MKLE OPTİK RZİ ÖLÇÜM İHZLRI (TEOOLİT VE NİVO): KLİRYON, YR METOLRI VE KLİRYON KULLNILN REFERNLR* aş Uzm., TÜİTK UME, Gebze, Kcaeli khan.ganiglu@tubitak.gv.tr LIRTION, JUTMENT METHO OF OPTIL URVEYING INTRUMENT (THEOOLITE N OPTIL LEVEL) N THE REFERENE TO E UE IN LIRTION 8 Mühendis ve Makina ÖZET razi ölçüm cihazları; ülke sınırlarının belirlenmesi, mevcut tprakların sınıflandırılması, dağıtılması, ölçeklendirilmesi, ülke içerisindeki knumlarının belirlenmesi, sınırların tayini, arazi içerisine yerleştirilecek yapıların knumlandırılması ve byutlandırılması gibi farklı amaçlar ile kullanılan cihazlardır. Haritacılık ve inşaat sektörlerinde yaygın larak kullanıldığı gibi, endüstride, özellikle gemi, uçak ve tren gibi geniş ve büyük hacimli ürünlerin knumlandırılması, byutlarının belirlenmesi ve düzlemsellik, diklik ve paralellik gibi gemetrik parametrelerin ölçülmesinde kullanılmaktadır. Ürün yelpazesi geniş bir cihaz grubudur. Farklı mdel ve tiplerde üretildiği gibi, bir markanın da yüzlerce farklı mdel ve tipi bulunabilmektedir. razi ölçüm cihazlarının ilk akla gelenleri ise Tedlit, Niv, Ttal tatin ve GP Knum Ölçerler dir. razi ölçüm cihazlarının dğru ölçüm yapabilmesi için cihaz hatalarının düzeltilmesi gerekmektedir. u hataların giderilmesi için, cihazların belirli periytlar ile ara kntrl ve kalibrasynlarının yapılması gerekmektedir. Ölçüm ve kntrller için, ürün çeşitliliğinin çk lması sebebiyle, uluslararası alanda kabul görmüş yazılı bir kalibrasyn standardının lmamasına rağmen, cihaz dğrulama ve cihazların birbirleri ile karşılaştırılması amacıyla hazırlanmış IO 7 ve 7- (IO 8-) standartları mevcuttur. u knuda üreticilerin buluştuğu rtak nktalar ise yatay ve düşey klimasyn ayarları, eksenlerin birbirlerine lan diklik ayarları ile düzeçleme hatalarının giderilmesi ile ilgili mettlardır. ış mekanda yapılan ölçümler için mira ve uzak hedefler, labratuvarda yapılan kalibrasyn ve ayarlar için ise ptik klimatörler, teleskplar, özel hazırlanmış hedefler kullanılmaktadır. Optik klimatörler, teleskplar, özel hazırlanmış hedefler ayrı ayrı kullanılabileceği gibi, bunların tamamını kendi bünyesinde bulunduran ptik kalibratör sistemleriyle de kullanılabilmektedir. Labratuvar rtamında ptik kalibratör sistemi kullanılarak, Tedlit ve Niv kalibrasyn ve ayarları yaklaşık arc saniyeden başlayan belirsizlikler ile yapılabilmektedir. nahtar özcükler: Tedlit, niv, kalibrasyn TRT urvey measurement devices are such devices that are used fr different purpses. T determine the brderlines f the cuntry, t make classificatin, distributin and scaling f the fields and their brders within the cuntry, and sizing and psitining f buildings n lands can be given as eamples f such purpses. These devices are als used in land surveying and cnstructin sectrs as well as in industry fr determining f psitins, measuring dimensins and gemetrical prperties such as flatness, squareness and parallelism f large and bulky prducts such as ships, planes and trains.there is a large range f prducts fr this device grup. ifferent types and mdels are prduced and even a brand can prduce hundreds f different mdels and types as their prduct range. Thedlites, Levels, Ttalstatins and GP Lcatin Measuring evices are the nes that cme t mind as land measurement devices. In rder t perfrm a precise measurement with these devices, errr crrectin is required. T crrect these errrs, calibratins and cntrls must be perfrmed within certain perids f time. ince there is n internatinally accepted and written calibratin standard because f large range f prducts, there are IO 7 and 7- (IO 8-) standards fr device verificatin and cmparisn. Manufacturers meet n the cn grund n this subject such as the hrizntal and vertical cllimatin adjustments, adjustments fr the squareness f the aes with respect t each ther and leveling errr crrectin methds. urveying leveling rd and distant targets are used fr measurements perfrmed utdrs, and ptical cllimatrs, telescpes and specially made targets are used fr calibratins and adjustments perfrmed in the labratry. Optical cllimatrs, telescpes and specially made targets can be used separately r ptical calibratr systems incrprating all f them can be used t. Using ptical calibratr system under labratry cnditins, Thedlite and Niv calibratin and adjustments can be made with Geliş tarihi :.05.0 uncertainties starting frm abut arc secnds. Kabul tarihi :.06.0 Keywrds: Thedlite, niv (ptical level), calibratin. * 6-8 Eylül 0 tarihlerinde Makina Mühendisleri Odası tarafından Kcaeli de düzenlenen 8. Ulusal Ölçümbilim Kngresi nde sunulan bildiri, dergimiz için yazarı tarafından makale larak yeniden düzenlenmiştir. Ganiğlu, O. 0. Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar, Mühendis ve Makina, cilt 55, sayı 65, s. 8-.. GİRİŞ Mevcut ölçüm cihazların tamamında lduğu gibi arazi ölçüm cihazlarının da hataları mevcuttur. u yüzden cihazların zaman zaman kntrl edilmeleri ve bu hataların düzletilmesi gerekmektedir. Tedlitler için çift yönlü kullanım, hataların bir kısmını azaltsa da tamamını yk edemez. Yeni tip tedlit ve ttal statinlarda luşan hataları düzeltecek yazılımlar mevcuttur. Tedlitler, üç eksene sahiptir; yatay eksen, düşey eksen ve teleskp ekseni. u eksenlerin hepsi birbirlerine dik lmalı ve tek bir nktada kesişmelidir. Tedlitlerdeki hataların çğu bu iki prensibin uyumsuzluğundan kaynaklanmaktadır. Nivlarda iki eksen vardır; düşey eksen ve teleskp ekseni. Çalışma prensibine uygun larak bu iki eksen dik lmalı ve cihaz, teleskp ekseni ile referans bir düzlem luşturabilmelidir. Nivlardaki hatalar ise bu eksenlerden kaynaklanmaktadır. ihazlardaki hataların bulunması ve giderilmesi, arazi ölçümleri, labratuvar ölçüm ve ayarları larak iki ayrı kısımda yapılmaktadır. razi ölçümlerinde, mesafesi bilinen nirengi nktaları ve hedefler yeterli lurken, labratuvar ölçümlerinde farklı referans cihazlar kullanılır.. TEOOLİT VE NİVOLR İÇİN HT KYNKLRI Farklı kaynaklardan alınan bilgiler ve üreticilerin sınıflandırması göz önüne alındığında, hataların sınıflandırılması ve sıralanması klay değildir. Literatürde kullanılan terimlerin farklılığı bunun üstüne eklendiğinde, zaman zaman, bahsedilen hata kaynağı aynı lmasına rağmen, - farklı isim ve tanım ile karşılaşmak mümkündür. undan dlayı genel bir tanımlama çalışmasından snra, cihazlardan kaynaklanan muhtemel hatalar, tedlit için 5 adet, niv için adet larak kabul edilebilir []. Tedlit Hataları. Klimasyn Eksen Hatası a. Yatay Klimasyn b. üşey Klimasyn. üşey Eksen ıfır Hatası (üşey Eksen Klimasyn Hatası ahil). Yatay Eksen Hatası. Teleskp Eksen Hatası 5. Enkder Merkezleme Hatası Niv Hataları. üzeçleme Hatası Tedlitler için ise yüzlü ölçüm alınması ve snucun rtalama değerinin kullanılması bu hataların büyük bir kısmını azaltmaktadır. Yeni tip (elektrnik) cihazlarda ise bu hatalar, cihaz üzerindeki yazımlar ile telafi (kmpanse) edilebilmektedirler. Klimasyn eksen hatası, hem düşey hem yatay klimasyn hatasını içerisinde barındıran bir hatadır. Fakat, aslında bahsedilen yatay klimasyn hatasıdır. Teleskp ekseni yatay eksene dik lmalıdır. Teleskp aşağı yukarı hareket ettirildiğinde, yatay eksene dik bir düzlemde hareket etmelidir. u iki şart sağlanmadığı durumda klimasyn hatası luşur. Yatay klimasyn hatası ise düşey eksen sıfır hatasının bir parçasıdır. üşey klimasyn hatasını düşey eksen sıfır hatasından ayırmak imkânsızdır. u yüzden bu iki hata, aynı anda bir ayar yöntemi ile giderilir. üşey eksen sıfır hatası, düşey eksen açı tablasındaki 0 nktasının düşey eksen tepe nktası ile çakışmamasından kaynaklanan bir hatadır. u hata, mekanik hata lması sebebiyle, eski tip cihazlarda mekanik larak giderilebilir. Yeni tip cihazlarda ise yazılım sayesinde düzeltilebilmektedir. Yatay eksen hatası, düşey eksene dik düzlem ile yatay eksen arasındaki kaymadan kaynaklanan hatadır. Kısaca, yatay eksenin düşey eksene dik lmamasından kaynaklanır. Teleskp ekseni hatası, teleskp ekseni ve düşey eksen merkezinde kesişmelidir. Eğer faklı bir nktada kesişiyr veya kesişmiyr ise bu hata luşmaktadır. Enkder merkezleme hatası, yatay ve düşey enkderlerin merkezlerinin yatay ve düşey eksenlerden geçmemesinden kaynaklanan bir hatadır. Yeni tip elektrnik tedlitlerde bu hata, enkder skalasının taranması ile bulunmakta ve giderilmektedir. Tedlitlerde meydana gelen, fakat cihazdan kaynaklanmayan en önemli hatalardan bir tanesi düşey eksen hatasıdır. u hata, cihazdan kaynaklanan bir hata değil, kurulum hatasıdır. Kullanıcı tarafında cihazın tam düzeçlenememesinden veya düzecin yanlış göstermesinden kaynaklanan bir hatadır. Yeni tip cihazlarda bu hata, belirli bir randa azaltılabilir. Nivlarda ise meydana gelen en önemli hata, düzeçleme hatasıdır. u hata, çekül çizgisine dik bir eksen luşturamamaktan kaynakladır. ildiride, aktarılan hatalara ek larak, farklı kaynaklarda yer alan ancak burada bahsedilmeyen hatalar da bulunmaktadır.. ÖLÇÜM VE YR İŞLEMLERİ razi ölçüm cihazlarında kullanım veya kalibrasyn öncesi dğru düzeçleme işleminin yapılması önemlidir. Her ne kadar yeni cihazlarda düzeçleme hatsını düzeltmek için sistemler (Kmpanzasyn sistemleri) bulunsa da klasik ve mekanik cihazlarda ölçüm güvenilirliği büyük randa peratörün düzeçleme yeteneğine bağlıdır. undan dlayı cihazlarda kullanılan su terazilerinin dğrulukları kntrl edilmeli ve varsa hataları giderilmelidir. u işlem için cihaz, kabaca düzeçlenir ve su Mühendis ve Makina
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar Şekil. Üç yar Vidalı yaklarda üzeçleme [] düzeci bir ayak tarafından ayarlanabilecek şekilde yerleştirilir; ayak kullanılarak ayarlanır ve 80 çevrilir. Hatanın yarısı cihazın ayağından, geri kalan kısmı su terazisi ayar vidasından alınır. Her iki knumda su düzeci, dengede kalana kadar işleme devam edilir [].. ış Mekan Ölçümleri ış mekân ölçümleri, çalışma rtamında veya açık alanda yapılan ölçüm ve ayar işlemlerini kapsamaktadır. ış mekân ölçümleri ikiye ayrılır: Üretici firmaların tavsiye ettiği ve labratuvarda yapılan uygulamaların bir kısmını kapsayan ölçümler ile mevcut standartlarda anlatılan ölçüm yöntemleri. Üretici firmalar tarafından tavsiye edilen ölçümler, genelde kullanım öncesi lmak üzere, cihazların kntrl işlemlerini kapsamaktadır. u çalışma sırasında labratuvarda yapılan ölçümlerin bazıları tekrarlanmaktadır. Tedlitler için yatay ve düşey klimasyn hataları kntrl edilirken, nivların düzeçleme hatalarına bakılmaktadır. Tedlitlerin ayarı sırasında herhangi bir standart veya referans kullanılmazken, nivlar için cetvel veya mira kullanılabilmektedir. Tedlitlerin ayarları sırasında 00 m den uzak hedeflerin kullanılması tavsiye edildiğinden, bu kntrller sırasında, hedef larak uzaktaki cami minaresi, köprü ayakları, antenler veya yüksek bina kenarları kullanılabilmektedir. Niv ölçümleri 0 m ile 00 m mesafe içerisinde yapılabilmektedir. u ölçümler, prfesynellikten uzak lmakla beraber, sadece kullanıcı için cihazın kntrlünü yapmak amacı ile gerçekleştirilmektedir. Tedlit ve Nivlar için dış mekân ölçümleri ile ilgili, ürün çeşitliliğinin çk lması sebebiyle, uluslararası alanda kabul görmüş yazılı bir kalibrasyn standardının lmamasına rağmen, cihaz dğrulama ve cihazların birbirleri ile karşılaştırılması amacıyla hazırlanmış aşağıda sıralanan güncel standartlar kullanılmaktadır. u yüzden bu standartlar, tam anlamıyla kalibrasyn işlemlerini karşılamamaktadır.. 7-, IO 8- Measuring instruments fr building cnstructin. Measuring instruments-prcedures fr determining accuracy in use PRT I: Thery. 7- IO 8- Methds fr determining accuracy in use ptical levelling instruments. 7- and IO 8- Methds fr determining accuracy in use f thedlites. IO 7- Optics and ptical instruments; Field prcedures fr testing gedetic and surveying instruments PRT I Thery 5. IO 7- Optics and ptical instruments; Field prcedures fr testing gedetic and surveying instruments PRT II Levels 6. IO 7- Optics and ptical instruments; Field prcedures fr testing gedetic and surveying instruments PRT III Thedlites Üretici firmaların tavsiye ettiği yöntemler, hem standartlarda anlatılan hem de labratuvar rtamında yapılan ölçümler ile benzerlik göstermektedir... Mevcut tandartlarda Tavsiye Edilen Ölçüm Yöntemleri Çalışma yapılmadan önce cihazların dğruluk değerlerinin yapılan çalışma için uygun lup lmadığının anlaşılması önemlidir. u kısımda anlatılan 7 serisi ve IO 7 serisi standartlarının açıklama bölümlerinde, kullanılan cihazın dğruluk değerinin tespit edilmesi amacıyla bu standartlarda kullanıcı için mettlar önerildiği özellikle belirtilmektedir. yrıca, ölçümlerin açık alanda yapılıyr lması sebebiyle, ölçüm rtamında meydana gelebilecek ani değişimlerin ölçüm snuçlarını etkileyecek lması nedeniyle, bulunan snuçlardan emin lmak için farklı zamanlarda ölçümlerin tekrar edilmesi gerektiği bütün standartlarda belirtilmektedir. 7- (IO 8-) standardı ile IO 7- standardı, bu standartların devamı lan diğer standartlarda kullanılan hesaplama yöntemlerinin açıklandığı ve diğer bölümlerde zaman zaman atıfta bulunulan standartlardır. 7- IO 8- Methds fr etermining ccuracy in Use Optical Levelling Instruments (Kullanım ırasında Nivlarda (Optik Hizalama raçlarında) ğruluk eğerlerinin elirlenmesi İçin Yöntemler) İsminden de anlaşılacağı gibi kullanım sırasında nivların dğruluklarının hesaplama mettlarını anlatan standarttır. Genel larak nivların dğruluk değerleri, km mesafe ve çift tur için verilmektedir. Fakat cihazlar, genellikle 0 m mesafenin altında çalışmaktadır. undan dlayı standartta, biri km mesafede, diğeri 0 m altında mesafedeki perfrmans lmak üzere, iki farklı mett anlatılmaktadır. km de bulunan bir hedefi görmek zr lduğu ve hatayı yükselteceği için, yapılan çalışma en fazla 50 m de yapılmaktadır. ihazdan beklenen dğruluk değeri ise yapılan ölçümler snunda elde edilen standart sapma değerinin,5 katının, cihaz üreticisi tarafından verilen değere eşit veya düşük lmasıdır. Ölçüm Metdu ( km mesafe için) İki adet hedef, 50 m arayla yerleştirilir. Farklı zaman dilimlerinde, her birinde 5 ölçüm lmak kaydıyla set ölçüm yapılır. set ölçümde cihaz iki farklı nktaya (Frward Reverse) yerleştirilerek ölçüm gerçekleştirilir. lınan her ölçüm, seçilen iki ölçüm nktası arasındaki yükseklik farkı larak kaydedilir (Tabl, ütun ). Ortalama değer hesaplanır (Tabl, ütun ). Ortalamadan fark değerleri alınır (Tabl, ütun ) ve kareleri hesaplanır (Tabl, ütun 5). 50 m.lik ölçüm snuçları için tandart sapma 0 ölçüm için;,50, () km lik mesafe için standart sapma hesabı: (km), 6, 6, () km lik mesafe için çift tur (duble run) standart sapma hesabı: 6,,5 () (kmdublelevel) ynı işlem ve ölçümler,. set ölçüm için de tekrarlanır ve ölçüm snuçları bileştirilir. Eğer; (kmdublelevel) 7,8 larak bulunmuş ise, () (kmdublelevel) (kmdublelevel) 6, larak hesaplanır. (5) + Ölçüm Metdu (0 m mesafeden az ölçümler için) Tabl. irinci Ölçüm Metdu Hesap Tablsu [] Measurement ifference in level Mean 5 Frward Reverse 0 +,5,5 5 -,5,5 Frward Reverse + 5,5 0,5 7 -,5,5 Frward Reverse + 0,5 0,5 + 0,5 0,5 Frward Reverse -,5 0,5 6 -,5 6,5 5 Frward Reverse +,5 0,5 8-0,5 0,5 8,5 υ 0,0 υ²,50 Ölçüm için, mesafeleri birbirinden farklı en az adet ölçüm nktası belirlenir (Şekil a). Ölçüm nktaları tplu larak seçilebileceği gibi dağınık larak da (Şekil b) seçilebilir. ırasıyla, seçilen nktalar arasındaki yükseklik farkları bulunur ve bir set ölçüm için beş nktanın değeri iki farklı nktadan (Frward - Reverse) ölçülerek kaydedilir. Her set ölçümde elde edilen iki farklı (Frward - Reverse) ölçümün farkları bulunur (Tabl, ütun 6, 7 ve, 0). ulunan değerlerin mutlak farkları hesaplanır (Tabl, ütun 8) ve karelerinin tplamı bulunur (Tabl, ütun ). Ölçüm snuçlarının tandart sapması 0 ölçüm için;,8 (6) 0 çift tur (duble run) standart sapma hesabı: υ υ² ² Şekil. İkinci Mett İçin Ölçüm Nktası elirlemede eçim Nktaları Öneri Şeması [] 0 Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar Tabl. İkinci Ölçüm Metdu Hesap Tablsu [] istance frm Reading Reading Reverse Reading Reading Reverse bslute N Pint i Pint j instrument t reverse frward frward reverse frward frward difference Pint i Pint j Pint i Pint j Pint i Pint j Pint i Pint j m m l.8 l. d d ² 5 6 7 8 0 5 E E 5 0 0 0 5 5 0 5 7 8 5 67 00 78 0 0 +656-080 -5-678 -07 8 50 8 865 6 8 5-65 +077 +56 +68 +7 0 6 00 ngle) (.0,7,0 m larak bulunur. () üşey çı Ölçümleri üşey açı ölçümleri için tedlitin görüş açısında lan, farklı yüksekliklerde dört adet hedef nktası belirlenir. Ölçüm sıralaması isteğe bağlı larak seçilebilir. ir set içerisinde her iki yüz (sağ ve sl) kullanılarak tplam dört set ölçüm yapılır. Yapılan ölçümler kaydedilir (Tabl, ütun ve ). 00 (veya 60 ) den II. yüz farkı alınır ve I. ölçüm snucuna eklenir (Tabl, ütun 5) ve snuç ye bölünür: m (Tabl, ütun 6). Yapılmış lan dört ölçümün rtalama değerleri, M alınır ve kaydedilir (Tabl, ütun 7). Her ölçüm için rtalama değerlerin farkları ν bulunur (Tabl, ütun 8). Ortalama değerlerin kareleri ve karelerinin tplamı hesaplanır (Tabl, ütun ). irinci set ve her iki yüz ölçümü için standart sapma;, 65 0,7 m () ynı işlem ve ölçümler. set ölçüm için de tekrarlanır: 0, m (5) ihaz için tplam standart sapma; + 0,5 m larak hesaplanır. (6),8,7 (7) (kmdublelevel) ynı işlem ve ölçümler. et ölçüm için de tekrarlanır: (kmdublelevel),0 (8) ihaz için tplam standart sapma, (kmdublelevel) (kmdublelevel), larak + hesaplanır. () 7- and IO 8- "Methds fr etermining ccuracy in Use f Thedlites" (Kullanım ırasında Tedlite lerin ğruluk eğerlerinin Hesaplanması İçin Yöntemler) Kullanım sırasında tedlitlerin dğruluklarının hesaplama mettlarını anlatan standarttır. ihazdan beklenen dğruluk değeri ise yapılan ölçümler snunda elde edilen standart sapma değerinin,5 katının cihaz üreticisi tarafından verilen değere eşit veya düşük lmasıdır. Yatay çı ölçümleri Yatay açı ölçümleri için tedlitin görüş açısında lan, aralarındaki açı en az 00 veya 0 lmak üzere, farklı mesafelerde dört adet hedef nktası belirlenir (Şekil ). Her set ölçümde her bir hedef için açı ölçümü yapılır ve kaydedilir. İlk ölçüm, cihazın I. yüz kesiminden (sl yüz), sırasıyla,,, hedefleri ölçülerek gerçekleştirilir (Tabl, ütun ). İkinci ölçüm, cihazın II. yüz kesiminden (sağ yüz), sırasıyla,,, hedefleri ölçülerek gerçekleştirilir (Tabl, ütun ). Yatay açı değeri 50 veya 5 döndürülerek üç set daha ölçüm yapılır (Tabl, sl yüz). Her iki ölçüm için, ölçüm snucu sıfırlanarak kaydedilir. I. ve II. yüz ölçüm değerlerinin (sıfıra ayarlanmış değerler: Tabl, ütun 5, 6) rtalaması m alınır ve kaydedilir (Tabl, ütun 7). Yapılmış lan dört ölçümün rtalama değerleri M alınır ve kaydedilir (Tabl, ütun 8). Her ölçüm için rtalama değerlerin farkları d bulunur ve farkların rtalamaları hesaplanır (Tabl, ütun ). Ortalama değerlerin rtalaması ile rtalama değerlerin fakları (Tabl, ütun 0) bulunur, kareleri ve karelerinin tplamı hesaplanır (Tabl, ütun )..et ve her iki yüz ölçümü için standart sapma, Şekil. Yatay çı Ölçümleri İçin ört det Hedef eçim Öneri Şeması [5], 0,6 m (0) ynı işlem ve ölçümler. et ölçüm için de tekrarlanır: 0,8 m () ihaz için tplam standart sapma, + 0,7 m larak hesaplanır. () çı ölçümleri için standart sapma, Tabl. Yatay çı Ölçümleri İçin Hesap Tablsu [5] et Target Face left Face right Reduced face left Reduced face right Mean f set, m Mean f statin, M d m n m n² m² 5 6 7 8 0 8,8 70,75 8 5,6 5,5 08,8 7 70,76 5,5,5 0 0,000 0 6,8 5 6,65,560 0 0,000 0 6,8 6 6,6 6,55 0,000 0 6,8 6 6,6,55 6 5,05 6 5,055 8 0,000 0 0,000 0 0,000 0 0,86 7 0,870 6,85 6,85 6,85 85,0 8 85, 6,66 6,65 6,65 8 7,6 8 7,6,55,558 5,558 8 0,0 8 0,0 0,000 0 0,000 0 0,000 0 7, 0 7, 6,86 6,86 8 6,86 5 5,7 5,70 6,66 6,66 0 6,66,86,86 8,55 5,55,55 5, 5,0 0 0,000 0 0,000 0 0,000 0,05 7,05 6,8 6 6,85 6,85 85,55 0 85,5 6,6 6,6 6,6 7,8 7 7,88 6,558 6,558 6,558 6 0,000 0 6,85 6,65,55 0,0 + 0,8 + 0,7-0,5-0, + 0,6 + 0,5-0,7 0,0 0,6 0,5 0, +,0 + 0,, d + 0, d 0,0 +0, - 0,7 +0, 0,0 +0, - 0,7 +0, 0,00 0,0 0, 0,0-0, 0,0 0,0 0,67 0,0 +0,6 0,6 -, -0,5 0,5 -, -0,5 0,5-0, +0, 0,0 -,5 0, 0,5-0,6 0,0-0, 0,6 +0, -0, 0,0 +,0 +0,6 0,6 +0,5 +0, 0,0 +,7 +0, 0,57 +0, υ², m² Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar Tabl. üşey çı Ölçümleri İçin Hesap Tablsu [5] et Target I Face left II Face right I + (00-II) Mean f set, m I+(00-II) Mean f statin, M υ m 5 6 7 8 00,76 6 6,76 00,566 8,05 6 00,75 6,76 0 00,567 8,05 00,76 8 6,77 00,568 8,05 0 00,77 6,76 8 00,567 8,05 6,7 0,68,7 0,6,7 0,68 8,8 0,6 0,7 8 0,6,7 0,6 8,7 0,6 0,7 5 0,6 8 00,5,78 5 0,8 6,00 00,5,77 0, 6,00 00,55 0,77 7 0, 6,0 00,55,77 8 0, 8 6,00 8 00,67 6,6 00,55 8,05 00,67 0 6,68 6 00,55 6 8,05 00,67 5 6,68 8 00,560 6 8,05 6 00,67 6 6,68 00,55 8,05 00,67 6,68 00,55 8 8,05 υ² m² - 0, 0,0 + 0, 0,0-0,6 0,6-0, 0,0-0,6 0,50-0, - 0, - 0, - 0, 0,0 0,0 0,0 0,0 -,0 0,6 +0, 0,0-0, 0,0-0,8 0,6 +0, 0,0 +, 0,78 +0, 0,0 +0,0 0,00 +0, 0,0 +0, 0,0 +0,5 0, υ²,65 m² IO 7-: "Optics and ptical Instruments; Field Prcedures fr Testing Gedetic and urveying Instruments Part II Levels" (Optikler ve Optik ihazlar; Jedezi ve razi Ölçüm ihazları Testleri için razi Prsedürleri, ölüm II Niv) Test prsedürü, sadeleştirilmiş ve tam test prsedürü larak iki kısma ayrılmıştır. adeleştirilmiş test prsedüründe sadece cihazın izin verilen sapmalar içerisinde çalışıp çalışmadığının teyidi yapılabilir. undan dlayı daha hassas ölçümler için tam test prsedürü önerilmektedir. Tam test prsedürü ile cihaz ve ekipmanlar ile ulaşılabilecek hassasiyet belirlenebilmektedir. undan dlayı tam test, daha hassas işlerde kullanılacak nivlar için tavsiye edilmektedir. adeleştirilmiş Test Prsedürü adeleştirilmiş test prsedürü işlemi, 60 m aralıkla yerleştirilmiş hedefler kullanılarak yapılan ve hedefler arasındaki yükseklik farkının hesaplanması ile hatanın bulunmasını sağlayan yöntemdir. Ölçüm sırasında (başlangıç ve bitiş süresi içerisinde) sıcaklık değerinin dakika içerisinde den fazla değişmemesi gerekmektedir. ksi takdirde ölçümün tekrarlanması tavsiye edilmektedir. Ölçülecek cihaz, ve hedeflerinin (Şekil ) rta nktasına yerleştirilir ve 0 adet ölçümden luşan birinci set ölçümler alınır. Ölçümler, ilk 5 ölçüm için önce hedefi (X, X. X 5, X 5 ), snra hedefi larak yapılır (X, X X 5, X 5 ). aha snraki 5 ölçüm, önce, snra hedefi için tekrarlanır (X 5, X 5. X 0, X 0 ). Her ve hedefi ölçüldükten snra, cihazın kaldırılıp tekrar yerleştirilmesi ve ayarlanması tavsiye edilmektedir. İkinci set ölçümler için cihaz, nktasından 0 m uzak bir nktaya yerleştirilir. İlk sette yapıldığı şekliyle 0 ölçüm tamamlanır (X, X. X 0, X 0 ). Her ölçüm için ve nktası farkı hesaplanır ve farkların rtalaması bulunur: dj X j - X j (7) 0 j / 6 0 5 / 6 50 Şekil 5. adeleştirilmiş Ölçüm Yöntemi İçin İkinci Knfigürasyn [6] d j d 0 (8) Ortalama değer, gerçek değer larak kabul edilerek ve nktası arasındaki yükseklik farkı ile aralarındaki fark hesaplanır: r j d - d j () İlk ölçüm seti için deneysel standart sapma, serbestlik derecesi ν 0 - lmak kaydıyla, s 0 rj (0) j í frmülü kullanılarak hesaplanır. / 0 ± / 0 ± / 0 / 0 Şekil. adeleştirilmiş Ölçüm Yöntemi İçin İlk Knfigürasyn [6] Şekil 6. Tam Ölçüm İçin Hedef Yerleşimi [6] Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina 5
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar İkinci set ölçümün rtalama değeri, d lmak üzere, d - farkı cihaz için izin verilen sapma değerinden küçük lmalıdır. Eğer izin verilen sapma değeri tanımlanmamış ise, d - d <,5. s () eşitliğini sağlamalıdır. Tam Test Prsedürü Tam test prsedürü işlemi, 60 m aralık ile yerleştirilmiş hedefler kullanılarak yapılan ve hedefler arasındaki yükseklik farkının hesaplanması ile hatanın bulunmasını sağlayan yöntemdir. ihazın güneşten etkilenmesini engellemek için cihazın şemsiye ile krunması tavsiye edilmektedir. ihaz, ve hedeflerinin (Şekil 6) rta nktasına yerleştirilir ve 0 adet ölçüm içeren set ölçüm yapılır. adeleştirilmiş test prsedürünün hesap kısmında anlatılan yöntemler kullanılarak, her set için rtalama değer gerçek değer larak kabul edilerek, ve nktası arasındaki yükseklik farkı ile aralarındaki fark hesaplanır. r j d - d j j 0 () r j d - d j j 0 () 60 m mesafedeki deneysel standart sapma, serbestlik derecesi ν. (0 -) 8 lmak kaydıyla, s 0 j ν r j km mesafe ve çift tur için standart sapma ise, s 000 IO-LEV s..86 (5) 60 frmülü ile hesaplanır. IO 7- "Optics and Optical Instruments; Field Prcedures fr Testing Gedetic and urveying Instruments PRT III Thedlites" (Optikler ve Optik ihazlar; Jedezi ve razi Ölçüm ihazları Testleri için razi Prsedürleri, ÖLÜM III Tedlit) d () Şekil 8. üşey çı Ölçümleri İçin Hedef izilişi [7] Şekil 7. Yatay çı Ölçümleri İçin Hedef izilişi [7] Test prsedürü, sadeleştirilmiş ve tam test prsedürü larak iki kısma ayrılmıştır. adeleştirilmiş test prsedüründe cihazın izin verilen sapmalar içerisinde çalışıp çalışmadığının teyidi yapılabilir. undan dlayı daha hassas ölçümler için tam test prsedürü önerilmektedir. Tam test prsedürü ile cihaz ve ekipmanlar ile ulaşılabilecek hassasiyet belirlenebilmektedir. undan dlayı daha hassas işlerde kullanılacak tedlitler için tavsiye edilmektedir. Tedlitlerde yatay ve düşey açı için, çift yüzden yapılan ölçümler ile elde edilen standart sapma değerleri hesaplanmaktadır. Yatay açı ölçümleri için 00 m ile 50 m aralığında yatay düzlemde yayılmış, sadeleştirilmiş yöntemde, tam test işleminde 5 hedef kullanılır (Şekil 7). üşey açı ölçümlerinde, tedlit 50 m mesafede yüksek bir bina üzerine 0 aralıklar ile yerleştirilmiş (tplamda 0 tarayan) adet hedef kullanılır. Yatay çı Ölçümleri adeleştirilmiş Test Prsedürü adeleştirilmiş ölçümde set (m) ölçüm yapılması yeterlidir. Ölçümler, X, X, j set numarası, k hedef, (I) I. yüz, (II) II. yüz lmak kaydıyla isimlendirilmektedir. ütün ölçümler için, I ve II. yüz ölçümlerinin rtalama değerleri hesaplanır. X jk + ± 80 (6) eğer birim grad ise 80 yerine 00 yazılır, J,, ; k,,,. irinci hedefe göre düzeltme yapılır, X jk X jk - X j ; J,, ; k,,, (7) Her bir hedef için rtalama değer hesaplanır: ' ' ' k + k + k k ; k,,, (8) Ortalama ile her ölçümün farkı bulunarak rtalama değer hesaplanır: d jk k - X jk ; J,, ; k,,, () dj + dj + dj + dj dj ; j,, (0) rtık bulunur. r jk d jk - d ; J,, ; k,,, () j set ölçüm ve hedef için serbestlik derecesi ν (-).( -) 6 dır. ir set ölçüm için standart sapma; r () 6 larak hesaplanır. Tam Test Prsedürü Tam ölçümde set (m) ölçüm yapılır. Her seri (i) ölçüm, 5 (k) hedef için n set (j) ölçüm alınır. Her hedef; saat yönü istikametinde I. yüzden, saat yönü tersinde II. yüzden ölçülür.. et tamamlandıktan snra, yatay açı tablası, mekanik cihazlarda 60, elektrnik cihazlarda 0 çevrilerek diğer ölçümler alınır. Ölçümler, X, X, j set numarası, k hedef, (I) I. yüz, (II) II. yüz lmak kaydıyla isimlendirilmektedir. ütün ölçümler için I ve II. yüz ölçümlerinin rtalama değerleri hesaplanır: + ± 80 X jk () eğer birim grad ise 80 yerine 00 yazılır. J,, ; k,,,, 5 irinci hedefe göre düzeltme yapılır : X jk X jk - X j ; J,, ; k,,,, 5 () Her bir hedef için rtalama değer hesaplanır : ' ' ' k + k + k k ; k,,,, 5 (5) Ortalama ile her ölçümün farkı bulunarak rtalama değer hesaplanır: d jk - X k jk ; J,, ; k,,,, 5 (6) dj + dj + dj + dj + dj5 dj ; j,, (7) 5 rtık (kalan) bulunur. r jk d jk - d ; J,, ; k,,,, 5 (8) j set ölçüm ve 5 hedef için serbestlik derecesi ν i (-).(5 -) 8 dir. ir set ölçüm için standart sapma, r () 8 larak hesaplanır. set ölçüm ve 5 hedef için bütün ölçümler hesapladığında serbestlik derecesi ν, ν i dir. ütün ölçümler için standart sapma, IO-THEO-HZ 8 (0) üşey çı Ölçümleri adeleştirilmiş Test Prsedürü adeleştirilmiş ölçümde seri (m) ölçüm yapılması yeterlidir. Ölçümler, X, X,(n set), j set numarası, k hedef (t), (I) I. yüz, (II) II. yüz lmak kaydıyla isimlendirilmektedir. I. yüzden ölçümler,. hedeften. hedefe kadar ölçülür,. yüzden ölçümler ise. hedeften. hedefe dğru tamamlanır. ütün ölçümler için I ve II. yüz ölçümlerinin rtalama değerleri hesaplanır: + + 60 X jk () eğer birim grad ise 60 yerine 00 yazılır. J,, ; k,,, 6 Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina 7
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar n set ve her bir hedef için rtalama değer hesaplanır: n set ve her bir hedef için rtalama değer hesaplanır: ' ' ' k + k + k k ; k,,, () rtık bulunur. r jk X jk - k ; J,, ; k,,, () i. ölçüm için artığın veya kalanın karelerinin tplamı hesaplanır: r i r jk () j k set ölçüm ve hedef için serbestlik derecesi ν i (-). 8 dir. ir set ölçüm için standart sapma, r i (5) 8 larak hesaplanır. set ölçüm ve hedef için bütün ölçümler hesapladığında serbestlik derecesi ν ν ve ss. ütün ölçümler için standart sapma; IO-THEO-V s (6) ' ' ' k + k + k k ; k,,, (50) rtık (kalan) bulunur. r jk X jk - k ; J,,; k,,, (5) i. ölçüm için artığın (kalanın) kareleri tplamı hesaplanır: r i r (5) jk j k set ölçüm ve hedef için serbestlik derecesi ν i (-). 8 dir. ir set ölçüm için standart sapma, r i (5) 8 larak hesaplanır. set ölçüm ve hedef için bütün ölçümler hesapladığında serbestlik derecesi ν ve ν i. ütün ölçümler için standart sapma, IO-THEO-V s (5) şeklinde hesaplanır... Üreticiler Tarafından Tavsiye Edilen Ölçüm Yöntemleri Niv ayarlandıktan snra, ve nktalarındaki miralara bakılarak a, b kumaları yapılır. ihaz hatasız lsaydı, a ve b değerlerinin kunması gerekirdi. ve nktalarındaki mira kumalarında yapılan hata miktarları birbirine eşittir. İki nkta arasındaki yükseklik farkı, a a c ve b b c (55) lmak üzere, Şekil. PEG Metdu İle üzeçleme Hatasının Giderilmesi Δh a b a c (b c) a c b + c a b (56) ile hatasız larak elde edilir. ihazda hata lup lmadığını anlamak için nktasının -5 m uzağına cihaz yerleştirilir. ve nktalarındaki miralara bakılarak a ve b ölçümleri yapılır. nktası cihaza yakın lduğundan nktasındaki hatasız kabul edilebilir, yani b b alınır. ihazda düzeçleme hatası lmasaydı, a b + Δh b + a b (57) eşitliğini sağlaması gerekirdi. Hatanın giderilmesi için (+) hedef, üreticinin tavsiye ettiği yöntemle, nktasında a değeri kununcaya kadar kaydırılır (Şekil 0). Tedlit Tam Test Prsedürü Tam ölçümde seri (m) ölçüm yapılması yeterlidir. Ölçümler, X, X,(n set) j set numarası, k hedef (t), (I) I.yüz, (II) II.yüz lmak kaydıyla isimlendirilmektedir. I. yüzden ölçümler. Hedeften hedefe kadar ölçülür,. Yüzden ölçümler ise. hedeften. hedefe dğru tamamlanır. ütün ölçümler için I ve II.yüz ölçümlerinin rtalama değerleri hesaplanır : X jk + + 60 (7) eğer birim grad ise 60 yerine 00 yazılır. J,, ; k,,,. δ i nt j k + 60 eğer birim grad ise 60 yerine 00 yazılır. δ i δ i (8) () Üretimdeki çeşitlilik sebebiyle gerek dış mekân, gerekse labratuvar ölçümlerinde kullanılan ölçüm yöntemleri de çeşitlilik arz etmektedir. u bildiride anlatılan yöntemlerin, yaygın kullanılan veya klay anlaşılan yöntemler lmasına dikkat edilmiştir. Niv Nivlarda düzeçleme ayarına başlanmadan önce (+) hedefin dönüklüğünün kntrl edilmesi ve dönüklük mevcut ise giderilmesi tavsiye edilmektedir. u işlem için, bir çekül uygun bir knumda asılır ve (+) hedef ile düşey eksenin çakışıp çakışmadığı kntrl edilir. Kayma mevcut ise üretici tarafından tavsiye edilen yöntem ile (+) hedef döndürülerek hata giderilir. Nivlarda düzeçleme hatasının bulunması ve giderilmesi için arazi şartlarında en yaygın kullanılan ayar ve kalibrasyn yöntemi, PEG metdu larak bilinen ve iki hedef yardımıyla ölçüm yapılan yöntemdir. Farklı PEG mettlarına ulaşmak mümkündür. undan dlayı, bunlardan bir tanesi için örnek alınması tercih edilmiştir. u mett da üreticilere göre değişiklik gösterebilmektedir. Niv, 60 m veya 00 m aralıklar ile knumlandırılmış adet Mira nın ( ve ) arasına yerleştirilir (Şekil ). Şekil 0. üzeçleme hatasının (+) hedef kaydırılarak ayarlanması [] Tedlitlerde de hataların giderilmesi ve ayar işlemlerinden önce (+) hedef hatası, nivlarda anlatıldığı şekilde kntrl edilmeli ve düzeltilmelidir. Yatay ve düşey klimasyn hatasının bulunması ve giderilebilmesi için, görüşün açık lduğu bir havada uzak ve görüşü açık bir hedef seçilir. Genellikle bu işlem için, yüksek binaların kenarları, antenler veya cami minareleri kullanılmaktadır. ihazın hatası her yüzden yapılan ölçüm ile tespit edilmektedir. ulunan hatanın ayardan önce teyit edilmesi için ölçümlerin en az üç kez tekrarlanması gerekmektedir. ihaz ayarlandıktan ve hedef seçimi tamamlandıktan snra I. yüzde (+) hedef, seçilen hedef ile çakıştırılır ve düşey açı V I ve yatay açı H ZI ölçümü yapılır. II. yüzde aynı şekilde yapılır ve düşey açı V II ve yatay açı H ZII ölçümleri alınır. Her yüzde yapılan en az üç ölçümün rtalaması alındıktan snra aşağıdaki frmüller kullanılarak yatay ve düşey klimasyn hataları bulunur: H ZI+(HZII-80 ) Hz V (V I+V II)-60 (58) (5) 8 Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar Tedlitin Tedalitin(+)hedefi Klimatörün (+) (+)hedefi üşey Eksen Çizgisi Yatay Eksen Çizgisi Tedlitin Tedalitin (+) (+)hedefi Klimatörün (+)hedefi Yatay Eksen Hatası üşey Eksen hatası düzeçlenmiş cihazın ptik çekülü ile aşağıdaki hedef çakıştırılır. ihaz, 80 çevrilir ve hedefin ne kadar kaydığı gözlenir. Hatanın yarısı, hedef kaydırılarak, diğer yarısı ise ptik çekülün (+) hedef ayar vidalarından alınır. u işlem, her iki pzisynda da hedef yer değiştirmeyene kadar devam edilir. Yatay eksen hatası luşmaması için cihazın düşey ekseni yatay eksenine dik lmalıdır. u hatanın bulunması için klimatör sisteminde açılı larak yerleştirilmiş (70 bir açı ile) iki adet klimatör kullanılmaktadır (Şekil 5). Tedlit,. yüzde, teleskp sistemde, yukarıda açılı duran klimatöre çevrilir ve (+) hedefler çakıştırılır. Teleskp aşağıya indirilir ve hedefler, klimatörün ayar vidaları kullanılarak çakıştırılır. ihaz, 80 düşey ekseninde çevrilir ve teleskp,. yüze çevrilir Şekil. üşey ve Yatay Eksende (+) Hedef Pzisyn Hatası [] Eğer birim grad ise 80 yerine 00, 60 yerine 00 yazılır. ulunan hataların giderilmesi için, mekanik cihazlarda (+) hedef kaydırma işlemi yapılırken, elektrnik cihazlarda düzeltme yazılımları kullanılarak yapılmaktadır. u yazılım kısımları bazı cihazlarda kullanıcılara açıkken, bazı cihazlarda şifre veya özel tuş knfigürasynları ile girişe izin vermektedir.. Labratuvar Ölçümleri İlk pzisynu ış mekân ölçümlerinde hedeflerin uzakta lmaları sebebiyle hedefleme hatalarının artması lasıdır. Ortam şartlarındaki değişimler nedeniyle cihazın hatalarının artması beklenen bir durumdur. u yüzden ölçümlerin kntrllü bir rtamda ve klimatörler ile yapılıyr lması sebebiyle, hata tespitinin daha hassas yapılması ve dış mekânda yapılamayacak kadar hassas bir şekilde ayarlanması sağlanmış lacaktır. istemde kullanılan klimatörlerin özellikleri sayesinde hedefin byutları değiştirilmeden ve netliğinde bzulma lmadan yansıtma yapması sağlanır. u sebeple 00 m den daha uzak hedefler bile, net ve ince bir çizgi şeklinde görülebilmektedir. Labratuvarda yapılan ölçümler sırasında teleskp, klimatör, özel hedefler kullanılmaktadır. u sistemleri kendi bünyesinde bulunduran klimatör sistemleri ile kullanılabileceği gibi, bu sistemlerin ayrı ayrı kullanılmaları da mümkünüdür. Niv Şekil. Labratuvar Ölçümlerinde Kullanılan Çk ve Tek Hedefli Klimatörler [] İnce ayar vidası ile Tedlitin İnce ayar vidası ile Tedalitin teleskpunun teleskpunun yukarı yukarı kaydırılmış kaydırılmış hali hali Nivlarda düzeçleme hatasının giderilebilmesi için klimatör sisteminin düzecinin ayarlı lması gerekmektedir. Klimatör Şekil. Niv ve Tedlit yar ve Ölçümlerinde Kullanılan Optik Klimatör istemi sistemin üzerindeki su terazisi yardımı ile düzeçleme işlemi yapıldıktan snra, nivnun (+) hedefi ile klimatörün hedefi çakıştırılır. Eğer cihazda bir hata var ise yatay çizgiler çakışmayacaktır. Hatanın giderilmesi için (+) hedef çakışana kadar kaydırılır. azı sistemlerde karşılıklı iki klimatör mevcuttur. ihaz, birinci klimatörün (+) hedefi ile çakıştırılır ve diğer klimatöre çevrilerek hatası bulunur ve bu hatanın düzeltilmesi için de (+) hedef kaydırılarak düzeltilir. Labratuvarda yapılan çalışma sırasında, eğer çk hedefli klimatör kullanılıyr ise, bu çalışmalara ek larak, cihazın daklama dğrusallık hataları (yatay ve düşey eksen için) ölçülebilmektedir. u çalışma için çk hedefli klimatör ile niv eksenleri çakıştırılır ve daha snra çk hedefli klimatör üzerindeki her bir hedef, sırasıyla (sadece cihazın daklama ayarı değiştirilerek) (+) hedef ile çakıştırılarak hem düşey hem yatay eksendeki hatalar (ptik wedge veya ptik mikrmetre ile) ölçülerek bulunur. Tedlit Tedlitlerde yapılacak çalışma, daha önce dış mekân ölçümlerinde anlatılan ölçümlerden farklı değildir. Tek fark, uzak hedef larak klimatörün hedefinin kullanılmasıdır. Yatay ve düşey klimasyn hataları 58 ve 5. frmüller kullanılarak hesaplanır. Odaklama, dğrusallık hataları (yatay ve düşey eksen için) niv kısmında anlatıldığı gibi ölçülebilmektedir. Tedlitler için, ek larak, ptik çekül çizgisi kntrlleri ve ayarları yapılabilmektedir. u işlem için ptik klimatör sisteminde, bu ölçümler için dik larak yerleştirilmiş klimatör kullanılabileceği gibi, labratuvar zeminine yerleştirilmiş hedef de kullanılabilmektedir. yak üzerine yerleştirilmiş ve 80 Tedlit Thedalite Thedalite Tedlit 80 80 Çk Hedefli Klimatör 0 Şekil. Yatay ve üşey Klimasyn Hatası yarı, Odaklama ğrusallık Ölçümleri (Çk Hedefli Klimatörler ile) [] 80 70 Tek Hedefli Klimatör Çk Hedefli Klimatör Tek Hedefli Klimatör Şekil 5. Yatay Eksen Hatası, Yatay ve üşey Eksen ikliğinin Kntrlü ve yarı (Tek Hedefli Klimatörler ile) [] 0 Mühendis ve Makina Mühendis ve Makina
Optik razi Ölçüm ihazları (Tedlit ve Niv): Kalibrasyn, yar Metdları ve Kalibrasynda Kullanılan Referanslar ve tekrar üstteki klimatöre çakıştırılır. Teleskp, aşağıdaki klimatöre çevrilir ve düşey eksenler arasındaki fark, yatay eksen hatasıdır. Elektrnik cihazlarda bu işlem, cihaz tarafından kullanıcıya sırasıyla yaptırılır ve bulunan değer, düzeltme değeri larak kaydedilir. Mekanik cihazlarda ise üreticinin tavsiye ettiği şekilde giderilebilir.. ONUÇ Niv ve tedlit kalibrasynu ve ayarları için, bu bildiride anlatılan yöntemler haricinde çk farklı yöntem ve tekniğe farklı kaynaklardan ulaşmak mümkündür. 7-, IO 8- ve IO 7- standartları incelendiğinde, bu standartların kalibrasyn işlemlerini değil, daha çk cihazların dğruluk değerlerinin belirlenmesini ve cihazların birbirleri ile karşılaştırılmalarında kullanılabilecek yöntemleri içerdiği görülmektedir. tandartlarda, ayar ve kalibrasynlardan çk, istatistiksel çalışma ve hesaplamalar ile cihaz dğruluklarının bulunması yönünde teknik ve yöntemler mevcuttur. ış mekân ölçümleri için üretici tavsiyeleri göz önüne alınarak yapılacak bir literatür taramasında, bildiride bahsedilmeyen farklı bir ölçüm yöntemine ulaşmak mümkündür. u sebeple, metin içerisinde anlatılan mettların en dğru mettlar lduğu iddia edilemez. ildiri için seçilen mettlar, yaygın bir biçimde kullanılmaktadır. Labratuvar içerisinde yapılan ölçümler için kullanılan yöntemlerden birçğu, yine, üretici firmaların tavsiye ettikleri yöntemlerdir. Labratuvar çalışmalarındaki yöntemler ise mevcut cihaz alt yapısına göre çeşitlilik arz etmektedir. Kullanılan yöntem amaca uygun larak değişimler gösterebilmektedir. undan dlayı, yapılacak çalışmanın belirsizlik bütçesi de kullanılan cihaz ve yapılacak çalışma için değişiklik arz edecektir. razi ölçüm cihazları knusunda çalışma yapacak kişilerin ilk karşılaşacakları en önemli prblem ise kullanılan terimlerin ve isimlendirmelerin çeşitliliğidir. ihazlar, eksene sahip lmalarına rağmen, her eksene en az faklı isim verilebilmektedir. ynı durum, hataların isimlendirilmesi ve tanımlandırılmasında da görülmektedir. Labratuvarların kntrllü bir rtam lması ve hedef larak klimatör sistemlerinin kullanılması labratuarda yapılacak lan ölçümlerin güvenilirliğini artıran unsurlardandır. Labratuvarda yapılan ölçümler için belirsizlik değeri, kullanılan referans sistemlere bağlı larak değişmesine rağmen, arc saniye kadar düşebilmektedir. Tedlitlere ait hataların neredeyse tamamının, Çift Yönlü ölçüm sırasında giderildiği veya azaltıldığı bilinen bir gerçek lmasına rağmen, yaygın uygulama sırasında cihazlar ile yapılan ölçümlerde çğunlukla tek yönlü ölçüm yapılmaktadır. Tek Yönlü ölçüm, yapılacak çalışmalarda alınan nkta sayısının zaman zaman binler ile ifade edildiği göz önüne alındığında, çalışma süresini kısaltmaktadır. undan dlayı belirli peridlar ile cihazların kntrl edilmesi ve hatalarının giderilmesi gerektiği üretici firmalar tarafından tavsiye edilmektedir. KYNKÇ. Martin,., Mıllefaud, J.., Gatta, G. 00. The ERF alibratin ench ctivities, FIG Wrking Week, Paris.. TUİTK-UME Eğitim kümanı, 0. Optik Takımlar, Tanımları, Kullanımı ve Kalibrasynları.. Philip, K. 6. Optical Tling, McGraw-Hill, Trnt.. 7- IO 8-, 0. Methds Fr etermining ccuracy in Use Optical Levelling Instruments. 5. 7- and IO 8-,. Methds fr etermining ccuracy in Use f Thedlites. 6. IO 7-, 00. Optics nd Optical Instruments: Field Prcedures fr Testing Gedetic and urveying Instruments PRT II Levels. 7. IO 7-, 00. Optics and Optical Instruments: Field Prcedures fr Testing Gedetic and urveying Instruments PRT III Thedlites. 8. 7-7, IO 8-7,. Measuring Instruments fr uilding nstructin: Methds fr etermining ccuracy in Use f Instruments When Used fr etting Out.. IO 7-, 00. Optics and Optical Instruments: Field Prcedures fr Testing Gedetic and urveying Instruments PRT I Thery. Mühendis ve Makina