımsal Yapılar ve Sulama Bölümü HAFTA KONU 1 Giriş, yapı malzemelerinin önemi 2 Yapı malzemelerinin genel özellikleri,
DetaylıFZM 220. Malzeme Bilimine Giriş
FZM 220 Yapı Karakterizasyon Özellikler İşleme Performans Prof. Dr. İlker DİNÇER Fakültesi, Fizik Mühendisliği Bölümü 1 Ders Hakkında FZM 220 Dersinin Amacı Bu dersin amacı, fizik mühendisliği öğrencilerine,
DetaylıSCHRÖDİNGER: Elektronun yeri (yörüngesi ve orbitali) birer dalga fonksiyonu olan n, l, m l olarak ifade edilen kuantum sayıları ile belirlenir.
. ATOMUN KUANTUM MODELİ SCHRÖDİNGER: Elektronun yeri (yörüngesi ve orbitali) birer dalga fonksiyonu olan n, l, m l olarak ifade edilen kuantum sayıları ile belirlenir. Orbital: Elektronların çekirdek etrafında
DetaylıMUKAVEMET ARTIRICI İŞLEMLER
MUKAVEMET ARTIRICI İŞLEMLER Malzemenin Mukavemeti; a) Kimyasal Bileşim b) Metalurjik Yapı değiştirilerek arttırılabilir Malzemelerin Mukavemet Arttırıcı İşlemleri: 1. Martenzitik Dönüşüm 2. Alaşım Sertleştirmesi
DetaylıELEKTROLİTİK TOZ ÜRETİM TEKNİKLERİ. Prof.Dr.Muzaffer ZEREN
Prof.Dr.Muzaffer ZEREN Bir çok metal (yaklaşık 60) elektroliz ile toz haline getirilebilir. Elektroliz kapalı devre çalışan ve çevre kirliliğine duyarlı bir yöntemdir. Kurulum maliyeti ve uygulama maliyeti
DetaylıAtomların bir arada tutulmalarını sağlayan kuvvetlerdir Atomlar daha düşük enerjili duruma erişmek (daha kararlı olmak) için bir araya gelirler
Kimyasal Bağlar; Atomların bir arada tutulmalarını sağlayan kuvvetlerdir Atomlar daha düşük enerjili duruma erişmek (daha kararlı olmak) için bir araya gelirler İki ana gruba ayrılır Kuvvetli (birincil,
DetaylıALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ
ALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ Atomik Absorpsiyon Spektroskopisi Yrd. Doç. Dr. Gökçe MEREY GİRİŞ Esası: Temel düzeydeki element atomlarının UV-Görünür bölgedeki monokromatik ışınları Lambert-Beer yasasına göre
DetaylıOptik Mikroskop (OM) Ya Y pıs ı ı ı ve v M erc r e c kle l r
Optik Mikroskop (OM) Yapısı ve Mercekler Optik Mikroskopi Malzemelerin mikro yapısını incelemek için kullanılan en yaygın araç Kullanıldığı yerler Ürün geliştirme, malzeme işleme süreçlerinde kalite kontrolü
DetaylıElektron ışını ile şekil verme. Prof. Dr. Akgün ALSARAN
Elektron ışını ile şekil verme Prof. Dr. Akgün ALSARAN Elektron ışını Elektron ışını, bir ışın kaynağından yaklaşık aynı hızla aynı doğrultuda hareket eden elektronların akımıdır. Yüksek vakum içinde katod
DetaylıValans elektronları kimyasal reaksiyona ve malzemenin yapısına katkı sağlar.
Valans Elektronları Atomun en dış kabuğundaki elektronlara valans elektron adı verilir. Valans elektronları kimyasal reaksiyona ve malzemenin yapısına katkı sağlar. Bir atomun en dış kabuğundaki elektronlar,
DetaylıDöküm Prensipleri. Yard.Doç.Dr. Derya Dışpınar. İstanbul Üniversitesi
Döküm Prensipleri Yard.Doç.Dr. Derya Dışpınar BeslemeKriterleri Darcy Kanunu DökümdeDarcy Kanunu KRİTİK KATI ORANI Alaşım Kritik KatıOranı Çelikler % 35 50 Alaşımlı çelikler % 45 Alüminyum alaşımları
DetaylıALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ
ALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ Spektroskopiye Giriş Yrd. Doç. Dr. Gökçe MEREY SPEKTROSKOPİ Işın-madde etkileşmesini inceleyen bilim dalına spektroskopi denir. Spektroskopi, Bir örnekteki atom, molekül veya iyonların
DetaylıALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ
ALETLİ ANALİZ YÖNTEMLERİ Infrared (IR) ve Raman Spektroskopisi Yrd. Doç. Dr. Gökçe MEREY TİTREŞİM Molekülleri oluşturan atomlar sürekli bir hareket içindedir. Molekülde: Öteleme hareketleri, Bir eksen
DetaylıAST404 GÖZLEMSEL ASTRONOMİ HAFTALIK UYGULAMA DÖKÜMANI
AST404 GÖZLEMSEL ASTRONOMİ HAFTALIK UYGULAMA DÖKÜMANI Öğrenci Numarası: I. / II. Öğretim: Adı Soyadı: İmza: HAFTA 08 1. KONU: TAYFSAL GÖZLEM 1 2. İÇERİK Doppler Etkisi Kirchhoff Yasaları Karacisim Işınımı
DetaylıSensörler Öğr. Gör. Erhan CEMÜNAL Thomas Alva Edison
Sensörler Öğr. Gör. Erhan CEMÜNAL Sıkı bir çalışmanın yerini hiç bir şey alamaz. Deha yüzde bir ilham ve yüzde doksandokuz terdir. Thomas Alva Edison İçerik TEMEL ELEKTRONİK KAVRAMLARI Transdüser ve Sensör
DetaylıRÖNTGEN FİZİĞİ 6. X-Işınlarının madde ile etkileşimi. Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak
RÖNTGEN FİZİĞİ 6 X-Işınlarının madde ile etkileşimi Doç. Dr. Zafer KOÇ Başkent Üniversitesi Tıp Fak X-IŞINI MADDE ETKİLEŞİMİ Elektromanyetik enerjiler kendi dalga boylarına yakın maddelerle etkileşime
DetaylıBİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ
BİLECİK ŞEYH EDEBALİ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MAKİNE VE İMALAT MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ MÜHENDİSLİKTE DENEYSEL METOTLAR II DOĞRUSAL ISI İLETİMİ DENEYİ 1.Deneyin Adı: Doğrusal ısı iletimi deneyi..
DetaylıFZM 220. Malzeme Bilimine Giriş
FZM 220 Yapı Karakterizasyon Özellikler İşleme Performans Prof. Dr. İlker DİNÇER Fakültesi, Fizik Mühendisliği Bölümü 1 Atomsal Yapı ve Atomlararası Bağ1 Ders Hakkında FZM 220 Dersinin Amacı Bu dersin
DetaylıEGE ÜNİVERSİTESİ EGE MYO MEKATRONİK PROGRAMI
EGE ÜNİVERSİTESİ EGE MYO MEKATRONİK PROGRAMI SENSÖRLER VE DÖNÜŞTÜRÜCÜLER SEVİYENİN ÖLÇÜLMESİ Seviye Algılayıcılar Şamandıra Seviye Anahtarları Şamandıralar sıvı seviyesi ile yukarı ve aşağı doğru hareket
DetaylıGÜNEŞ ENERJİSİ VE FOTOVOLTAİK PİLLER SAADET ALTINDİREK 2011282004
GÜNEŞ ENERJİSİ VE FOTOVOLTAİK PİLLER SAADET ALTINDİREK 2011282004 GÜNEŞİN ÖZELLİKLERİ VE GÜNEŞ ENERJİSİ GÜNEŞİN ÖZELLİKLERİ Güneşin merkezinde, temelde hidrojen çekirdeklerinin kaynaşmasıyla füzyon reaksiyonu
DetaylıHareket halindeki elektrik yüklerinin oluşturduğu bir sistem düşünelim. Belirli bir bölgede net bir yük akışı olduğunda, akımın mevcut olduğu
Akım ve Direnç Elektriksel olaylarla ilgili buraya kadar yaptığımız tartışmalar durgun yüklerle veya elektrostatikle sınırlı kalmıştır. Şimdi, elektrik yüklerinin hareket halinde olduğu durumları inceleyeceğiz.
DetaylıER 3B ULTRA VİYOLE DEDEKTÖR
ER 3B ULTRA VİYOLE DEDEKTÖR İnsan gözü 380 ile 760 nm. Gibi dar bir kuşak arasındaki elektro manyetik dalgalara duyarlıdır. Bu kuşak görülür alan olarak adlandırılmaktadır. Görülür alanın altında mor ötesi
DetaylıATOM BİLGİSİ Atom Modelleri
1. Atom Modelleri BÖLÜM2 Maddenin atom adı verilen bir takım taneciklerden oluştuğu fikri çok eskiye dayanmaktadır. Ancak, bilimsel bir (deneye dayalı) atom modeli ilk defa Dalton tarafından ileri sürülmüştür.
DetaylıAdli Fizik Uygulamaları. Yrd. Doç. Dr. İsmail ÇAKIR İstanbul Üniversitesi - Adli Tıp Enstitüsü Adli Tıp Kurumu - Fizik İhtisas Dairesi
Adli Fizik Uygulamaları Yrd. Doç. Dr. İsmail ÇAKIR İstanbul Üniversitesi - Adli Tıp Enstitüsü Adli Tıp Kurumu - Fizik İhtisas Dairesi Adli Bilimler ve Kriminalistik Adli Bilimler, (Forensic Sciences) genel
DetaylıSİLİSYUM ESASLI İNTERMETALİK BİLEŞİKLER
SİLİSYUM ESASLI İNTERMETALİK BİLEŞİKLER İntermetalikler içerisinde silisyum içeriğine sahip olan ileri teknoloji malzemeleri Silisitler olarak adlandırılmaktadır. Silisitler, yüksek sıcaklıklarda yüksek
DetaylıMMM 2011 Malzeme Bilgisi
MMM 2011 Malzeme Bilgisi Yrd. Doç. Dr. Işıl BİRLİK Metalurji ve Malzeme Mühendisliği Bölümü isil.kayatekin@deu.edu.tr Materials Science and Engineering: An Introduction W.D. Callister, Jr., John Wiley
DetaylıA.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 4. HAFTA
A.Ü. GAMA MYO. Elektrik ve Enerji Bölümü GÜNEŞ ENERJİSİ İLE ELEKTRİK ÜRETİMİ 4. HAFTA İçindekiler 2. Nesil Güneş Pilleri İnce Tabaka Amorf Silikon (A-Si:H) Güneş Hücreleri Cdte Ve Cuınse2 ("CIS") Temelli
Detaylı