EMUM 2017 Analiz Ücretleri ANALİZ ADI BİRİM BİRİM FİYATI XPS Analizi Adet 250.00 TL XRD (Toz ve katı malzemeler için) pattern çekimi Adet 60.00 TL XRD (İnce film malzemeler için) Adet 200.00 TL XRD pattern çekimi sonrası faz analizi (Search match) Adet 150.00 TL XRD (Tekstür analizi) Adet 600.00 TL SEM-Numune hazırlama* Adet 75.00 TL SEM İncelemesi Saat 250.00 TL Yanmazlık (Alev geciktirme) testi, (UL 94 standardı) Adet 250.00 TL ICP-OES numune hazırlama* Adet 50.00 TL ICP-OES (Her bir element için) Element 60.00 TL Nano partikül boyut ölçüm (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL Nano partikül boyut ölçümü (0.5 nm-10mikron arası) Adet 150.00 TL Zeta potansiyeli (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL Zeta potansiyeli ölçümü Adet 150.00 TL Nano öğütücü kullanım hizmeti Saat 250.00 TL Nano indentasyon (Sertlik, Elestisite Modülü) 5 iz/numune 250.00 TL AFM Saat 300.00 TL DTA-TGA (Hava/Azot ortamında, max. 1000 o C) Adet 150.00 TL FT-IR Adet 100.00 TL Spektrofotometre (absorbans, kırılma ve geçirgenlik) Adet 100.00 TL Fotoluminesans (PL) (Emission, Excitation) ölçümü Adet 100.00 TL Floresans Decay zaman ölçümü (piko, nano ve mikro saniye aralıklarında) (Nano and microsecond flash lamp) Adet 100.00 TL VSM (Manyetik özellikler için) Adet 200.00 TL HIP (1000-15000 psi arası) Saat 400.00 TL HIP (15000-30000 psi arası) Saat 500.00 TL CIP (Max. 60000 psi) Saat 200.00 TL Üniversitelere, Tübitak, San-Tez, vb. projelere % 50 indirim uygulanır. (*) işareti bulunan analizlere indirim uygulanmaz. Fiyatlara KDV (%18) dahil değildir. Analizlerin Türkçe ve İngilizce cihaz sorumlusu tarafından yorumlanması ekstra ücrete tabidir. Analiz sonrası 90 gün içerisinde geri alınmayan numunelerin sorumluluğu merkezimize ait değildir. Numune Kabul ve başvuru: Cesim Narmanoğlu Tel: +90 (232) 301 90 10 Sekreterlik Tel: +90 (232) 301 90 01 E-posta: cesim.narmanoglu@deu.edu.tr emum@deu.edu.tr
X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Thermo Scientific Al K-Alpha Cihaz hakkında: X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir. XPS tüm katı yüzeylerin elementel (H ve He hariç) ve kimyasal hal bilgisinin analizi için kullanılabilir. Yüzeyden 10 nm lik bir derinlikte veri alarak elementel ve kimyasal analiz gerçekleştirir. Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar; Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor? Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut? Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut? Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir? Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise, derinliğe bağlı her katmandaki elementel durum nedir? Film kalınlığı düzenli mi? Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?
Uygulama Alanları: XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana başlıklar altında toplanabilir. Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi Mineral yüzey çalışmaları Polimer çalışmaları Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları Temel atomik fizik çalışmaları Cihaz Bilgileri: Analyzer: 180 double focusing hemispherical analyzer with 128-channel detector X-ray source: Al-Ka micro-focused monochromator with variable spot size (30-400µm in 5µm steps) Ion Gun: Energy Ranges (100-4000eV) Charge Compensation: Dual beam source Vacuum System: 2x 260L/s turbo molecular pumps for entry and analysis chambers Analyze modes: Point Analysis (General + Partial), Linear Analysis, Mapping and Depth Profiling Örnek Teslim Şartları: Numune Tutucu: 4-eksenli örnek tutucu, 60x60mm örnek alanı, 20mm maksimum numune kalınlığı Numunelere asla el değmemeli ve temiz olmalıdır. Aksi takdirde cihazda kirlilik tespit edilebilir. Bu da sonuçlarınızı değiştirebilir. Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede olmalıdır. *Numuneler kesinlikle nem içermemelidir!!! Fiyat Listesi için Tıklayınız.
X-ışını Difraktometresi (XRD) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Thermo Scientific ARL K-Alpha Cihaz hakkında: X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir. Uygulama Alanları: Toz, bulk ve ince film kaplamaların kırınım profillerinin çıkarılmasında, Minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında, Metal ve alaşım analizlerinde, Polimerlerin analizinde, Kırınım profili çıkarılan numune için fazların belirlenmesinde, Polikristal katı malzemelerde tekstür analizi ile kristallerin tercihli yönlenmelerinin belirlenmesinde kullanılır.
Cihaz Bilgileri: Angular resolution: <0.04 o FWHM X-ray source: Cu-Kα Normal scan speed: (0.1 2θ/s) Örnek Teslim Şartları: Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede ince öğütülmüş şekilde (min. 100-150 mg) olmalıdır. İnce film ve katı malzeme örnekleri, min 0.5x0.5 cm - max. 2x2 cm boyutlarında olmalı, maksimum numune kalınlığı 7 mm olmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: COXEM EM-30 Plus Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Cihaz hakkında: SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir. SEM analizlerinde temel olarak algılanan ürünler ikincil elektronlar (secondary electrons, SE) olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır. İkincil elektronların yanında geri saçılan elektronlar (BSE), karakteristik X-ışınları, ışık (katot ışını) (CL), numune akımı ve aktarılan elektronlarla da numuneden çeşitli sinyaller elde edilerek amaca uygun topografi ve kompozisyon analizleri yapılır. Ayrıca cihazda bulunan düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin analizi yapılabilmektedir.
Uygulama Alanları: Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları, Malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması, Malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi özelliklerin belirlenmesinde kullanılır, İmal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılması, Cihaz Bilgileri: Magnification: x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000) Accelerating Voltage: 1kV to 30kV Electron Gun: Tungsten Filament(w) Detector: SE Detector, BSE Detector Maxium Sample Size: 45mm (H), 60mm (Diameter) Vacuum System: Turbo molecular pump (less than 3min), low vacuum mode Örnek Teslim Şartları: Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır. Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir. Numuneler nem içermemelidir. Katı numune ve ince film numune boyutları max 3x3 cm, yüksekliği de max 2 cm olmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Diferansiyel Termal Analiz Termogravimetrik Analiz Sistemi (DTA-TGA) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Perkin Elmer STA 6000 Diferansiyel Termal Analiz Termogravimetrik Analiz Cihazı Cihaz hakkında: Termal Analiz yöntemi, malzemelerin fiziksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı olarak değişiminin incelendiği bir yöntemdir. Termal Analiz, malzemelerin kontrollü bir şekilde ısıtılarak, malzemelerin fiziksel özelliklerinde (ağırlık, absorplanan ya da açığa çıkan ısı vs.) meydana gelen değişimin sıcaklığın bir fonksiyonu olarak ölçüldüğü yöntemleri içerir. DTA-TGA sisteminde numune ve referans arasındaki sıcaklık farkını ve ağırlık değişimini eş zamanlı olarak ölçmeye yarayan bir sistemdir. Sıcaklık farklılıkları, numunedeki sıcaklığın değişimiyle meydana gelen endotermik ve/veya ekzotermik reaksiyonlar sonucunda oluşmaktadır. TGA-DTA cihazı ile değişik malzemelerin erime, camsı geçiş sıcaklığı, süblimleşme sıcaklıkları, kütle kaybı/kazancı, faz değişimi ve oksitlenme gibi özellikleri belirlenebilir. Uygulama Alanları: Toz ve katı malzemelerdeki ağırlık kaybı, Bozulma sıcaklığı tayini, Ekzotermik/endotermik reaksiyonların belirlenmesi, Reaksiyonlarda meydana gelen entalpi değişimi,
Polimerlerde camsı geçiş sıcaklığının belirlenmesi, Diferansiyel termogravimetrik analiz eğrisinin çıkarılması. Cihaz Bilgileri: Sensor: Pure platinum pan holder and reference ring Balance resolution: 0.1 µg Temperature range: Room temperature to 1000 o C Heating rate: 0.1 to 100 o C/min Sample pans: Alumina 180 µl Örnek Teslim Şartları: Toz numunelerin miktarı minimum 5-15 mg arasında olmalıdır. Katı malzeme örnekleri, max 3x3 mm boyutlarında olmalı, maksimum numune kalınlığı 3 mm olmalıdır (toz halinde olmaları tercih edilir). Analizin gerçekleştirileceği atmosfer ortamı (Azot/Hava) ve sıcaklık belirtilmelidir. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
FOURİER DÖNÜŞÜMLÜ KIZILÖTESİ SPEKTROSKOPİSİ (FT-IR) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Thermo scientific NICOLET is10 Cihaz hakkında: Infrared (IR) spektroskopisi; moleküllerdeki çeşitli bağların titreşim frekanslarını ölçer ve moleküldeki fonksiyonel gruplar hakkında bilgi verir. İnfrared spektroskopisinin en çok kullanıldığı alan organik bileşiklerin tanımlanmasıdır; bu maddelerin spektrumlarında çok sayıda maksimum ve minimumların olduğu absorbsiyon bantları bulunur ve bunlar maddelerin birbirleriyle kıyaslanmasına olanak verir. Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar; 1) Organik bileşiklerin yapısındaki fonksiyonel gruplar nelerdir? 2) Yapısı bilinmeyen iki organik bileşik aynı mıdır? Uygulama Alanları: Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR) çeşitli alanlarda daha çok nitel analiz ve karakterizasyon çalışmaları için kullanılmakla beraber nicel analiz için de kullanılan bir yöntemdir. Organik bileşiklerin yapısının aydınlatılmasında Karbohidrat, fosfolipit, aminoasit ve proteinlerin yapı analizlerinde Polimerler ve Plastiklerin karakterizasyonunda Farmasötik bileşiklerin yapılarının aydınlatılmasında Cihaz Bilgileri: Spektrum Aralığı: 7800-350 cm -1 optimized, mid-infrared KBr beamsplitter 11000-375 cm -1 XT KBr extended range mid-infrared optics
Derinlik: 550 mm ATR Aparatı Cihaza ait dayanıklı, yüksek performanslı elmas ATR yüksek kalite spektral veri alınmasını sağlar Ayrıca uçucu sıvıların analizine de olanak sağlar. Örnek Teslim Şartları: 1) Örnekler sıvı veya katı formda olabilir. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Nano İndentasyon Test Cihazı Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: The IBIS nanoindentation System Cihaz hakkında: - Nano indentasyon test cihazı değişik malzemelerden oluşturulan ince filmlerin mekanik özelliklerini (sertlik, elastisite modülü) belirlemekte kullanılır. Uygun bir indenter kullanılarak örnek yüzeyine dik olacak şekilde belirlenen bir maksimum değere kadar yük uygulanır ve bu maximum yük değerine ulaştıktan sonra tekrar dereceli olarak geri yükleme yapılır. Yükleme ve geri yükleme sonucunda elde edilen Yük (N) - Derinlik (nm) eğrileri analiz edilerek numunenin mekanik özellikleri belirlenir. - Scratch test cihazı ince film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma gibi mekanik özelliklerini belirlemek için kullanılır. Aynı zamanda altlık ve film sisteminin sürtünme ve yapışma kuvvetini karakterize etmede kullanılır. Uygulama Alanları: Değişik türdeki malzemelerin (yarıiletkenler, camlar, seramikler, kompozitler ve biyomalzemeler) sertlik ve elastisite modülü ölçümleri, İnce film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma gibi mekanik özelliklerini belirlenmesi, İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri, Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.
Cihaz Bilgileri: Nanoindentasyon Test Cihazı: Load range: 0 500 mn Digital resolution: 0.01 µn Normal scan speed: (0.1 2θ/s) Scratch Test Cihazı: Lateral force range: ±20 mn/ ±200 mn dual range. Higher ranges available to order to ±1 N Theoretical resolution: 0.0006 mn/ 0.006 mn Actual noise floor: 0.005 mn/ 0.01 mn Maximum scratch length: 66 mm Maximum scratch speed: 2000 µm/sec Örnek Teslim Şartları: Bütün örnekler düz ve parlatılmış olmalıdır. Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir. İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Atomik Kuvvet Mikroskobu (Atomic Force Microscope-AFM) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: DME Tools DS 95-50 Cihaz hakkında: Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir. Uygulama Alanları: İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri. Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri. Yüzey incelemeleri yüzey düzgünlüğü konularında yapılabilmektedir. Cihaz Bilgileri: Scanner Modes: Contact mode (DC), intermittent mode (AC) Scan range: 50 µm x 50 µm x 5 µm Accuracy and noise: Hardware linearized scan motion in z direction Noise Level < 0.05 nm rms in vertical direction (Z)
Scan Speed: up to 100 µm/s (DS 95 50) Detection: Self adjusting laser / cantilever deflection system Min. amplitude setting in AC mode < 1 nm Örnek Teslim Şartları: Örnekler maksimum 20 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir. İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve pürüzlülüğü max. 500 nm olmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Partikül Boyut Analizi ve Zeta Potansiyeli Ölçüm Sistemi Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Malvern Zetasizer Nano ZS Partikül Boyut ve Zeta Potansiyel Ölçüm Cihazı Cihaz hakkında: 90 derecelik açıda bulunan dedektörü ve dinamik ışık saçılımı metodu ile, giriş seviyesinde partikül ve moleküler boyut ölçümü yapan bir cihazdır. Ayrıca, Laser Doppler Microelectrophoresis metodu ile zeta potansiyel ve elektroforetik mobilite; Statik Işık Saçılımı metodu ile de moleküler ağırlık ölçümüne olanak sağlar. Zeta potansiyel, taneler arasındaki itme veya çekme değeri ölçümüdür. Zeta potansiyel ölçümü dağılma mekanizmaları ile ilgili ayrıntılı bilgi verir. Belli bir yükteki tane, süspansiyon içerisindeki karşı yükteki iyonları çeker, sonuç olarak, yüklü tanenin yüzeyinde güçlü bir bağ yüzeyi oluşur ve daha sonra da yüklü tanenin yüzeyinden dışa doğru yayılmış bir yüzey oluşur. Yayılmış bu yüzey içersinde "kayma yüzeyi" diye adlandırılan bir sınır bulunur. Yüklü tane ve onun etrafında bulunan iyonların kayma yüzey sınırına kadar olan kısım tek bir parça olarak hareket eder. Bu kayma yüzeyindeki potansiyel zeta potansiyeli olarak isimlendirilir. Uygulama Alanları: Toz metalürjisi, Pigmentler, Nanopartiküller, Partikül boyut dağılımının belirlenmesi, Zeta potansiyeli ölçümü, Isoelektrik.noktanın belirlenmesi.
Cihaz Bilgileri: Particle size measurement: Measurement range: 0.3nm 10.0 microns (diameter) Measurement principle: Dynamic Light Scattering Minimum sample volume: 12µL Zeta potential measurement: Measurement range: 3.8nm 100 microns (diameter) Measurement principle: Electrophoretic Light Scattering Minimum sample volume: 150µL (20µL using diffusion barrier method) General: Temperature control range: Room temperature - 90 C, Light source: He-Ne laser 633nm, Max 4mW. Örnek Teslim Şartları: Sıvı içerisinde % 2 den az katı içeren min. 5 cm 3 sıvı hazırlanmalıdır. Sıvı içerisindeki katının ultrasonik banyo içerisinde tutularak homojen dağılımı sağlanmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: SHIMADZU UVmini-1240 Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır. Uygulama Alanları: Su ve çevre analizleri İlaç uygulamaları Biyokimyasal uygulamalar Cihaz Bilgileri: Spektrum Bant Genişliği: 5nm Dalga Boyu Aralığı: 190.0~1100.0nm Dalga Boyu Kesinliği: ± 1.0nm Dalga Boyu Tekrarlanabilirliği: ± 0.3nm Tarama Hızı: Dalga Boyu Değişimi: Yaklaşık olarak 3800nm/min Tarama: 24~1400nm/min
Işık Kaynağı: 20W Halojen Lamba Döteryum Lambası (socket type) Maksimum Duyarlılık için otoayarlama mevcuttur. Monokromatör: Incorporates aberration-correcting concave blazed holographic grating Detektör: Silikon Fotodiyot Örnek Teslim Şartları: Örnek çözelti halindeyse, çözücü ve kullanılan örnek hazırlama prosedürü ayrıntılı olarak belirtilmelidir. Örnek çözeltisi berrak olmalı ve kör ölçümleri için yeterli miktarda çözücüde getirilmelidir. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Thermoscientific Evolution 600 Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır. Uygulama Alanları: Yaşam Bilimleri Malzeme Bilimi Farmasötik
Cihaz Bilgileri: Lamba: Xenon Flash Lamp Detektör: Dual Matched Silicon Photodiodes Kesinlik: ±0.004A at 1A, ±0.004A at 2A, ±0.006A at 3AÅ Tarama hızı: 1-3,800 nm/min Dalga boyu aralığı: 190 to 1100nm Dalga boyu kesinliği: ±0.20 nm (546.11 nm Hg emission line); ±0.3 nm for 190-900 nm Örnek Teslim Şartları: 1) Örnek katı formda olmalıdır. 2) İnce film ölçümleri için kaplamanın kuvartz cam üzerine yapılmış olması gereklidir. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Titreşen Örnek Magnetometresi (Vibrating Sample Magnetometer-VSM) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: VSM550-100, Dexing Magnet Tech. Co. Cihaz hakkında: Malzemelerin Histeresis döngüleri, Manyetizasyon eğrisi, Isıtma eğrisi, Isıtma/Soğutma eğrisi, Soğutma eğrisi ve benzeri gibi manyetik materyallerin temel özelliklerinin ölçümü için VSM kullanılabilir. Zaman değiştikçe sıcaklığın değişimi, manyetizasyonun doymuş manyetik alan kuvveti, geride kalması, zorlayıcı kuvveti, maks. Enerji ürünü, curie sıcaklığı ve manyetik iletkenlik (ilk manyetik iletkenlik dâhil edilir) gibi değerleri elde edebiliriz. Uygulama Alanları: Diamagnetic, Paramagnetic, Ferromagnetic, Ferrimagnetic, Antiiferromanyetik malzemeler ve Anizotropik malzemeler Partikül ve sürekli manyetik kayıt malzemeleri ve GMR, CMR, değişimli ve spinvalve malzemeleri Manyetik-optik malzemeler Bulk malzemeler, tozlar, ince filmler, tek kristaller ve sıvılar kolayca yerleştirilir
Cihaz Bilgileri: Measure the scope of the magnetic moment: 10-2emu 300emu(Sensitivity:5 10-5emu). Relative accuracy (30emu): Better than ±1% Repeatability (30emu): Better than ±1%. Stability (30emu): Preheating 24 hours, 24 hours of continuous work superior ±1%. Temperature range: From -196 to 900. The magnetic Pole pitch for a fixed spacing is 40 mm, the pole face diameter is 60 mm. Magnetic field: Supplied by the electromagnet, from 0 to 3.5T. Örnek Teslim Şartları: VSM ölçümleri için toz numuneler en az 300 mg olmalıdır. Katı numuneler max. 4 mm çapında ve 10 mm uzunluğunda olmalıdır. Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Sıcak İzostatik Presleme (Hot Isostatic Press-HIP) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Hot Isostatic Press-HIP) Cihaz hakkında: Sıcak izostatik presleme yöntemi (HIP), malzeme özelliklerini geliştirmek veya toz metalürjiden net parça üretmek için yüksek basınç ile sıcaklığın es zamanlı uygulandığı imalat ve ısıl işlem yöntemidir. Basınç, genellikle argon veya benzeri asal gazlar tarafından uygulanırken sıcaklık grafit gibi ısıtma elemanları tarafından sağlanmaktadır. Basınç 1035-3100 bar (15,000-45,000 psi) ve Sıcaklık 500-2200 C (900-3990 F) değerlerindedir. Sıcak izostatik Preslerde tavsiye edilen basınçlı kap kablo sarımlı ve ön-stres uygulanmış tasarımdır. (Wire Wound and Pre-stressed Pressure Vessels). Yüksek sıcaklık ve basınç değerleri malzemelerin özelliklerine göre değişkenlik gösterip ergime sıcaklığının altında tutulmaktadır. Üretimde oluşan iç boşlukları ve gözenekliliği ortadan kaldırmak için kritik uygulamalara yönelik üretilen parçaların HIP işlemine tabi tutularak hatalarının giderilip mekanik özelliklerinin iyileştirilmesi sağlanmış olur. Sıcak izostatik Presleme yöntemi, aynı zamanda iki veya daha fazla malzemenin bir arada katı veya toz formunda bağlanmasına veya kaplanmasına imkân verir.
Sıcak Izostatik Presleme yöntemi, toz metalürjisinde tozu tam yoğun parçalara dönüştürmekte de kullanılır. Bu şekilde, geleneksel eritme, presleme ve sinterleme üretim teknolojileriyle elde edilenden daha ustun mekanik özellikler elde edilir. Toz, şekillendirilmiş sac metal içine hapsedilir ve net şekle çok yakın parçalar üretmek için HIP işlemine tabi tutulabilir. Uygulama Alanları: -Seramik malzemeler, -Döküm, -İlaç sanayi Cihaz Bilgileri: HIP Specifications Equipment Specifications: Pressure vessel Forged body, shell, and end closures. End closures Fully threaded. Code Stamping ASME code stamped Maximum Pressure 30,000 PSI Vessel cooling Water cooled Pressure Controls Automatic and manual Temperature Controls Automatic and manual Ambient temperature limits 15 C to 40 C Ambient relative humidity 10% to 90% Pressure Ramping Ramping from low pressure to 30,000 PSI Graphite Furnace Specifications: Furnace Configuration Heating Element Element Support Thermal Barrier Thermocouples Working Hot Zone Temperature uniformity Maximum air exposure temperature Heating / Cooling rate Modular, blind plug in. Carbon-Carbon composite Self Supporting Graphite composite structure Type C 3.25 Diameter x 5.0 Long Better than + 15 C at 1800 C Steady State 200 C Up to 40 C per minute depending on pressure.
Heating zones Steady State Power Consumption Furnace Weight Maximum Workload Weight Maximum Working Temperatures Environment Single heating zone. 8.5 kw @ 1800 C and 30,000 PSI 20 pounds 20 pounds 1700 C under vacuum 1800 C below 500PSI 2200 C 500 PSI to 30,000 PSI Argon or Nitrogen Expected Furnace Life: Thermal barrier Plug in components Hot Zone Thermal barrier Thermocouples 200+ cycles 500 cycles, dependant on handling 150+ to 1800 C with periodic maintenance Graphite composite structure Dependent on temperature and handling Örnek Teslim Şartları: Numune çapı (max): 40 mm Numune yüksekliği (max): 80mm Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır.!!! Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Soğuk İzostatik Presleme (Cold Isostatic Press-CIP) Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Cold Isostatic Press) Cihaz hakkında: Soğuk izostatik presleme basıncın sürekli ve her yönden eşit olarak uygulandığı bir sıkıştırma yöntemidir. Bu yöntemde toz malzemeler kalıp olarak hizmet eden esnek bir elastik kap içerisine yerleştirilir. Kalıp basınç kabının içindeki bir sıvı ortamına daldırılır ve böylece sıvıya uygulanan yüksek basınç sıvı yardımıyla sıkıştırılacak tozlara iletilerek, tozlar üzerinde bir hidrostatik basınç oluşturulur. Daha sonra kalıp basınç kabından çıkarılarak her bir parçanın kalıptan boşaltılması sağlanır. Sıvı ortam olarak su, yağ veya gaz kullanılabilir. Sıkıştırma işlemi bir izostatik ortamda gerçekleştiği için basınç homojen bir şekilde dağılmakta ve böylece uniform bir yoğunluk elde edilmektedir. Tek eksenli preslerin aksine kalıp duvarı ile pres arasında sürtünmeden doğan kalıcı gerilmeler oluşmamaktadır. Ayrıca sürtünme olmadığından herhangi bir bağlayıcı veya yağlayıcı ilavesine de gerek kalmamaktadır. Karmaşık şekillerin son şekle çok yakın oranlarda ve çok küçük hata toleransları ile üretimi mümkündür.
Uygulama Alanları: -Seramik malzemeler, -Döküm, -İlaç sanayi Cihaz Bilgileri: Specifications Vessel Type Vessel Size Max Operating Pressure Pump Pressure Fittings Valve Controls Safety Relief Recommended Fluid Temperature Limits Electrical Weight Dimensions AIP, VCN060-03-12, monolithic forging, fully threaded top closure. 3 inside diameter x 12 inside length. 60,000 PSI Haskel, Model DXHF-002, air driven pump, 60,000 PSI. Coned and threaded high pressure style, 60,000 PSI rated. V style with replaceable Stellite tipped stem and seat, 60,000 PSI. Astra, Bourdon tube type gauge, with adjustable contact, Omron timer. Rupture disk with 65,000 PSI burst rating. Houghton International Co., Hydrolubric water soluble oil #2A, or similar. Water based glycol solution is also acceptable.(fluid must inhibit rust) 15 C to 40 C 120V, 60Hz, 10 Amps, 3 wire grounded. 550 pounds 24 x 24 x 39 high Örnek Teslim Şartları: Numune çapı (max): 80 mm Numune yüksekliği (max): 200 mm Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır.!!! Fiyat Listesi için Tıklayınız.
Zaman Çözümlemeli Optik Spektroskopi Cihazın Durumu: Çalışıyor Cihazın Adı: Edinburgh Instruments FLSP920 Fluorescence Spectrometer (Steady State, Lifetime, Phospherescence) Cihaz hakkında: Floresans veya fosforesans özellik gösteren organik ya da inorganik maddelerin eksitasyon, emisyon spektrumlarını ölçmede kullanılır. Ölçümler çözelti içerisinde ya da katı fazda gerçekleştirilebilir. Bu yolla maddenin absorpsiyon ve emisyon yaptığı dalga boyları belirlenebilir. Standart ölçümlerde 200-900 nm arasında çalışır. Belli dalga boylarında (görünür bölge ve IR) pulslu lazer ışık kaynakları ile uyarma yapılarak nano saniye düzeyindeki decay time ölçümleri (floresans ömrü) gerçekleştirilir. Mikro second flash lamb ile uyarılarak mikro saniye düzeyindeki floresans ömrü ölçümleri alınabilir.
Uygulama Alanları: Fotofizik, fotokimya, biyofizik ve yarı iletken araştırmalarının geniş alanlarında uygulamalar mevcuttur. Tek ve Çoklu Üssel Bozukluklar, Zamana Bağlı Emisyon Spektroskopisi (TRES), Monomer Eksimer Kinetiği, Zamana Bağlı Floresans Anizotropisi, Çözücü Gevşeme Dinamiği Biyomedikal, Malzeme fiziği, İlaç sektörü Sensör uygulamaları. Cihaz Bilgileri: Işık Kaynakları: Xe900 sürekli xenon lamba (200-900 nm), μf920 microsecond flashlamp, nf920 nanosecond flashlamp Detektörler: Single Photon Counting PMT, NIR dedektör (900-1500 nm) Veri toplama Teknikleri: Single Photon Counting, MCS and TCSPC (spectral scanning, kinetic measurements, fluorescence and phosphorescence decay acquisitions) Sistem Geometrisi: Optik Konfigürasyon Sağ açı geometrisi (standart) Örnek Teslim Şartları: Toz malzemeler (min. 1 gr ve homojen) Katı malzemeler (min. 10 mm çapında ve min. 3 mm kalınlığında) Sıvı malzemeler (min 10 ml) Fiyat Listesi için Tıklayınız.