9. EŞİKALTI BÖLGESİNDE ÇALIŞAN ANALOG YAPI BLOKLARI

Benzer belgeler
1. ANALOG MOS TÜMDEVRE TEKNİĞİ

3. 2 +V DD I O2 + C C V O - T 1 T 6 T 3 -V SS T 5 T 8 I 7 I O. (c)

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

T.C. ULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK MİMARLIK FAKÜLTESİ ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK DEVRELER LABORATUVARI I

SPICE MOS Model Parametrelerinin Ölçülmesi (1., 2. ve 3. Düzey Modeller)

EEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I

6 İşlemsel Kuvvetlendiricilerin Lineer Olmayan Uygulamaları deneyi

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

ELEKTRONİK DEVRE TASARIM LABORATUARI-I MOSFET YARI İLETKEN DEVRE ELEMANININ DAVRANIŞININ İNCELENMESİ

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

1. ANALOG CMOS TÜMDEVRE TEKNİĞİ

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

AREL ÜNİVERSİTESİ DEVRE ANALİZİ

4.3. Enstrümantasyon kuvvetlendiricisi = R R G

ENDÜSTRİYEL ELEKTRONİK İŞLEMSEL KUVVETLENDİRİCİLERİN LİNEER UYGULAMALARI HAKAN KUNTMAN EĞİTİM-ÖĞRETİM YILI

Akım Modlu Çarpıcı/Bölücü

DENEY 3 : TRANSİSTÖR KARAKTERİSTİKLERİ. Amaç : Bipolar Transistörlerin çalışmasını teorik ve pratik olarak öğrenmek.

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

6. MOS ANALOG ÇARPMA DEVRELER

MOSFET. MOSFET 'lerin Yapısı

Bölüm 7 FET Karakteristikleri Deneyleri

Bu bölümde iki kutuplu (bipolar) tranzistörlerin çalışma esasları incelenecektir.

Şekil 1. n kanallı bir FET in Geçiş ve Çıkış Özeğrileri

DENEY 9: JFET KARAKTERİSTİK EĞRİLERİ

BJT KARAKTERİSTİKLERİ VE DC ANALİZİ

DENEYİN AMACI: Bu deneyde MOS kuvvetlendiricilerden ortak kaynaklı ve ortak akaçlı devreler incelenecektir.

Bölüm 8 FET Karakteristikleri

TRANSİSTÖRLÜ KUVVETLENDİRİCİLER. ELEKTRONİK DEVRE TASARIM LABORATUARI-II Özhan Özkan / 2010

ALAN ETKİLİ TRANSİSTÖR

Bipolar Transistörlerin çalışmasını teorik ve pratik olarak öğrenmek.

TRANSİSTÖR KARAKTERİSTİKLERİ

CMOS OTA EŞİK ALTI ÇALIŞMA GÜVENİLİRLİĞİ

Fotovoltaik Teknoloji

TRANSİSTÖRLÜ YÜKSELTEÇLERDE GERİBESLEME

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

T.C. ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MEKATRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK SİSTEMLER LABORATUVARI 1 OPAMP DEVRELERİ-1

DENEY 1:JFET TRANSİSTÖR VE KARAKTERİSTİKLERİ

YENİ BİR BİPOLAR DEĞİŞTiRİLMİŞ ÜÇÜNCÜ KUŞAK AKIM TAŞIYICI (MCCIII) YAPISI, KARAKTERİZASYONU VE UYGULAMALARI

Mühendislik Fakültesi Elektrik-Elektronik Mühendisliği Bölümü

Şekil 5.1 Opamp Blok Şeması ve Eşdeğer Devresi

Öğrenci No Ad ve Soyad İmza DENEY 3. Tümleşik Devre Ortak Source Yükselteci

T.C. ULUDAĞ ÜNĠVERSĠTESĠ MÜHENDĠSLĠK FAKÜLTESĠ ELEKTRĠK - ELEKTRONĠK MÜHENDĠSLĠĞĠ BÖLÜMÜ ELEKTRONĠK DEVRELER LABORATUVARI I

YÜKSEK BAŞARIMLI İŞLEMSEL KUVVETLENDİRİCİ TASARIMI VE UYGULAMALARI

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

DENEY 5 TRANSİSTOR KUTUPLAMA KARARLILIK ve DC DUYARLILIk

ELM 331 ELEKTRONİK II LABORATUAR DENEY FÖYÜ

ALÇAK FREKANS GÜÇ YÜKSELTEÇLERİ VE ÇIKIŞ KATLARI

DENEY 5- TEMEL İŞLEMSEL YÜKSELTEÇ (OP-AMP) DEVRELERİ

Bölüm 1. Elektriksel Büyüklükler ve Elektrik Devre Elemanları

5. CMOS AKIM TA IYICI. v Y

T.C. ONDOKUZ MAYIS ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK LABORATUVARI-II DENEY RAPORU

ELEKTRONİK DEVRE TASARIM LABORATUARI-I

TEMEL ELEKTROT SİSTEMLERİ Eş Merkezli Küresel Elektrot Sistemi

DENEY-6 LOJİK KAPILAR VE İKİLİ DEVRELER

4. Bölüm: Çift Jonksiyonlu Transistörler (BJT) Doç. Dr. Ersan KABALCI

DENEY 4 TRANSİSTÖR KARAKTERİSTİĞİ KOLLEKTÖR EĞRİSİ

MOSFET:METAL-OXIDE FIELD EFFECT TRANSISTOR METAL-OKSİT ALAN ETKİLİ TRANZİSTOR. Hafta 11

DENEY 8 FARK YÜKSELTEÇLERİ

6. DİRENÇ ÖLÇME YÖNTEMLERİ VE WHEATSTONE KÖPRÜSÜ

Şekil 1: Zener diyot sembol ve görünüşleri. Zener akımı. Gerilim Regülasyonu. bölgesi. Şekil 2: Zener diyotun akım-gerilim karakteristiği

Elektronik cihazların yapımında en çok kullanılan üç yarıiletken şunlardır,

T.C. ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ MEKATRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ELEKTRONİK SİSTEMLER LABORATUVARI 1 OPAMP DEVRELERİ-2

Makine Mühendisliği İçin Elektrik-Elektronik Bilgisi. Ders Notu-3 Doğru Akım Devreleri Hazırlayan: Yrd. Doç. Dr. Ahmet DUMLU

DENEY NO : 4 DENEY ADI : Darbe Genişlik Demodülatörleri

Küçük sinyal analizi transistörü AC domende temsilş etmek için kullanılan modelleri içerir.

Doğru Akım Devreleri

ĐŞLEMSEL YÜKSELTEÇLER

* DC polarma, transistörün uçları arasında uygun DC çalışma gerilimlerinin veya öngerilimlerin sağlanmasıdır.

Elektrik Elektronik Mühendisliği Bölümü Elektronik Laboratuarı I DENEY-2 TEMEL YARI ĐLETKEN ELEMANLARIN TANIMLANMASI (BJT, FET, MOSFET)

Elektrik Akımı, Direnç ve Ohm Yasası

ELEKTRİK AKIMI Elektrik Akım Şiddeti Bir İletkenin Direnci

olduğundan A ve B sabitleri sınır koşullarından

ÖLÇME VE DEVRE LABORATUVARI DENEY: 9. --İşlemsel Yükselteçler

ETA Seminer Dizisi CMOS ANALOG ÇARPMA DEVRELERİ. M.Sc. Devrim Yılmaz AKSIN Elek. Hab. Mühendisi

EEM211 ELEKTRİK DEVRELERİ-I

1.1. Deneyin Amacı: Temel yarı iletken elemanlardan, diyot ve zener diyotun tanımlanması, test edilmesi ve bazı karakteristiklerinin incelenmesi.

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

fonksiyonu için in aralığındaki bütün değerleri için sürekli olsun. in bu aralıktaki olsun. Fonksiyonda meydana gelen artma miktarı

ANALOG ELEKTRONİK BİPOLAR TRANSİSTÖR

DENEY 8: ORTAK EMİTERLİ YÜKSELTEÇ Deneyin Amacı

SAYISAL İŞARET İŞLEME LABORATUARI LAB 5: SONSUZ DÜRTÜ YANITLI (IIR) FİLTRELER

İleri Diferansiyel Denklemler

SAYISAL ELEMANLARIN İÇ YAPILARI

MAK 210 SAYISAL ANALİZ

Hazırlayan. Bilge AKDO AN

Kontrol Sistemlerinin Analizi

4 ELEKTRİK AKIMLARI. Elektik Akımı ve Akım Yoğunluğu. Elektrik yüklerinin akışına elektrik akımı denir. Yük

ZENER DİYOTLAR. Hedefler

Bu deneyde alan etkili transistörlerin DC ve AC akım-gerilim karakteristikleri incelenecektir.

ELEKTRİK DEVRE TEMELLERİ ÖDEV-2

KOCAELİ ÜNİVERSİTESİ ELEKTRONİK VE HABERLEŞME MÜHENDİSLİĞİ ELEKTRONİK LAB 1 DERSİ İŞLEMSEL KUVVETLENDİRİCİ 1 DENEYİ. Amaç:

İşlemsel Kuvvetlendiriciler (Operational Amplifiers: OPAMPs)

Yeni Yüksek Başarımlı CMOS Üçüncü Kuşak Akım Taşıyıcı (CCIII)

8. FET İN İNCELENMESİ

Deneyle İlgili Ön Bilgi:

Bu deneyde kuvvetlendirici devrelerde kullanılan entegre devre beslemesi ve aktif yük olarak kullanılabilen akım kaynakları incelenecektir.

Analog Alçak Geçiren Filtre Karakteristikleri

RF MİKROELEKTRONİK GÜRÜLTÜ

Transkript:

9. EŞİKALT BÖLGESİNDE ÇALŞAN ANALOG YAP BLOKLAR Son yıllarda, eşikaltında çalışan MOS tranzistorların kullanıldığı analog devre yapıları gittikçe önem kazanmaktadır. Bunun başlıca nedeni, hasta üzerine yerleştirilebilecek kadar küçük boyutlu biomedikal cihazlar gibi düzenlerde kullanılabilecek, pille beslenen ve düşük güç harcayan elektronik devrelere duyulan gereksinmedir. Bir MOS tranzistoru eşikaltında çalıştırmanın sağlayacağı çok sayıda yararlı yanları bulunmaktadır: a- Eşikaltında çalıştırılan MOS tranzistorlarla kurulan devreler için güç tüketimi 0 - ile 0-6 W mertebesinde çok küçük değerler gösterir. b- Tranzistorun savak akımı birkaç /q değerinde doyar, bu da tranzistorun referans geriliminden besleme gerilimine kadar olan aralıkta bir akım kaynağı gibi davranmasını sağlamaktadır. 9. Eşikaltı MOS modeli bağıntıları Bir MOS tranzistorda, GS geçit-kaynak geriliminin T eşik geriliminden büyük olması halinde, tranzistorun akım-gerilim ilişkisi doyma bölgesinde ( DS GS - T, GS > T ) β D ( GS T) karesel bağıntısı ile verilir. Genellikle, GS < T için D savak akımı ihmal edilir. Gerçekte, GS < T için yüzeye yakın bölgelerde bir elektron yoğunluğu bulunduğundan, savak akımı sıfır değildir. Bu bölgeye eşikaltı yahut zayıf evirtim bölgesi, bu bölgedeki akıma da eşikaltı akımı adı verilir. Diğer bir deyişle, geçit kaynak geriliminin eşik geriliminin üzerinde olduğu bölge kuvvetli evirtim bölgesi, bu gerilimin eşik geriliminin altında kaldığı bölge de zayıf evirtim yahut eşikaltı bölgesi olarak isimlendirilmektedir. Kuvvetli evirtimde akan savak akımı

9. sürüklenme akımı, buna karşılık, eşikaltı akımı ise bir difüzyon akımıdır. GS gerilimi T eşik gerilimine doğru yaklaştıkça, MOS tranzistorun D - GS karakteristiği karesel bağımlılıktan üstel bağımlılığa dönüşür. Bir MOS tranzistorun eşikaltı davranışını modellemek üzere çeşitli çalışmalar yapılmıştır. Tranzistorun eşikaltı çalışmada akıtacağı savak akımı W D DO ( qg ) [ ( qs ) ( qd ) ] exp / exp / exp / (9.) L bağıntısıyla verilebilir. Bu bağıntıdaki G, S ve D büyüklükleri, geçit, kaynak ve savak uçlarının referans düğümüne göre gerilimlerini vermektedir. Tranzistorun kaynak ucunun referans düğümüne bağlanması durumunda (9.) bağıntısı W D DO ( qgs ) [ ( qds ) ] exp / exp / (9.) L şekline dönüşür. Burada GS ve DS büyüklükleri, sırasıyla, geçidin ve savağın kaynak ucuna göre gerilimleri olmaktadır. Bağıntılardaki DO büyüklüğü prosese bağlı bir parametre olup, özellikle eşik gerilimi ve kaynak-gövde geriliminin bir fonksiyonudur (W/L). DO çarpanı, kısaca on sembolü ile gösterilebilir. Yapılan araştırmalar, (9.) ve (9.) bağıntılarının, MOS tranzistorun has yarıiletken bir gövde üzerinde oluşturulması durumunda geçerli olduğunu ortaya koymuştur. Gerçekte, MOS tranzistorlar has yarıiletken bir gövde üzerinde oluşturulmazlar; NMOS tranzistorlar p tipi bir gövde, PMOS tranzistorlar ise n tipi bir gövde üzerinde gerçekleştirilirler. Bu nedenle, yukarıdaki bağıntılarda bir değişiklik yapılması ve eşikaltı eğim çarpanı olarak isimlendirilen bir model parametresinin (κ) bağıntılara katılması gerekli olur. Bu düzeltme için, (9.) ve (9.) bağıntılarında geçit gerilimine ilişkin terimde /q yerine /(κq) alınmalıdır. Böylece, eşikaltı bağıntısı W D DO ( q G ) [ ( qs ) ( qd ) ] exp κ / exp / exp / (9.3) L şeklini alır. (9.3) eşitliğinde görülen κ parametresi (eşikaltı iletim eğim parametresi) prosesten prosese önemli ölçüde değişim gösterebilir. Ancak, aynı üretim hattından çıkmış tranzistorlar için bu parametrenin sabit değerli olacağı söylenebilir. Bazı kaynaklarda, genellikle, G, S ve D gerilimlerinin değerleri /q ısıl geriliminin katları cinsinden ifade edilerek, başka bir deyişle

9.3 G S D vg, vs, vd / q / q / q şeklinde normalize gerilimler cinsinden verilmektedir. Literatürde bu normalize gerilimler cinsinden ifade edilmiş olan akım-gerilim bağıntıları gerçek gerilimler cinsinden aşağıdaki gibi olmaktadır: D W L DO G S D expκ exp exp (9.4) / q / q / q DS D SAT exp (9.5) / q biçiminde yazılabilir. Bu bağıntıdaki SAT büyüklüğü W G S SAT DO exp κ (9.6) L / q bağıntısıyla tanımlanır ve tranzistorun doyma akımına karşı düşer. Bağıntıdaki (W/L). DO çarpanı yerine kısaca on yazılabilir. Eşikaltında ve doyma bölgesinde çalışan tranzistorun akımını veren üstel bağıntı q D on exp ( GS on ) (9.7) n biçimindeki bir eşitlikle de verilebilir. Bu bağıntıda n bir katsayı, on zayıf evirtimle kuvvetli evirtim arasındaki sınır değer, on büyüklüğü GS on için kuvvetli evirtim bağıntısının vereceği akım değeridir. Bir MOS tranzistorda SAT doyma akımının GS gerilimiyle ne şekilde değişeceği Şekil-9. de gösterilmiştir. 0-5 SAT (A) 0-8 0-0.4 0.6 0.8 GS() Şekil-9.. Bir MOS tranzistorda SAT doyma akımının GS gerilimiyle değişimi.

9.4 9.. Eşikaltı bölgesinde çalıştırılan akım referansı devreleri + CC T R D D3 T T 3 Şekil-9..Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla akım referansı devresi. Eşikaltı bölgesinde çalıştırılan NMOS ve PMOS tranzistorların üstel akımgerilim değişiminden yararlanılarak, bipolar tekniğinden bilinen temel akım referansı devreleri, CMOS tekniği ile de gerçekleştirilebilir. Buna ilişkin bir devre örneği Şekil-9. de görülmektedir. Bu devrede T tranzistoru sürekli iletimdedir. Yapıdan akan akım T, T 3 tranzistorları ve R direnci ile dengelenmektedir. T ve T 3 tranzistorlarının kaynak uçları referans düğümüne bağlı olduklarından, T 3 tranzistorunun savak akımı ( W / L) 3 D3 W L D.exp( R. D. κ / T ) (9.8) ( / ) olmaktadır. Bu akımın alabileceği en büyük değeri hesaplamak üzere, (9.8) eşitliğinin her iki tarafının D büyüklüğüne göre türevi alınıp sıfıra eşitlenirse, söz konusu maksimum değer için W L 3 T D3 ( / ) (9.9) ( W / L) κ. er. bağıntısı elde edilir. Eşikaltı bölgesinde çalıştırılan diğer bir akım referansı devresi Şekil-9.3 de verilmiştir. Bu devrede T ve T 4 tranzistorları bir akım aynası oluştururlar. Bu akım aynasının kollarındaki akımların oranı S /S 4 olsun (Si µ n,p.c OX.(W/L) i ). Yapıda yer alan T ve T 3 tranzistorları da ikinci bir akım aynasını oluşturmaktadır. Bunun kollarındaki akımların oranı da S /S 3 ile gösterilsin. Devredeki akım aynaları, şekilde gösterildiği gibi kapalı bir çevrim oluşturacak biçimde bağlanırlarsa,

9.5 çevrim kazancı akım aynalarının kazançlarının çarpımına eşit olur. Bu çevrim kazancı küçük akım değerleri için den büyük seçilir; böylece kollardaki akımlar bir denge sağlanana kadar artarlar. Söz konusu denge, R direnci üzerinde bir R gerilim düşümü oluşması ve kazanç değerinin e eşitlenmesi ile sağlanır. + DD T T 4 T 6 R T T 3 R R Şekil-9.3. Eşikaltı iletimde çalışan MOS tranzistorlarla kurulan diğer bir akım referansı devresi. Yapıdaki T ve T 3 NMOS tranzistorlarının eşikaltı bölgesinde çalışmaları durumunda, R direncinin uçlarında düşen R gerilimi SS R ln 3 (9.0) q SS 4 şeklinde yazılabilir. Böylece, R /R ile orantılı bir referans akımı, T 4 ve T 6 tranzistorlarının oluşturduğu akım aynasından gösterilen yönde akıtılabilir. 9.3. Fark kuvvetlendiricisi Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla fark kuvvetlendiricisi gerçekleştirmek mümkündür. Şekil-9.4 deki fark kuvvetlendiricisi ele alınsın. Bu devrede kutuplama akımını sağlayan T B tranzistoru, akım kaynağı işlevini yerine getirmektedir. Ortak kaynak düğümündeki geriliminin yeteri kadar büyük değerleri için, bu tranzistorun B savak akımı B kutuplama geriliminin belirlediği sabit bir değerde doyar. B kutuplama akımının T ve T tranzistorlarıyla oluşturulan kollara ne şekilde dağılacağı, ve gerilimleri arasındaki farka ve tranzistorların çalışma rejimine (kuvvetli evirtim yahut eşikaltında çalışma) bağlı

9.6 olur. Kuvvetli evirtimde çalışan tranzistorlarla kurulan bir fark kuvvetlendiricisinin davranışı daha önce Bölüm- de ele alınmıştı. Eşikaltında (zayıf evirtimde) çalışan NMOS tranzistorlarda, (9.6) bağıntısından görüleceği gibi, tranzistorun doyma bölgesindeki SAT savak akımı geçit ve kaynak gerilimlerine G S SAT on exp κ (9.) / q biçiminde üstel olarak bağlıdır. Bu bağıntının T ve T tranzistorlarına uygulanması durumunda κ S κ S on exp on exp (9.) / q / q yazılabilir. D ve D savak akımlarının toplamı B kutuplama akımına eşit olmak zorunda olduğundan κ κ B + on exp. exp + exp / q / q / q (9.3) olur. (9.3) eşitliği gerilimi için çözülür ve bu çözüm (9.) bağıntılarında yerine konursa B κ exp / q. κ κ exp + exp / q / q (9.4) κ exp / q B. (9.5) κ κ exp + exp / q / q elde edilir. - /qκ ise, T tranzistoru kesime girer ve tüm B akımı T üzerinden akar. - < -/qκ durumunda ise T tranzistoru kesime sürülür ve akım tümüyle T üzerinden akar Yukarıda anlatılanlar doğrultusunda düşünülecek olursa, fark kuvvetlendiricisinin çıkış fark akımının

9.7 κ κ exp exp / q / q B. κ κ exp + exp / q / q (9.6) bağıntısı ile verileceği kolayca fark edilebilir. (9.6) bağıntısının pay ve paydasının exp[-( + )/] ile çarpılması durumunda, her bir üstel terim gerilim farkları cinsinden ifade edilebilir. Bu durumda çıkış fark akımı κ( ) B.tanh (9.7) / q biçiminde yazaılabilir. Bu bağıntıdan kolayca fark edilebileceği gibi, çıkış fark akımı, bipolar tranzistorlu fark kuvvetlendiricilerinde olduğu gibi, tanh fonksiyonunu izlemektedir. Bu fonksiyon, orijinden birim eğimle geçer; büyük değerli pozitif argümanlar için +, büyük değerli negatif argümanlar için de - değerlerine gider. Akımların giriş fark gerilimiyle değişimi Şekil-9.5 de gösterilmiştir. T T B B T B Şekil-9.4. Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla fark kuvvetlendiricisi gerçekleştirilmesi

9.8, B B/ 0 - Şekil-9.5. Fark kuvvetlendiricisinin çıkış akımlarının giriş fark gerilimine bağlı değişimi. Eşikaltında çalışan CMOS OTA yapıları + DD T 3 T 4 3 4 + T T O + B B T B Şekil-9.6. Eşikaltında çalıştırılabilecek en basit geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi yapısı Eşikaltında çalıştırılabilecek en basit geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi yapısı Şekil-9.6 da verilmiştir. Bu kuvvetlendirici, daha önce kuvvetli evirtimde çalışan tranzistorlarla gerçekleştirilme şartı altında Bölüm-4 de ele alınan en basit yapıyla aynıdır. Devre bir fark kuvvetlendiricisi ve bir akım aynasından oluşmaktadır. PMOS tranzistorlarla kurulan bu akım aynası yardımıyla ve akımlarının farkı alınarak çıkış ucuna yansıtılmaktadır. T 3 tranzistorundan akan akımına eş bir akım T 4 tranzistorundan da akar. Böylece, devrenin çıkış akımı -

9.9 olur. Bu akımın genel ifadesi daha önce (9.7) bağıntısıyla verilen değişimi izler. Kuvvetlendiricinin çıkış akımı - fark geriliminin bir fonksiyonu olarak çizilebilir. Elde edilecek değişim tanh fonksiyonu biçiminde olur. /qκ değeri, eğrinin orijindeki eğimi yardımıyla bulunabilir. Kuvvetlendiricinin G m geçiş iletkenliği, tanh fonksiyonunun orijin civarındaki eğimidir. Devreye ilişkin bağıntılardaki değişkenler cinsinden bu eğim yazılırsa Gm B (9.8). q.κ G m KB. (9.9) q elde edilir. Bu bağıntıda K bir çarpan, T sıcaklık, B OTA nın kutuplama akımı, k Boltzmann sabiti q elektron yüküdür. Dikkat edilecek olursa, kuvvetlendiricinin geçiş iletkenliği, B kutuplama akımı ile orantılıdır. Bu açıdan bakıldığında, devre bipolar tranzistorlarla kurulan geçiş iletkenliği kuvvetlendiricileriyle aynı davranışı göstermektedir. Bu davranış, Bölüm-4 de ele alınan yapının davranışından, eğimin ( B ) 0.5 ile orantılı olması özelliğinden, farklı olmaktadır. Eşikaltında çalışan basit CMOS geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisinin çıkış akımının giriş fark gerilimi ile değişimi Şekil-9.7 de verilmiştir. O B 0 - - B Şekil-9.7. Eşikaltında çalışan basit CMOS geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisinin çıkış akımının giriş fark gerilimi ile değişimi

9.0 Eşikaltında çalıştırılmaya elverişli diğer bir CMOS geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi yapısı Şekil-9.8 de görülmektedir. Şekilden fark edilebileceği gibi, bu yapı, daha önce Bölüm-4 de ele alınan simetrik CMOS geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi ile aynıdır. Bu devrenin geçiş iletkenliği (eğimi) KB Gm. (9.0) q bağıntısıyla verilebilir. Elde edilen ifade önceki devreye ilişkin bağıntıyla aynı karakterdedir. (9.9) bağıntısından farklı olarak, burada K büyüklüğü devredeki akım aynalarının akım yansıtma katsayısını da içermektedir. Daha önce Bölüm-4 de de değinildiği gibi, simetrik geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi (OTA) yapısı, gerek bipolar gerekse CMOS analog devre tekniğinde en yaygın olarak kullanılan devre topolojilerinden birini oluşturur. T 6 T 5 T 3 T 4 + DD T T 0 T 7 T 8 B T B - SS Şekil-9.8. Eşikaltında çalışan basit CMOS geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisi Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devreleri Analog çarpma devresi gerçekleştirmek üzere yararlanılan en temel yapı bloku, bipolar tekniğinden de bilinen Gilbert dörtlüsüdür. Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla kurulan bir Gilbert çarpma devresi Şekil-9.9 da

9. gösterilmiştir. Şekildeki tranzistorların eşikaltında çalıştıkları düşünülecek olursa, tranzistor akımları κ exp q / B. κ κ (9.) exp( + exp / q / q κ exp / q B. κ (9.) exp( + exp / q / q κ 3 B κ ( ). + tanh / q B κ( ). tanh / q κ( 3 4 ). + tanh / q (9.3) (9.4) (9.5) T 7 T 8 + DD - 4 + + O 3 4 3 3 T 3 T 4 T 6 T 5 T T 4 B T B Şekil-9.9. Eşikaltında çalışan MOS tranzistorlarla kurulan bir Gilbert çarpma devresi

9. q / ) ( tanh. 4 3 4 κ (9.6) + q / ) ( tanh. 4 3 3 κ (9.7) q / ) ( tanh. 4 3 4 κ (9.8) şeklinde ifade edilebilir. Bağıntılardan kolayca görülebileceği gibi, tranzistor akımları giriş gerilimlerine bipolar tranzistorlu devrelerdekine benzer biçimde tanh fonksiyonu ile bağlıdır. Devredeki 3 ve 4 akımlarının toplamı + akımını, 4 ile 3 akımlarının toplamı da - akımını oluşturur. Böylece, + ve - akımları için + + + q / ) (.tanh 4 3 κ (9.9) + q / ) (.tanh 4 3 κ (9.30) bağıntıları yazılabilir. Üst tarafta yer alan PMOS akım aynası yardımıyla + akımı aynalanarak geçiş iletkenliği kuvvetlendiricisindekine benzer biçimde çıkışa yansıtılmakta, böylece çıkış akımı ( ) q O / ) (.tanh 4 3 κ (9.3) q q B O / ) (.tanh / ) (.tanh 4 3 κ κ (9.3) olmaktadır. Eşikaltında çalışan CMOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devresinin tipik karakteristikleri Şekil-9.0 da görülmektedir. Bu karakteristik çıkartılırken - giriş gerilimi parametre olarak alınmıştır. Benzer bir karakteristiğin 3-4 giriş geriliminin parametre olarak alınmasıyla da elde edilebileceği açıktır.

9.3 Şekil-9.9 da verilen devre, (9.3) bağıntısı uyarınca ancak dar bir bölge içerisinde lineer çarpma işlemini yerine getirebilir. Bu özellik, bipolar tekniğinden de iyi bilinen bir özelliktir. O (-) 3 (-) (-) 3-4 -(-) -(-) -(-) 3 Şekil-9.0. Eşikaltında çalışan CMOS tranzistorlarla kurulan analog çarpma devresinin tipik karakteristikleri Düşük güç tüketimli işlemsel kuvvetlendiriciler Eşiklatında çalışan MOS tranzistorlarla kurulan işlemsel kuvvetlendirici yapıları son yıllarda gittikçe önem kazanmaya başlamıştır. Bunun başlıca nedeni, bu tür yapıların bazı biyomedikal uygulamalarda kullanılan, pille çalışan ve insan vücudu üzerine yerleştirilebilen, düşük güç tüketimli düzenler gibi elektronik sistemlerin gerçekleştirilmesine son derece elverişli olmalarıdır. Bu tip kuvvetlendiricilerin sağladıkları yarar sadece düşük çalışma akımı çekmeleri değil, aynı zamanda düşük besleme gerilimlerinde de çalışmalarıdır. Eşikaltı bölgesinde çalışmaya ilişkin büyük işaret bağıntılarının kuvvetli evirtim bağıntılarından farklı olmaları nedeniyle, bunların türevlerinden hareketle elde edilen küçük işaret modeli bağıntıları da farklılık gösterir. Buna göre doyma bölgesi için

9.4 ( ) D on exp κ qgs / (9.33) bağıntısından hareketle bir MOS tranzistorun eğimi D κq κqgs gm on.exp GS qd gm κ. (9.34) olur. Bağıntıdan fark edilebileceği gibi, eşikaltı çalışmada tranzistorun eğimi ile akım arasında lineer bir ilişki bulunmaktadır. Bu açıdan bakıldığında, eşikaltında çalışan MOS tranzistorun eğiminin bipolar tranzistorun eğimine benzer biçimde ifade edildiği söylenebilir. (9.33) bağıntısı birincil olaylari içeren, yani MOS tranzistorun temel davranışını modelleyen bir bağıntıdır. Bu nedenle, savak akımının savak-kaynak gerilimine bağımlılığı temsil edilmemektedir. Kuvvetli evirtim modelinde olduğu gibi, bu bağıntıya da kanal boyu modülasyonu terimi katılabilir. Böylece savak akımı bağıntısı ( ).( + λ. ).exp κ q / (9.35) D on DS GS olur. Buradan hareketle zayıf evirtimdeki (eşikaltı çalışmadaki) çıkış direnci hesaplanırsa ro (9.36) λ. D olur. Eğim bağıntısında olduğu gibi, elemanın çıkış direnci de tranzistorun (W/L) oranından bağımsız kalır. Ancak, eşikaltı çalışma bölgesi için belirlenecek λ kanal boyu modülasyonu parametresinin kuvvetli evirtim için bulunacak olan parametre değerine göre önemli derecede farklılık gösterebileceğini belirtmekte yarar vardır. kuvvetlendiricinin kazanç-band genişliği çarpımı da D GBW κ. q C (9.38)

9.5 + DD T 3 T 4 K C T 6 T T O T 8 T 5 T 7 - SS Şekil-9.. İki kazanç katlı basit işlemsel kuvvetlendirici yapısı. olur. (9.37) ve (9.38) bağıntıları incelenecek olursa, işlemsel kuvvetlendiricinin kazancının çalışma akımlarından bağımsız olduğu, buna karşılık kazanç-band genişliği çarpımının ilk katın tranzistorlarının D çalışma akımına bağımlı olduğu kolayca gözlenebilir. Kuvvetlendiricinin yükselme eğimi hesaplanırsa D5 D YE GBW (9.39) C C κ. q elde edilir. Eşikaltında çalıştırılan diğer bir işlemsel kuvvetlendirici yapısı Şekil- 9. de gösterilmiştir. Bu devrede ilk katın gerilim kazancı gm KO (9.40) gm4 olur. (9.40) bağıntısı eleman parametreleri cinsinden yazılırsa D. κ q KO (9.4) D4. κ4 q

9.6 + DD T 8 T 3 T 4 T 6 T T T 9 B T 5 T 7 - SS Şekil-9.. Eşikaltı iletimde çalışan puşpul çıkışlı işlemsel kuvvetlendirici. elde edilir. Görüldüğü gibi, ilk kat yardımıyla herhangi bir gerilim kazancı sağlanması olanağı bulunmamaktadır. İkinci katın ise oldukça yüksek bir kazanç sağlayacağı söylenebilir. Eşikaltı bölgesinde çalışan puşpul çıkışlı bir işlemsel kuvvetlendirici yapısı olan bu devrede, yapının toplam kazancı T 3 -T 8, T 4 -T 6 ve T 9 -T 7 tranzistor çiftlerinin birer akım aynası oldukları gözönüne alınarak hesaplanabilir. Bu yapılırsa S6 gm S4 KO (9.4) gds6 + gds7 S6. κ S4 KO (9.43).( λ6 + λ7) q elde edilir. Bu tür yapılarla oda sıcaklığında ve tipik tranzistor boyutları için 60dB mertebesinde gerilim kazancı elde etmek mümkündür. Devrenin kazançband genişliği çarpımı S6 gm. S4 gm. B GBW (9.44) C C

9.7 olur. bağıntıda yer alan B katsayısı T 6 ve T 4 tranzistorlarının boyut oranlarının oranıdır. Bu yapı ilkesini kullanarak daha yüksek açık çevrim kazancı değerlerine ulaşmak mümkündür. Bunun için iki farklı yol izlenebilir. Bunlardan birincisi, T 3 ve T 4 tranzistorlarından akan akımların bir kısmını başka tranzistorlardan akıtarak bu tranzistorların eğimlerini düşürmek ve bununla ilk katın kazancını arttırmaktır. Bu yönteme karşı düşen devre yapısı Şekil-9.3 de verilmiştir. Ancak, söz konusu yöntemle kazanç değerinde elde edilebilecek artma miktarı sınırlıdır. Kazancı yükseltmenin ikinci yolu ise, Şekil-9.4 da gösterilen biçimde devrenin çıkış katını kaskod devre biçiminde kurmaktır. Devrenin kazancı hesaplanacak olursa K O q κ n λ p. κ p λn + κ n (9.45) elde edilir. Bu tür bir kuvvetlendirici ile 00dB e varan kazanç değerleri elde edilebilir. Buraya kadar ele alınan işlemsel kuvvetlendirici yapıları, düşük kutuplama akımları nedeniyle, yüksek değerli çıkış akımı veremeyen devrelerdir. Düşük güç tüketimi gerektiren, ancak yüksek değerli çıkış akımına da gereksinme gösteren uygulamalar için dinamik kutuplamalı işlemsel kuvvetlendirici yapıları geliştirilmiştir. Bu tür yapıların temel ilkesi, girişe fark gerilimi uygulandığında giriş katının kutuplama akımının arttırılması fikrine dayanmaktadır. Dinamik kutuplamalı bir işlemsel kuvvetlendirici devresi Şekil- 9.5 de gösterilmiştir. Şekil-9.5 deki devrede T -T 4 tranzistorlarının T 3 ve T 4 tranzistorlarına eşit oldukları ve T 5, T 6, T 7, T 0, T ve T tranzistorlarının birbirine eş oldukları varsayılsın. T 7, T 8, T 9 ve T 0 tranzistorlarının boyutları arasında da

9.8 T T T 3 T 0 T 4 T 6 + DD T 8 T T T 9 T 7 B T 5 T 3 - SS Şekil-9.3. Kazancı iyileştirilmiş işlemsel kuvvetlendirici yapısı. + DD T 8 T 3 T 4 T 6 T T B T 0 B T C C T 9 T 7 + B T 5 - SS Şekil-9.4. Çıkış katının kaskod devre biçiminde kurulması. W L W L A. W L 8 7 A. W L 9 0 (9.46) (9.47)

9.9 ilişkisinin bulunduğu kabul edilsin. Devrenin girişine herhangi bir fark işareti uygulanmıyorsa, ve akımları eşit olur. Bu nedenle, T 6 tranzistorundan akan akım T 3 tarafından sağlanan akıma eşittir. Bunun bir sonucu olarak T 7 ve T 8 tranzistorlarından, benzer şekilde T 9 tranzistorundan akım akmaz. ve akımlarının dengesini bozacak bir fark giriş gerilimi uygulandığında, fark kuvvetlendiricisinin kutuplama akımı Ai i kadar artar; böylece çıkıştan alınabilecek akım O κnn 0 exp / q B. κnn ( A+ ) ( A).exp / q (9.48) olur. Bu bağıntıda B büyüklüğü T 5 ve T 4 tranzistorlarının boyut oranlarının oranını göstermektedir. + DD T T 3 T 4 T 3 T 4 T 5 0 T 8 T - T T + + O T 6 T 7 T 5 T 6 T 7 T 8 T 9 T 0 T 9 T 0 T T -SS Şekil-9.5. Dinamik olarak kutuplanmış işlemsel kuvvetlendirici.

9.0 KAYNAKLAR [] P. Antognetti, D. Caviglia, E. Profumo, CAD model for threshold and subthreshold conduction in MOSFETs, EEE J. Solid State Circuits, ol. Sc-7, pp 454-458, 98. [] B.J. Sheu, D.L. Scharfeter, P.-K. Koand M.-Ch. Jeng, BSM: Berkeley shortchannel GFET model for MOS transistors, EEE Journal of Solid-State Circuits, ol. SC-, 4, pp 558-564, 987. [3] M.D.Godfrey, Device modeling for subthreshold circuits, EEE Transactions on Circuits and Systems, ol.39, 8, pp 53-539, 99. [4] C. Mead, Analog LS and Neural Systems, Addison-Wesley Comp., 989. [5] H. Öztürk, Eşikaltında çalışan CMOS OTA-C süzgeç tasarımı ve tıp elektroniği alanına uygulanması, Yüksek Lisans Tezi, İTÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 994. [6] P.E. Allen and D.R. Holberg, CMOS analog circuit design, Holt, Rinehart and Winston nc., New York, 987. [7] H. Kuntman, Analog tümdevre tasarımı, Sistem yayınları, İstanbul, 99. [8] H. Kuntman, Analog MOS tümdevre tasarımı (Endüstri Semineri Notu), İTÜ İleri Elektronik Teknolojileri Araştırma Geliştirme akfı (ETA), Uygulamaya özgü tümdevre teknolojileri yaz okulu notları, İstanbul,993. [9] H. Kuntman, İleri analog tümdevre tasarımı: Analog devreler (Endüstri Semineri Notu), İTÜ İleri Elektronik Teknolojileri Araştırma Geliştirme akfı (ETA), İstanbul,994. [0] H.Öztürk, H.Kuntman, M.Korürek, E.Yazgan, EEG işareti (α, β, θ ve δ bandı) süzgeçlerinin eşikaltında çalışan CMOS OTA-C süzgeçleri ile tasarımı, Biyomut 94, Biyomedikal Mühendisliği Ulusal Toplantısı Bildiriler Kitabı,6-9, Boğaziçi Üniversitesi 7-8 Ekim 994.