Endüstri-içi dış ticaret, patentler ve uluslararası teknolojik yayılma

Transkript

1 Endüstr-ç dış tcaret, patentler ve uluslararası teknolojk yayılma Recep Kök Dokuz Eylül Ünverstes, İktsad ve İdar Blmler Fakültes, İktsat Bölümü, 35160, İzmr, Türkye Nevzat Şmşek Dokuz Eylül Ünverstes, İktsad ve İdar Blmler Fakültes, İktsat Bölümü, 35160, İzmr, Türkye Özet Bu çalışmada uluslararası teknolojk yayılmanın en öneml kaynaklarından brnn endüstr-ç dış tcaret dğernn de patentler olduğu hpotez test edlmektedr dönemn çne alan 19 OECD ülkel br panel ver analz le yapılan modellerde, Pedron nn gelştrdğ FMOLS yöntem yardımıyla uluslararası teknolojk yayılmanın belrleyenler araştırılmıştır. Model sonuçlarına göre, teknolojk yayılmanın temel kanallarından ks olarak endüstr-ç dış tcaret ve yabancı patentler bulunmuştur. 1. Grş Özellkle son yıllarda ktsatçılar, ekonomk büyümenn en öneml belrleyenlernden br olarak teknoloj ya da daha genel br şeklde blg üzerne vurgu yapmaktadırlar. Neoklask büyüme modeller büyümey, ölçeğe göre azalan getr şartları altında üretm faktörlernn brkm le açıklarken, modern büyüme modeller se ölçeğe göre sabt ve artan getr şartları altında blgnn brkm le açıklamaktadır 1. Uluslararası teknolojk yayılma ktsat yazınında çok çalışılan konulardan br 2 olmasına rağmen, bu alanda özellkle amprk çalışmalarda bazı uzlaşmazlık noktaları hala mevcuttur. Bu durumun temel neden, blgy ölçmenn ve uluslararası blg akımlarını saptamanın zorluğudur. Fakat araştırmacıların, brçok ülkenn yabancı ülkelern teknolojk catlarından yararlandığı görüşünde brleştkler de görülmektedr. Bu çalışmada kurguladığımız amaç çerçevesnde kurulan modelde, uluslararası teknolojk yayılmanın kaynakları temelde üçe ayrılmıştır. Bunlardan brncs, Coe ve Helpman ın (1995) ve Coe vd. nın (1997) çalışmalarını takben uluslararası tcaret, sermaye mallarında 1 Blg ve ekonomk büyüme konusundak teork açıklamalar çn bkz. Romer (1986, 1990), Lucas (1988). Globerman ve Helpman (1991) se Romer ve Lucas ın kurguladığı modeller açık ekonom çerçevesnde genşletmştr. 2 Uluslar arası teknolojk yayılma konusundak genş br yazın taraması çn bkz. Keller (2004).

2 çerlmş yabancı teknolojnn br kanalı olarak dkkate almaktır. Uluslararası tcaret, teknoloj transferne, teknolojy çselleştrmeye ve ülkenn kaynak kullanım etknlğne poztf br katkı sağlamakta; dolayısıyla da gelşmekte olan ülkelern vermllk artışına öneml br etk yapmaktadır. Br ülkenn teknolojy çselleştrme kapastes ve teknk etknlk düzey, ler teknolojye sahp ülkelern sevyesn yakalamada en öneml açıklayıcı faktörlerden br olarak tanımlanmaktadır. Yne, yazında teknoloj transfernde uluslararası tcaretn rolü hakkında brçok çalışma yapılmakla brlkte 3, tcaret tpler ayrımı bağlamında bu tcaret tplernn teknoloj transferndek rolü konusundak çalışmalar oldukça azdır. Hakura ve Jaumotte nn (1999) çalışmasını takben tcaret tp ayrımı bağlamında endüstr-ç dış tcaretn teknoloj transfernde daha etkn olduğu görüşü test edlen bu çalışmada, yazındak tartışmaya katılmak amaçlanmaktadır. Teknolojnn yayılmasının dğer br kanalı da, Eaton ve Kortum (1996) öngörüsü çerçevesnde uluslararası patentlern etksdr. Ntekm, Jaffe vd. (1993) blg akımlarını saptamada patentlern kullanılableceğn belrtmektedr 4. Ayrıca, uluslararası teknolojk yayılmada Nelson ve Phelps (1966) tanımlaması çerçevesnde ntelkl eğtme ayrı br vurgu da yapılmaktadır. Sonuç olarak bu çalışmada uluslararası teknolojk yayılmanın kaynakları ele alınarak, belrl br teknolojnn yayılma kanalının önemn ortaya koyan en y tahmn edclern elde edlmesne çalışılacaktır. Çalışma şu şeklde planlanmıştır: Kısım 2 modelde kullanılan verlern hesaplanması ve kaynakları le lgldr. Kısım 3 de çalışmada başvurulan yöntem tanıtılmaktadır. Kısım 4, vermllk artışının ve yabancı patent akımının belrlenmesne yönelk modellemelere 3 Örneğn Coe ve Helpman (1995) ve Coe vd. (1997), çalışmalarında ülkeler arasındak teknoloj transfernde uluslar arası tcaretn öneml br etks olduğunu göstermşlerdr. 4 Patentler kullanan çalışmalara örnek olarak Jaffe (1989), Jaffe vd. (1993), Sjöholm (1996), Globerman vd. (2000) ve Xu ve Chang (2005) gösterleblr.

3 ayrılmıştır. Kısım 5 de oluşturulan modellern analtk sonuçlarına yer verlmştr. Kısım 6, çalışmanın sonucundan oluşmaktadır. 2. Değşkenlern tanımı ve ver kaynakları Çalışmamız 25 OECD ülkesn referans almakta ve dönemn kapsamaktadır. Burada çalışmada kullanılan verlern temel özellkler dkkate alınacak ve tarafımızdan hesaplanmış değşkenlere at hesaplama yöntemlernn yanı sıra bazı değşkenlern ver tabanına atıfta bulunulacaktır. Çalışmada kullanılan yerleşk olmayanların patent uygulamaları (patent applcatons fled by nonresdents-panr) olarak adlandırılan ve World Intellectual Property Organzaton (WIPO) tarafından derlenen değşken, Dünya Bankası vertabanından elde edlmştr. Bu değşken, çalışmada uluslararası teknolojk yayılmanın öneml br belrleyen olarak dkkate alınmıştır. Aşağıdak modellerde değşken olarak kullanılan ülkelere at endüstr-ç dış tcaret, etknlk ve vermllk değşkenler şu şeklde hesaplanmıştır: Her br OECD ülkesnn Dünya ve OECD le endüstr-ç dış tcaret, standart Grubel ve Lloyd endeks (1971, 1975) le hesaplanmıştır. Dış tcaret yazınında endüstr-ç dış tcaret ölçme amacıyla çeştl yöntemler gelştrlmesne rağmen 5 pek çok çalışma, endüstr-ç dış tcaret ölçmek çn hala bu endeks kullanmaktadır: n = n [( X + M ) X M ] ( X + M ) B (1) Burada X ve M sırasıyla endüstrsndek hracat ve thalatı; B endüstr-ç dış tcaret değern göstermektedr. Br endüstrde hracat thalata eşt se söz konusu endüstrde endüstrler arası tcaretn olmadığı ve endüstr-ç dış tcaretn tam olduğu anlamında B =1.0; eğer endüstrde hracat yapılırken hç thalat yapılmıyorsa (ya da tam ters) söz konusu 5 Bu konuda ayrıntılı blg çn bkz. Şmşek (2005).

4 endüstrde endüstrler arası dış tcaretn tam olduğu ve endüstr-ç dış tcaretn olmadığı anlamında B =0 olacaktır. Açıktır k, hracat ve thalat rakamları brbrne yaklaştığında B nn değer 1.0 e yaklaşacaktır (Grubel ve Lloyd, 1971; 497 ve 1975; 21-22). OECD nn ITCS vertabanından elde edlen 3 basamak SITC (Rev.3) verler kullanılarak yapılan bu hesaplamaların sonuçları Ek-1 de verlmştr. Örneklemdek OECD ülkelernn teknk etknlk düzeyler Tone (2002) tarafından gelştrlen süper etknlk model le hesaplanmıştır 6. Br çok ver zarflama modelnde en y performans gösteren (tam etkn) karar verme brmler 1.0 değer le fade edlen etknlk değern yakalayablmektedr. Süper etknlk model se bu etkn karar verme brmlern ayırmaktadır. Bunu yaparken de dayandığı temel fkr, söz konusu etkn karar verme brmn üretm olanakları kümesnden slmek ve karar verme brm le ger kalan üretm olanakları kümes arasındak uzaklığı ölçmektr (Chen vd. 2004; 339). Bu şeklde elde edlen uzaklığa göre karar verme brmlernn etknlk değerler sıralanmaktadır. Süper etknlk modelnden elde edlen sonuçlar karar verme brmne lşkn nsp farklılığı br üst sınıra bağlı olmaksızın belrledğnden ve en etkn karar verme brmn en yüksek sayısal değerle açıklanabldğnden, çalışmada k ülkenn etknlk farkı değşkenn oluşturablmek çn süper etknlk modelnden elde edlen teknk etknlk değerler kullanılmıştır. Bu hesaplamaların sonuçları Ek-2 de verlmştr. Çalışmadak OECD ülkelernn toplam faktör vermllklerndek değşme ve teknolojk değşme değşkenler, Malmqust toplam faktör vermllğ endeks kullanılarak elde edlmştr. Sonuçları Ek-3 de gösterlen bu endeks, ortak teknolojye göre her br ver noktasının farklarının (uzaklıklarının) oranlarını hesaplayarak, farklı zamana at k ver noktası arasındak toplam faktör vermllğndek toplam değşmey ölçmektedr. Söz konusu ölçüm çn en az k dönem gerekmektedr. İk zaman arasında br karar verme brmnn 6 Tone un (2002) bu süper etknlk modelnde aylaklık değşkenne dayanan ölçümden (slack based measure-sbm) yararlanılmaktadır (Tone, 2002; 32-33). SBM modelnn ayrıntılı açıklaması çn Tone, 2001; e bakılablr.

5 etknlğndek değşmenn değerlendrlmesne mkan veren bu endeks, bu yolla teknk etknlktek değşmenn ve teknolojk değşmenn katkılarını belrlemektedr. Teknk etknlktek değşme üretm sınırını yakalama etks (catch-up effect) olarak fade edlrken, teknolojk değşme üretm sınırı eğrsnn yer değştrmes (fronter-shft) olarak fade edlmektedr. Söz konusu bu etkler, toplam faktör vermlğndek değşmenn ana unsurlarını oluşturmaktadır. Dğer br fadeyle, teknk etknlktek değşme le teknolojk değşmenn çarpımı toplam faktör vermllğndek değşmey vermektedr 7. Yukarıda açıklanan etknlk ve vermllk ölçümler yapılırken, modellerde ölçeğe göre genelleştrlmş getr varsayımı (GRS) kullanılmıştır. Bu varsayımın kullanılmasının neden, ölçeğe göre getrnn hesaplanmasında alt ve üst sınırlar çerçevesnde kontrol değerlernn referans alınmasıdır 8. Geleneksel olarak etknlk ve vermllk ölçümler ya çıktılar sabt tutulurken grd mktarının azaltılması (grd odaklı) ya da grdler sabt tutulurken çıktı mktarının artırılması (çıktı odaklı) varsayımlarına göre yapılmakta ken, burada grd ve çıktının eşanlı olarak analz edlmesne fırsat veren odaksız (non-orented) modellerden yararlanılmıştır. Etknlk ve vermllk ölçümlernde grd olarak ülkelern toplam şgücü sayısı ve toplam sermaye stoku, çıktı olarak da ülkelern gayr saf yurtç hasıla (GSYİH) değşken kullanılmıştır. Ölçümde kullanılan şgücü sayısı, sermaye stoku ve GSYİH verler, OECD nn STAN Yapısal Analz Vertabanı (STAN Structural Analyss Database) CD- ROM undan ve Dünya Bankası ndan sağlanmıştır. GSYİH ve sermaye stoku verler, 1995 fyatlarıyla ABD doları cnsndendr. 3. Yöntem Çalışmada modeller panel ver yöntem le tahmn edlmştr. Yatay kest gözlemlern bell br zaman dönem çnde br araya getrlerek oluşturulan panel ver analz, berabernde zaman sers özellklern ve sorunlarını da getrmektedr. Panel ver setnn zaman boyutu 7 Malmqust toplam faktör vermlğ endeks konusundak genş açıklama çn bkz. Kök ve Delktaş, 2003; Ölçeğe göre genelleştrlmş getr varsayımı konusunda genş blg çn bkz. Cooper vd., 1999;

6 çermes nedenyle, panel verlerde brm kökler araştırmak gerekldr. Eğer verlerde brm kökün varlığı tespt edlrse, sahte regresyon sorunu panel ver analznde de ortaya çıkmaktadır. Çalışmada kullanılan Im, Pesaran ve Shn (2003) panel brm kök test aslında, panele özgü sonuçlar elde edeblmek çn breysel brm kök testlernn brleştrlmş şekldr. Dnamk heterojen paneller çn gelştrlen bu testte ρ yatay kestler arasında ( ler arasında) değşeblmektedr. Kısaca her br yatay kest çn ayrı ayrı brm kök test olup olmadığını test etmektedr. Bu test paneldek kestler (örneğn ülkeler) arasında heterojenlğe zn vermektedr. y t p = α y (2) t 1 + β j yt j + X tδ + ε t j= 1 Bu yöntemde, H : α 0 (bütün lerde brm kök vardır) sıfır hpotezn H : α 0 (en 0 = 1 < azından br çn) karşı test etmektedr. Panel brm kökün var olması durumunda özellkle uzun döneml lşky ortaya çıkarmak çn panel eşbütünleşme yaklaşımı kullanılmalıdır. Yazında en çok kullanılan panel eşbütünleşme testlernden br Pedron (1995, 1997) panel eşbütünleşme testdr. Bu test, eşbütünleşme vektöründek heterojenlğe zn veren br test olup, yalnızca dnamk ve sabt etklern paneln kestler arasında farklı olmasına zn vermekle kalmamakta, aynı zamanda alternatf hpotez altında eşbütünleşk vektörün kestler arasında farklı olmasına da zn vermektedr. Pedron nn önerdğ tüm testler aşağıdak gb br denklemden elde edlen artıklar üzerne kurulmuştur. Bu nedenle lk aşama eşbütünleşme regresyonundan elde edlen artıkları hesaplamaktır (Pedron, 1999; 656): y, t α + δ t + β1 x1, t + β 2 x2, t β M xm, t + ε, t = (3) t = 1,..., T; = 1,..., N; m = 1,..., M

7 Burada T zaman sürecndek gözlem sayısı, N paneldek yatay kestlern toplam sayısı ve M regresyondak değşkenlern sayısıdır. N tane farklı kest olması nedenyle, her br M tane değşken (regressor) çeren N tane farklı denklem olacaktır. β 1, β 2,, β M, eğm katsayıları paneldek yatay kestler arası değşeblmektedr. α parametres paneldek kestlere özgü sabt ya da breysel kestler arasında farklı olablen sabt etk parametresdr. Çoğu zaman hmal edleblse de, paneldek kestlere özgü δ t determnstk zaman trend term denkleme dahl edleblmektedr. Keste özgü sabt etklern ve keste özgü zaman trendlern denkleme sokulup sokulmamasına bağlı olarak krtk değerler ve asmptotk dağılımı etkledğnden her br duruma özgü krtk değerler Pedron (1999) tarafından hesaplanmıştır. Pedron, eşbütünleşme olmadığı boş hpotezne karşı yed adet farklı test önermştr. Bunların dördü panel eşbütünleşme statstğ, dğer üçü grup ortalamasının panel eşbütünleşme statstklerdr. Brnc kategor çndek dört testten lk, parametrk olmayan varyans oranı tpnde br statstktr. İkncs Phllps-Peron (PP) rho statstğne benzer parametrk olmayan statstğn panel versyonudur. Bu kategordek üçüncü statstk de parametrk değldr ve PP t statstğne benzemektedr. Dördüncü statstk se Augmented Dckey Fuller (ADF) t statstğne benzer parametrk br statstktr. İknc kategorde üç testten lk PP rho statstğne benzemekte ken, dğer ks sırasıyla PP t ve ADF t statstklerne benzemektedr. Bu statstklern karşılaştırmalı avantajları büyük ölçüde ver oluşum sürecne göre değşmektedr. Önerdğ yed statstğn küçük örnek özellklern Monte Carlo smülasyon yolu le araştıran Pedron ye (1997) göre, paneln zaman boyutu kısa (örneğn 20 den az) se grup ADF t ve panel ADF t statstğ y sonuçlar vermektedr. Panel eşbütünleşme testleryle saptanan eşbütünleşme lşksnn katsayılarını tahmn etmenn yolu olarak Pedron (1996, 2000) Düzenlenmş/Gelştrlmş En Küçük Kareler Yöntem n (Fully Modfed Ordnary Least Squares (FMOLS)) önermektedr. Pedron nn breysel kestler arasında öneml ölçüde heterojenlğe zn veren bu yöntem, sabt termn ve

8 hata term ve bağımsız değşkenlern farkları arasındak olası korelasyonun varlığını hesaba katmaktadır. Bu yöntemde parametrk olmayan uyarlama, çsellğ ve otokorelasyonu düzeltmek çn bağımlı değşkene yapılmakta ve tahmn edlen uzun dönem parametreler uyarlanmış bağımlı değşkenn bağımsız değşkenler üzerne regres edlmes le elde edlmektedr. Burada ortalama grup FMOLS uzun dönem katsayıları, grup tahmnlernn ortalamalarının alınmasıyla elde edlmekte ve bunlara karşılık gelen t statstkler de asmptotk olarak standart br normal dağılıma yakınsamaktadır. Pedron (2000) FMOLS yöntemnn küçük örneklerdek gücünü de araştırmış, t statstğnn küçük örneklerdek performansının Monte Carlo smülasyonları le y olduğunu hesaplamıştır Model Bu kısımda temel amaç, patentlern yanı sıra dış tcaret yerne tcaret tp ayrımı bağlamında etkn br gösterge olarak dkkate alınması gereken endüstr-ç dış tcaretn, teknolojk yayılmayı tahmn etmede öneml br belrleyen olduğu hpotezn test etmektr. Yukarıda belrtlen değşkenler çerçevesnde k temel model kurulmuştur. Bunlardan lk, teknolojk yayılmanın belrleyenlerne yönelktr. İkncs se teknolojk yayılmanın en temel belrleyenlerden olan yabancı patent akımı çn kurulan modeldr. Brnc model şu şekldedr: DTFP t =α t + α a ARGEC t + α b BS t TDGRS t + α c PANRC t + α d EİTGLOECD t + e t (4) =1,,19 ve t=1995,,2001 Modeldek bağımlı değşken, ölçeğe göre genel getr varsayımı altında odaksız Malmqust endeks le ölçülen toplam faktör vermllğndek değşme değerlerdr. İçsel büyüme teorsnde, kapalı ekonom şartları altında vermllk artışı araştırma-gelştrme (AR- GE) yoğunluğunun br fonksyonudur. Açık ekonom şartları altında se vermllk artışı, hem 9 Panel brm kök testler ve Pedron panel eşbütünleşme yaklaşımının ayrıntısı çn bkz. Coşar (2002) ve Şmşek (2005).

9 yurt ç yenlklerden ve catlardan hem de yabancı teknolojlern özümsenmesnden (çselleştrlmesnden) kaynaklanmaktadır. Bu bağlamda yukarıdak modelde ARGEC değşken çalışan başına (bn kş) AR-GE harcamasıdır. Dünya Bankası ver tabanından oluşturulan bu değşken, yurt ç yenlk ve catların br gösterges olarak modele dahl edlmştr. Modeldek BS değşken, beşer sermayey temslen eğtmn ülkelern teknolojler yakalamada öneml br gösterge olduğu varsayımından hareketle Dünya Bankası verlernden alınan eğtm (scholl enrollment, secondary (% gross)) verlerdr. Bu verler -Nelson ve Phelps n (1966) eğtmn teknolojy yakalamayı hızlandıracağı hpotezn test etmek çntarafımızdan hesaplanmış olan ülkelere at teknolojk değşme (TD) le çarpılarak BSTDGRS etkleşm değşken elde edlmştr. TD, modelde teknoloj sınırı le mevcut teknoloj sevyes arasındak açığı yakalamak amacıyla kullanılmaktadır. Modeldek PANRC değşken çalışan başına (bn kş) yerleşk olmayanların patent uygulamaları değşken olup, modelde yabancı teknoloj akımının yoğunluğunu ölçmektedr. Bu bağlamda patentler yoluyla yabancı teknoloj yayılma kanalının yakalanableceğ düşünülmektedr. EİTGLOECD değşken se, OECD ülkelernn OECD nn tümü le yaptığı tcaret çnde endüstr-ç dış tcaretnn payını göstermektedr. Bu değşken yardımıyla teknolojnn yayılmasında endüstr-ç dış tcaretn öneml olduğu şeklndek hpotezmz test edlmştr. Teknolojk yayılmanın en temel belrleyenlerden olan yabancı patent akımı çn kurulan knc model, br anlamda yabancı yatırımcıların kararlarını etkleyen ülkelerdek potansyel tcar faalyetlern ntelğ le lgldr. Model şu şeklde kurulmuştur: logpanrc t =β t + β a EİTGL t + β b ETKGRSF t + β c FDINI95 t + e t (5) =1,,25 ve t=1995,,2001

10 Bu model, yabancı patentlern teknolojk yayılmaya etks görüldükten sonra yabancı patent akımının belrleyenlern tesptne yönelk oluşturulmuştur. Burada yukarıdak hpotezmz çerçevesnde tcaret tp ayrımı bağlamında endüstr-ç dış tcaret olgusuna vurgu yapılmaktadır. Çünkü ülkelern toplam tcaret hacm kadar endüstr-ç dış tcaret büyüklüğü de öneml br faktör olarak değerlendrleblr. Ayrıca ver teknolojler arası açığı gösteren br değşken olarak modele dahl edlen k ülkenn etknlk farkı (ETKGRSF) değşken, teknolojk yayılmaya neden olan patent akımını da açıklayan odak br değşken olarak tanımlanmıştır. Çünkü modeldek temel kurgumuza göre, k ülke arasındak etknlk farkı ne kadar azalırsa ülkelerarası patent akımının o kadar artacağı beklenmektedr. Dolayısıyla patent akımı ülkeler arasındak etknlk farkının azalmasına bağlıdır. Dğer br fadeyle ülkelerarası patent akımı, teknk etknlktek gelşmeyle açıklanablr. ETKGRSF değşken, ver yılda en etkn ülke le söz konusu ülke etknlklernn mutlak farkı alınarak oluşturulmuştur. Modeldek doğrudan yabancı yatırımlar (FDINI95) değşken, Xu ve Chang ın (2005) patent akımı le lgl modelnde kullandığı entelektüel mülkyet hakkı değşken 10 yerne düşünülmüştür. Çünkü, uluslararası mülkyet haklarına lşkn hukuk yapının düzenlenmes (tahkm yasası vb.) ve poltk stkrarın devamlılığı ülkelerarası doğrudan yabancı yatırımları teşvk eden temel unsurlardandır. Çok uluslu frmalar, dünyadak AR-GE çalışmalarının öneml br kısmını üstlenmekteler ve ler teknolojlern büyük br kısmına sahp olup bu teknolojler üretmekte ve kontrol etmektedrler. Bu etkleşm sürecne lşkn Globerman vd. nın (2000:18) belrttğ gb çok uluslu frmalar, br ülkenn potansyel olarak öneml br blg kaynağıdır ve ev sahb ülkenn doğrudan yabancı sermaye yatırımlarını ülkeye çekme steğnn temel neden, modern teknolojy elde etme olanağıdır. 10 Entelektüel mülkyet hakkı, Gnarte ve Park (1997) tarafından önerlen br endekstr.

11 5. Amprk Bulgular Bu kısımda yukarıda belrtlen modeller, yılları çn panel ver yöntem yardımıyla modellenmştr. Panel ver setnn 7 yıllık zaman boyutu çermes nedenyle serlere, her br yatay kest çn ayrı ayrı brm kök test olup olmadığını test eden ve paneldek ülkeler arasında heterojenlğe zn veren Im, Pesaran ve Shn panel brm kök test uygulanmış ve sonuçlar Ek-4 te sunulmuştur. Bu test sonuçlarına göre serlern bütünleşme dereceler I(1) olarak tespt edlmştr. Panel brm kökün varlığı tespt edldkten sonra Pedron (1999) panel eşbütünleşme yaklaşımı kullanılmıştır. Oluşturduğumuz paneln zaman boyutu kısa (20 den az) olduğundan grup ADF t ve panel ADF t statstğ sonuçlarına göre değşkenlern eşbütünleşk olup olmadığına karar verlmştr. Pedron panel eşbütünleşme statstkler, lgl modellern altında rapor edlmştr. Panel eşbütünleşme testleryle saptanan eşbütünleşme lşksnn katsayıları, FMOLS le tahmn edlmştr. Modeller Tablo 1 de özetlenmştr. Tablo 1. Panel Grup FMOLS Sonuçları Bağımlı değşken Bağımlı değşken Bağımlı değşken DTFV log PANRC log PANRC ARGEC 0.00 ( -1.21e+08 ) BSTDGRS 0.00 ( -1.62e+04 ) PANRC 0.06 EİTGLOECD ( -8.95e+03 ) ( -3.85e+03 ) ( ) EİTGLDUNYA 8.36 ( ) ETKGRSF ( ) ( ) FDINI ( -6.44e+12 ) ( -3.66e+12 ) panel adf ** ** group adf *** *** *** N=19, T=7, Maksmum N=25, T=7, Maksmum N=25, T=7, Maksmum geckme=3. geckme=3. geckme=3. N, yatay kest sayısını, T se zaman boyutunu göstermektedr. Parantez çndek değerler hesaplanan t statstklerdr. Tablonun alt satırlarındak statstkler Pedron panel eşbütünleşme statstklerdr. *** %1, ** %5 ve * %10 anlamlılık düzeynde panel eşbütünleşme lşksnn varlığını göstermektedr

12 Vermllk artışı regresyonu (bağımlı değşken DTFV), özellkle AR-GE versnn tüm ülkeler çn elde edlememes nedenyle 19 OECD ülkes le sınırlandırılmıştır 11. Tablodan değşkenlern panel eşbütünleşk olduğu görülmektedr. Bu bağlamda FMOLS yöntem kullanılarak elde edlen katsayılar şöyle yorumlanablr. Vermllk artışı, yurt ç AR-GE yoğunluğundan poztf yönde etklenmektedr. Modelde bu değşkenn katsayısı poztf ve statstk olarak anlamlı elde edlmesne rağmen, katsayı oldukça düşüktür. Nelson ve Phelps n (1966) eğtmn teknolojy yakalamayı hızlandıracağı hpotezn test etmek çn tarafımızdan önerlen değşkenn katsayısı da poztf ve statstk olarak anlamlı elde edlmştr. Fakat bu değşkenn katsayısı da oldukça düşük düzeydedr. Yabancı patentler ve tcaret le lgl değşkenlern katsayıları da statstk olarak anlamlı elde edlmştr. Buna göre yabancı patentler, uluslararası teknolojk yayılmayı arttırmaktadır. Endüstr-ç dış tcaretn teknolojk yayılmaya etksn test eden değşkenn (EİTGLOECD) katsayısı, temel beklentmz doğrulamaktadır. Bu bağlamda ülkeler, thalatlarını ve üretp hraç ettkler malları aynı endüstrlerden yaptıkları çn karşılıklı olarak yabancı teknolojler daha hızlı ve daha yoğun çselleştrmş olacaklardır. Eğer ülke rekabetç gücünü özellkle uluslararası pyasalardan elde edyorsa, thal ettğ mal le aynı malın daha büyük br üretcs olduğunda, yurt ç üretmde yabancı teknolojy kullanma olasılığı daha fazla ve güçlenmş olacaktır. Teknolojk yayılmanın en temel belrleyenlerden olan yabancı patent akımı çn kurulan modellerde de değşkenlern panel eşbütünleşk olduğu görülmektedr. Bu bağlamda FMOLS yöntem kullanılarak tahmnlenen patent akımı modeller (bağımlı değşken logpanrc), 25 OECD ülkesn 12 ve dönemn kapsamaktadır. Bu model, yabancı patentlern teknolojk yayılmaya güçlü etks görüldükten sonra oluşturulmuştur. Bu modellerde OECD 11 Ver kısıtı nedenyle vermllk artışı modellernde örnekleme dahl edlmeyen OECD ülkeler, Avustralya, Belçka, Çek Cumhuryet, İsvçre, Yunanstan, Kore, Lüksemburg, Norveç, Yen Zelanda, İsveç ve Slovakya dır. 12 Ver kısıtı nedenyle patent akımı modellernde örnekleme dahl edlmeyen OECD ülkeler, Belçka, Çek Cumhuryet, Kore, Lüksemburg ve Slovakya dır.

13 ülkelernn hem OECD nn tümü le ve hem de Dünya le yaptığı tcaretn çnde endüstr-ç tcaretlernn payı (sırasıyla EİTGLOECD ve EİTGLDUNYA) öneml br açıklayıcı olarak görülmektedr. Bu değşkenlern katsayıları hem beklentlermze uygun hem de statstk olarak anlamlıdır. İk ülkenn etknlk farkı (ETKGRSF) değşkenn katsayısı negatf ve statstk olarak anlamlı elde edlmştr. Bu bağlamda ülkelern etknlkler brbrne ne kadar yaklaştıkça ülkelerarası patent akımının o kadar artacağı görülmektedr. Modeldek doğrudan yabancı yatırımlar (FDINI95) değşkennn katsayısı da anlamlı olmakla brlkte oldukça düşük düzeydedr. 6. Sonuç Bu çalışma, OECD ülke örneğne bağlı olarak uluslararası teknolojk yayılmanın etksn ncelemektedr. Vermllk denklemnden elde edlen tahmnclerden anlaşılacağı üzere, teknolojk yayılmanın temel kanallarından ks yabancı patentler ve endüstr-ç dış tcarettr. Ayrıca uluslararası teknolojk yayılmada AR-GE değşkennn (ARGEC) yanı sıra ntelkl eğtm le teknolojk değşmenn çarpımından elde edlen etkleşm değşkennn (BSTDGRS) çsel büyüme sürecnde dğer değşkenlere göre daha zayıf br etk yarattığı görülmüştür. Bu zayıf etk örnek hacmnn küçük olması le açıklanablr. Yne patent denklemnden elde edlen tahmncler de göstermektedr k, hpotezmz çerçevesnde endüstr-ç dış tcaret ve etknlk farkı patent akımının öneml belrleyenlerdr. Buna karşılık doğrudan yabancı yatırımlar değşkennn katsayısı statstk olarak anlamlı olmakla brlkte, dğer değşkenlere göre düşüktür. Dolayısıyla bu değşken patent akımını etkleyen öneml br değşken olarak görülmeyeblr. Sonuç olarak ktsad büyümenn, ktsat poltkası gelştrmenn ve teknolojk yayılmanın farklılaştırılmış yollarını çselleştrmek steyen her ülke kend ulusal poltkasını etkn ve sürdürüleblr rekabet ölçütler le karşılaştırması gerekmektedr. Çalışmada elde edlen

14 amprk bulgular göstermektedr k, çsel büyümenn dnamklernden br olan teknolojk yayılma göstergeler gelştrlecek ktsat poltkalarında dkkate alınmalıdır. Kaynaklar CHEN, Y., L. MOTIWALLA ve M. R. KHAN (2004); Usng Super-Effcency DEA to Evaluate Fnancal Performance of E-Busness Intatve n the Retal Industry, Internatonal Journal of Informaton Tehnology & Decson Makng, 3(2), COE, D.T. ve E. HELPMAN (1995), Internatonal R&D Spllovers, European Economc Revew, 39, COE, D.T., E. HELPMAN ve A.W. HOFFMAISTER (1997), North-South R&D Spllovers, Economc Journal, 107, COOPER, W. W., L. M. SEIFORD ve K. TONE (1999), Data Envelopment Analyss: A Comprehensve Text wth Models, Applcatons, References and DEA-Solver Software, Hngham, MA, USA: Kluwer Academc Publshers. COŞAR, E. E. (2002), Prce and Income Elastctes of Turksh Export Demand: A Panel Data Applcaton, Central Bank Revew, 2, EATON, J. ve S. KORTUM (1996), Trade n Ideas: Patentng and Productvty n the OECD, Journal of Internatonal Economcs, 40, GINARTE, J. C. ve W. G. PARK (1997), Determnants of Patent Rghts: Across-Natonal Study, Research Polcy, 26, GLOBERMAN, G. M. ve E. HELPMAN (1991), Innovaton and Growth n the Global Economy, Cambrdge: MIT Pres. GLOBERMAN, S., A. KOKKO ve F. SJÖHOLM (2000), Internatonal Technology Dffuson: Evdence from Swedsh Patent Data, Kyklos, 53, GRUBEL, H. G. ve P. J. LLOYD (1971), The Emprcal Measurement of Intra-Industry Trade, The Economc Record, 47,

15 GRUBEL, H. G. ve P. J. LLOYD (1975), Intra-Industry Trade: The Theory and Measurement of Internatonal Trade n Dfferentated Products, New York: John Wlley. HAKURA, D. ve F. JAUMOTTE (1999), The Role of Inter- and Intrandustry Trade n Technology Dffuson, IMF Workng Paper, WP/99/58. IM, K. S., M. H. PESARAN ve Y. SHIN (2003), Testng for Unt Roots n Heterogeneous Panels, Journal Of Econometrcs, 115, JAFFE, A.B. (1989), Real Effects of Academc Research, Amercan Economc Revew, 79, JAFFE, A.B., M. TRAJTENBERG ve R. HENDERSON (1993), Geographcal Localzaton of Knowledge Spllovers as Evdence by Patent Ctatons, Quarterly Journal of Economcs, 108, KELLER, W. (2004), Internatonal Technology Dffuson, Journal of Economc Lterature, 42(3), KÖK, R. ve E. DELİKTAŞ (2003), Endüstr İktsadında Vermllk Ölçme ve Stratej Gelştrme Teknkler, İzmr: DEÜ İİBF Yayınları, Yayın Karar No:25-8/1. LUCAS, R.E. Jr. (1988), On the Mechancs of Economc Development, Journal of Monetary Economcs, 22, NELSON, R. R. ve E. S. PHELPS (1966), Investment n Humans, Technology Dffuson, and Economc Growth, Amercan Economc Revew, 56, PEDRONI, P. (1995), Panel Contegraton; Asymptotc and Fnte Sample Propertes of Pooled Tme Seres Tests, Wth an Applcaton to the PPP Hypothess, Indana Unversty Workng Papers In Economcs, No , June. PEDRONI, P. (1996), Fully Modfed OLS for Heterogeneous Contegrated Panels and the Case of Purchasng Power Party, Indana Unversty Workng Papers In Economcs, No , June.

16 PEDRONI, P. (1997), Panel Contegraton; Asymptotc and Fnte Sample Propertes of Pooled Tme Seres Tests, Wth an Applcaton to the PPP Hypothess: New Results, Indana Unversty Workng Papers In Economcs, Aprl. PEDRONI, P. (1999), Crtcal Values for Contegraton Tests n Heterogeneous Panels wth Multple Regressors, Oxford Bulletn Of Economcs and Statstcs, Specal Issue, PEDRONI, P. (2000), Fully Modfed OLS for Heterogeneous Contegrated Panels, Nonstatonary Panels, Panel Contegraton, and Dynamc Panels. Advances n Econometrcs, Ed.Bad H. BALTAGI, Amsterdam, New York, Tokyo: Elsever Scence çnde, ROMER, P. (1986), Increasng Returns and Long-Run Growth, Journal of Poltcal Economy, 94, ROMER, P. (1990), Endogenous Technologcal Change, Journal of Poltcal Economy, 98, ŞİMŞEK, N. (2005), Endüstr-ç Dış Tcaret (Türkye nn Endüstr-ç Dış Tcaretnn Analz), Yayınlanmamış Doktora Tez, İzmr: Dokuz Eylül Ünverstes, Sosyal Blmler Ensttüsü. SJÖHOLM, F. (1996), Internatonal Transfer of Knowledge: The Role of Internatonal Trade and Geographc Proxmty, Weltwrtschaftlches Archv, 132, TONE, K. (2001), A Slacks-Based Measure of Effcency n Data Envelopment Analyss, European Journal of Operatonal Research, 130, TONE, K. (2002), A Slacks-Based Measure of Super-Effcency n Data Envelopment Analyss, European Journal of Operatonal Research, 143, XU, B. ve E.P. CHIANG (2005), Trade, Patents ve Internatonal Technology Dffuson, Journal of Internatonal Trade and Economc Developmet, 14(1),

17 Ek-1: OECD Ülkelernn OECD nn Tümü ve Dünya le Endüstr-ç Dış Tcaret (Standart Grubel ve Lloyd Endeks, ) OECD Düny OECD Dünya OECD Dünya OECD Dünya OECD Dünya OECD Dünya OECD Dünya ABD Almanya Avustralya Avusturya Büyük Brt Danmarka Fnlandya Fransa İrlanda İspanya İsveç İsvçre İtalya İzlanda Japonya Kanada Macarstan Mekska Norveç Polonya Portekz Türkye Yen Zelan Yunanstan Kaynak: OECD (2005); ITCS SITC Rev.3 Database den yararlanılarak tarafımızdan hesaplanmıştır.

18 Ek-2: OECD Ülkelernn Odaksız (Non-orented) Süper Etknlk Model le Tahmn Edlen Teknk Etknlk Düzeyler (Ölçeğe Göre Genelleştrlmş Getr) a b a b a b a b a b a b a b ABD Almanya Avustralya Avusturya Büyük Brtanya Danmarka Fnlandya Fransa Hollanda İrlanda İspanya İsveç İsvçre İtalya İzlanda Japonya Kanada Macarstan Mekska Norveç Polonya Portekz Türkye Yen Zelanda Yunanstan Tablodak (a) sütunu söz konusu yıldak teknk etknlk skorlarını, (b) sütunu se söz konusu yıldak etknlk sıralamasını vermektedr. Kaynak: Tarafımızdan hesaplanmıştır.

19 Ek-3: OECD Ülkeler çn Radyal Olmayan Odaksız (Non-orented) Malmqust Endeks Sonuçları (Ölçeğe Göre Genelleştrlmş Getr) 1994=> => => => => => =>2001 TD TFVD TD TFVD TD TFVD TD TFVD TD TFVD TD TFVD TD TFVD ABD Almanya Avustralya Avusturya Büyük Brtanya Danmarka Fnlandya Fransa Hollanda İrlanda İspanya İsveç İsvçre İtalya İzlanda Japonya Kanada Macarstan Mekska Norveç Polonya Portekz Türkye Yen Zelanda Yunanstan Ortalama Maksmum Mnmum Tablodak TD teknolojk değşmey, DTFV se toplam faktör vermllğndek değşmey fade etmektedr. Kaynak: Tarafımızdan hesaplanmıştır.

20 Ek-4: Im, Pesaran ve Shn W Panel Brm Kök Test Sonuçları Değşken İstatstk Olasılık DTFV Düzey Fark ARGEC Düzey Fark BSTDGRS Düzey Fark PANRC Düzey Fark EITGLOECD Düzey Fark logpanrc Düzey Fark EITGLOECD Düzey Fark ETKGRSF Düzey Fark FDINI95 Düzey Fark Test denklemlerne dışsal değşken olarak breysel sabt eklenmştr. Tabloda kalın karakterle yazılanlar, en azından %10 anlamlılık düzeynde Ho hpoteznn reddedldğ statstklerdr (Ho: Breysel brm kök vardır). Maksmum geckme uzunluğu Akake'ye göre belrlenmştr. Abstract Intra-Industry Trade, Patents and Internatonal Technology Dffuson In ths paper, the hypothess that one of the most mportant channels of nternatonal technology dffuson s ntra-ndustry trade and the other s patents s tested. In the panel data models ncludng and 19 OECD countres, determnants of nternatonal technology dffuson are analyzed by Pedron s FMOLS method. Accordng to results, ntra-ndustry trade and foregn patents are found to be two of the man channels for the technology spllovers.