TEKNİK FOTOĞRAFÇILIK XII-XIII. Hafta KOÜ METALURJİ & MALZEME MÜHENDİSLİĞİ
Giriş Mikroskopların gelişimde aşağıda yer alan görüntüleme partikülleri önemlilik arz eder. (1) Işık fotonları (2) Elektronlar veya iyonlar
Giriş Işık mikroskobisinde ışık fotonları görüntüleme partikülleridir; ışık fotonları konvansiyonel cam merceklerle odaklanır. Elektron mikroskobisinde ise görüntülemede elektronlardan faydalanılır. Elektriksel alanda ivmelendirilmiş elektronlar manyetik alanda saptırılır.bu doğrultuda elektromanyetik merceklerden geçen elektronlar fokuslanır. Elektronların yüksek enerjisi doğrultusunda birkaç nm seviyesinde ayırma gücü elde edilir.
Giriş Enerji tahriğine bağlı olarak katı maddeden dört değişik şekilde elektron eldesi (koparımı) bulunmaktadır: 1. foto-emisyon (fotonlarla bombardman ile koparma) 2. termal emisyon (ısıtma sonucu elektron serbestleşmesi) 3. alan emisyonu (güçlü elektriksel alanla koparma) 4. kinetik emisyon (elektron veya iyon bombardmanı ile koparma)
Giriş
Giriş Şekil 4.1. Ayırma gücü ve büyütme açısından numune incelemede kullanılan yöntemlerin karşılaştırılması.
Esaslar Mikroskobik cisimler spektrumun görünür bölgesindeki absorbsiyon yeteneklerine göre ikiye ayrılır ve böylece ışık mikroskoplarının konstruksiyonunda iki temel tip görülür: (1) Transmisyon tipi ışık mikroskobu (2) Refleksiyon tipi ışık mikroskobu
Esaslar Transmisyon tipi ışık mikroskobu Saydam cisimler, gelen ışığın bir kısmını inceleme yapılabilecek şekilde transmitte edebilirler. Bu objelerde alttan gelen ışık objenin içinden geçerek üstte bulunan objektife ulaşır. Bu tür optik mikroskoplar, örneğin biyolojide kullanılır.
Esaslar Refleksiyon tipi ışık mikroskobu Saydam olmayan cisimler, gelen ışığın tamamını absorbladığı için bunların incelenmesi sadece yansıyan ışığın altında olmaktadır. Metaller ve alaşımlar gibi transparan olmayan objelerde metallerin yüksek ışık refleksiyon katsayısından faydalanılır. Bu tür optik mikroskoplar, jeoloji, malzeme bilimi vb. de kullanılır. Metalografik numune incelemelerinin bu tür ışık mikrokobunda yapılması nedeniyle bu mikroskoplar metal mikroskobu olarak da anılır
Esaslar (a) Şekil 4.2. Işık mikroskop düzeneği ve ışık yolunu gösteren kesit: a) Küçük bir metal mikroskobu (eski model). b) reflekte ve transmitte ışık için modifiye edilmiş modern bir mikroskop. (b)
Esaslar Şekil 4.3. Bir ışık mikroskobunda görüntü oluşumunun şematik gösterimi (Le Chatelier prensibi).
Esaslar Şekil 4.4. Ötektik altı bir demir-karbon alaşımının görüntüsü; primer kristaller ve ledeburit ötektiği; a-c artan büyütme oranı.
Esaslar Şekil 4.4. Ötektik altı bir demir-karbon alaşımının görüntüsü; primer kristaller ve ledeburit ötektiği
Esaslar Şekil 4.4. Ötektik altı bir demir-karbon alaşımının görüntüsü; primer kristaller ve ledeburit ötektiği
Esaslar Dalga optik kuramı z nd sin z = maksimumun düzen sayısı, λ = ışığın dalga boyu (mavi ışık için λ=0,4.10-3 mm, kırmızı ışık için λ=0,8.10-3 mm), d = iki nokta arasındaki mesafe, α = odak noktasından ölçülen kırılma çizgilerinin yarı açılma açısı (giriş açısı), n = cisim veya numune ile optik sistem arasındaki ortamın kırılma indisidir.
Esaslar Ayırma Gücü d nsin A A nsin A : numerik apertür
Esaslar Görüntülenecek cisim için en kısa mesafe n sinα çarpımı bir ışık demetinin açılımını ve tek büyütme ile objektifin gücünü karakterize eder. Bu açıklık, objektifin numerik aperturu (AOb) diye adlandırılmaktadır. Ama özellikle ışık kaynağının aperturu (ABe, diyafram) gibi mikroskobun ayırma gücünü etkileyen başka etkenler de bulunduğu için (ABe genelde AOb ye eşit) görüntülenecek cisim için en kısa mesafe, dmin aşağıdaki gibidir: d min genelde 0,5 < k < 1,0 iken A Ob A Be k nsin
Esaslar En büyük mikroskobik ayırma gücü için kısa dalga boylu (düşük λ) ışık kullanarak ( apokromat objektifle mavi ışık) maksimum kırılma indisine sahip ortamda (A=1,66 ya sahip monobromnaftalin daldırma çözeltisi) çalışarak maksimum açılma açısında çalışarak (α = 72 derece).
Esaslar Netlik Derinliği (T) Numune yüzeyinden hangi derinliğe kadar net görüntülenebileceğini verir. Cismin optik eksen yönünde görüntünün netliğinde herhangi bir değişiklik olmadan kaydırılabileceği mesafedir. Bu kavram optiğin kalitesinden ziyade sadece geçerli optik kanunlar tarafından belirlenmektedir. T 1 14 1 1 A 1 mm A = numerik apertur β = görüntüleme ölçeği
Esaslar Stereo Mikroskop Bazen mikroyapı öğelerinin hacimsel düzeneği, kırılma yüzeyleri ve benzer oluşumları fotografik görüntüleme ile sabitlemek gerekir. Bu numunenin aynı bölgesinin birbirinden çok az sapan iki yönden görüntüleyerek başarılmaktadır. Makro görüntülemede birinci görüntülemeden sonra kamerayı biraz kaydırarak ikinci görüntüyü almak yeterli olmaktadır. Küçük görüntü kameraları için özel stereo parçalar bulunmaktadır. Yüksek büyütmeler isteniyorsa bir Stereo Mikroskop gerekmektedir. Burada büyütmeler yaklaşık 1:100 e ulaşmaktadır
Esaslar (a) (b) Şekil 4.5. Stereo mikroskop ile alınmış transformatör çeliği (%4 Si) döküm yapısının sahip stereo görüntüsü. Matriks HBr (hidrojen bromür) ile dağlanmış. Metalik olmayan kalıntılar ile karbürlerin yapısı ve hacimsel konumları dağlamadan etkilenmez.
Donanım Objektif çeşitleri akromat (en düşük düzeltme seviyeli) yarı apokromat (orta düzeltme seviyeli) apokromat (en yüksek düzeltme seviyeli)
Donanım Şekil 4.6. Mikroskopta kullanılan objektifler. (a) Akromatik objektif, (b) Fluorit (yarı apokromatik) objektif, (c) Apokromatik objektif, (d) Objektif üzerinde yazılı spesifikasyonlar.
Donanım Şekil 4.7. Tipik bir okuların boyuna kesiti. Sabit apertur diyaframı, ara görüntünün oluştuğu mercek 1 ve 2 arasında bulunmaktadır. Okular, mikroskopla çalışan kişinin rahatça görebilmesi için korumalı bir gözetleme deliğine sahiptir.
Donanım Mercek hataları küresel hata (sferik aberrasyon) kromatik hata (kromatik aberrasyon, en sık gözlenen hata!) astigmatizm difraksiyon hatası (difraksiyon aberrasyon)
Donanım Kromatik hata Bu hata, ışık kırılmasının dalga boyu ile olan ilişkisine dayanmaktadır. Uzun dalga boyundaki ışığa göre kısa dalga boyundaki ışıkta oluşturulan görüntü, görüntünün elde edildiği merceğe daha yakındır. Çeşitli renklerdeki (dalga boyundaki) ışınlar bir toplar merceğinin aynı odak noktasında buluşmamaktadır. Aksine merceğe en yakın odak noktasında mavi ışınlar, bir uzağındakinde yeşil ışınlar ve en uzağında ise kırmızı ışınlar oluşmaktadır. Normal beyaz ışık kırmızı, turuncu, sarı, yeşil, mavi, indigo-mavi ve mor gibi spektral renklerinin karışımından oluştuğu için beyaz ışık merceğin arkasında bir odak noktasında buluşmayacaktır, aksine mercek düzlemine dik olan bir çizgide toplanacaktır. Bunun sonucu olarak görüntü merceğin arkasında renkli bir şekilde arka arkaya çözülecektir.
Donanım Bir mikroskobun aydınlatma (ışıklandırma) düzeni için aşağıda verilen koşullar sağlanmalıdır : (a) (b) (c) Cismin üzerindeki ışık yoğunluğu, görüntünün hassas bir göz ile hem okularda, hem de ışığı yutan mat bir plaka üzerinde gözlenebilmesini sağlayacak bir şekilde ayarlanmalıdır. Fotografik görüntü almada, ışıklandırma süresi olabildiğince kısa olması için ışık yoğunluğu yüksek tutulmalıdır. Işık demetinden ayrılan ve görüntüye hiç bir şekilde katkısı olmayan rahatsız edici refleksler, ışık girişinden uzak tutulmalıdır. Apertur ve ışık demetinin düşme yönü bütün inceleme konumları için optimal ayarlanmalıdır.
Donanım Şekil 4.8. Köhler aydınlatma presibinin genel bir düzeneğinin şematik gösterimi.
Donanım Şekil 4.9. Mikroskopta düz cam ayna ve prizma ile elde edilen ışık yolu.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Cismin ayrıntılarını görmek için yalnızca bunların aramesafesinin ayırdedilebilir en küçük mesafeden büyük olması yeterli gelmemektedir. Ayrıca cismin ayrıntılarını optik özellikleri açısından ayırdedebilmek, yani görüntüdeki yüzeyde bulunan ögelerin görünebilir kontrastlar vermesi de önemlidir. Renk ve aydınlık kontrastları direkt gözle algılanabilir veya fotografik anlamda görüntülenebilir. Cismi dağlama veya enterferans katmanları ile yüzeyde tabaka oluşturma gibi çeşitli metalografik metotlarla etkileyerek kontrast artırılabilinir.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Aydınlık alan aydınlatması ile kontrast Görüntülemenin cisim tarafından yansıyan (reflekte olan) ışık tarafından oluşturulması durumunda aydınlık alan ışıklandırması söz konusudur. Burada optik eksene dik olan düz yüzeyler aydınlık görünmektedir. Bu kontrast standart görüntüleme modudur
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Karanlık alan aydınlatması ile kontrast Yalnız dağınık dağılmış (difuz saçılmış) ışık görüntüyü oluşturuyor ise karanlık alan ışıklandırılması söz konusudur. Bu durumda optik eksene dik olan düz yüzeyler karanlık görünmektedir. Karanlık alan ışıklandırmanın avantajı, yaygın ışık saçılımı nedeni ile cismin dış yüzeyindeki rölyef ayrıntılarının kontrastça daha zengin eldesidir
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) (b) Şekil 4.10. Elektrolitik demir, %1 lik nital ile dağlanmış. a) aydınlık alan, b) karanlık alan görüntüsü.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Polarize ışık kontrastı Normal beyaz ışık, ilerleme yönüne dik olarak herbir yöne salınmaktadır. Bu tür polarize olmayan bir ışık, belli yönde birbirine bağlanmış iki kalkspat/kalsit kristali (Nicol prizması) içinden geçirildiğinde yalnızca bir düzlemde titreşir; ışık polarize olmuştur. Polarize ışık, ikinci bir Nikol prizmasından (analizatör) geçemez. Yalnızca eğer polarizatör ve analizatör kristalleri arasında optik aktif (anizotrop) bir madde bulunduğunda polarize ışık analizatörden de geçebilir, çünkü optik aktif maddeler polarize ışığın titreşim düzlemini değiştirir ve böylece önceden karanlık olan görüntüleme yüzeyi aydınlanır.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) Şekil 4.11. Saf aluminyum a) tane sınırı dağlanmış, aydınlık alan, b) florobor asitiyle anodik oksidasyon, polarize ışık. (b)
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) (b) Şekil 4.12. Çelik içerisindeki silikat tipi kalıntılar, parlatılmış numune. a) paralel Nikols ile görüntülenmiş, b) çapraz Nikols ile görüntülenmiş.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Faz kontrastı Faz kontrası yönteminde parlatılmış numune yüzeyinde reflekte olan ışığın mikroyapısal fazların sertliğine bağlı olarak oluşan düşük yükseklik farklarından faydalanılır. Farklı yüksekliklerde reflekte olan ışık faz kaymasına uğrar. Gözümüzle algılayamadığımız bu faz kaymaları, mikroskopta ışık yolunda fokus düzlemin sokacağımız bir faz plakası ile aydınlık-karanlık efektine dönüşür. Böylece 20-50 Ă arası çok küçük yükseklik farkları görülebilir.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) (b) Şekil 4.13. Alaşımlı bir çeliğin ferrit ve östenit den oluşan çift fazlı mikroyapısı, dağlanmış. a. aydınlık alan, b. pozitif faz kontastı: ferrit daha aşağıda, sert olan östenit yukarda
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) Şekil 4.14. Alaşımlı çelik, sertleştirilmiş ve temperlenmiş; karbür içeren mikroyapı. a) %1 lik nital ile dağlanmış: aydınlık alan, b) dağlanmamış: aydınlık alan ve faz kontrastı. (b)
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme Enterferans kontrast Işık mikroskopisinde enterferans katman yöntemi, parlatılan numune yüzeyinde enterferans tabakalarının oluşturulması ve böylece refleksiyon-enterferans filtrelerinin oluşturulmasına dayanmaktadır. Böyle bir kısmi absorpsiyon göstermeyen tabakanın etkisi, numune yüzeyine gelen ışık dalgalarının, metal/tabaka ve tabaka/hava arayüzeylerinde çoklu refleksiyonlar ile zayıflamasına bağlıdır. Böylece mikroyapı öğeleri arasındaki kontrastın artışı elde edilir. Bu kontrast artışı, iki faz arasında yansıyan ışığın şiddet farklılığının artırılması yanısıra renk kontrastının da artırılmasına bağlı bir olaydır.
Kontrast Oluşumu & Görüntüleme (a) (b) (c) Şekil 4.15. Yüksek hız çeliğinde değişik kontrast yöntemlerinin uygulanması: (a) Enterferans kontrast (b) MC karbürlerin potensiyostatik olarak amonyumasetat ile kaplama dağlaması, (c) Materyal kontrast, SEM.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Mikroskobisinde Esaslar 2 değişik tip elektron mikroskobu geliştirilmiştir: (1) Numune yüzeyini tarayarak görüntüleyen tür: tarama elektron mikroskobu d 10 nm (2) Numune içinden geçerek görüntüleyen tür: transmisyon elektron mikroskobu; 100 kv ivmelendirme voltajında: = 0.037 nm d= 17 Å
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Elektron Saçılması Katot-anot düzeneğinde üretilerek numune üzerine gönderilen elektron demetindeki elektronlara birincil elektronlar (primary electrons) denir. Demetle gelen primer elektronlar numuneye ulaştıklarında numune atomlarının elektrostatik alanları ile etkileşir ve bu atomların yörüngelerindeki elektronlarla saçılır (çarpışır). Primer elektronlar elektrostatik alanla yön değiştirirler. Bu durumda primer elektronun yönü değişirken elektron hızı değişmediği için enerjisi de değişmez. Bu tip elektronların bir kısmı bu şekilde numune yüzeyinden geri çıkabilirler.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Elektron Saçılması Enerjileri primer elektronlarla aynı olan veya enerji kaybetmiş ancak primer elektron enerjisine yakın enerjiye sahip elektronlara geri saçılmış elektronlar (back scattered electrons, BSE) denir. Primer elektronlar atom yörüngelerindeki elektronlarla da çarpışabilirler. Dış yörüngedeki elektronların çarpışma ile atomlardan sökülebilmeleri için az bir enerji yeterlidir. Bu elektronlara ise ikincil elektronlar (secondary electrons, SE) denir.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Elektron Saçılması İç yörüngedeki elektronlarla primer elektronların çarpışması sonucunda bu yörüngedeki elektronlar da yerlerinden sökülebilirler. Bu şekilde iç yörüngede meydana gelen boşluklar, dış yörüngedeki elektronlar tarafından doldurulduğunda ise iki konum arasındaki fark X- ışını olarak yayınır. Yörüngeler arası enerji farkı sabit olduğu için ve yörüngeler arasında yüksek olasılıklı transferler de kısıtlı olduğundan, yayınan X-ışınlarının büyük bir kısmı belirli enerjilerde yayınır. Bunlara karakteristik X-ışınları adı verilir. X-ışını yayınması yerine enerji farkı dış yörüngeden bir elektronun serbest kalması ile karşılanırsa bu elektrona Auger elektronu (AE) denir.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Elektron Saçılması Elastik Saçılma: Numune atomlarının elektrostatik alanlarında yanlız yönünü değiştiren elektronların enerjileri aynı kalır. Hiçbir enerji transferinin yer almadığı bu tip saçılmalara elastik saçılma denir. Geri saçılan elektronların bir kısmı bu şekilde oluşur. İnelastik Saçınma; Primer elektronlar numune elektronlarının elektrostatik alanları ve yörünge elektronları ile çarpıştıklarında enerjilerinin bir kısmı veya tamamını kaybederler. Bu tip saçılmaya ise inelastik saçınma denir. Geri saçılan elektronların bir kısmı ile ikincil elektronların tamamı bu şekilde oluşur.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Elektron Saçılması Şekil 5.1. Elektron demeti numune etkileşimi.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Karakteristik Oluşumlar Geri Saçılmış Elektronlar (BSE): Atom çekirdeklerindeki bir ve birçok elastik saçılma ile içeri giren birincil elektronların bir kısmı tekrar dışarı çıkabilir. enerji kaybetmeden (ilk primer enerjileriyle): elastik saçılmış grup kısmi enerji kaybıyla (önceden inelastik saçılma): inelastik saçılmış grup
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Karakteristik Oluşumlar İkincil Elektronlar (SE): Madde içi dış yörünge elektronları birincil elektronlarla inelastik çarpışmalarla (örneğin valans elektronları) enerji kazanırlar ve böylece kendi atomunu terkederler. Auger Elektronları (AE):Yüksek enerjili birincil elektronlar atomun iç kabuğundan da elektron dışarı atılabilir. Dış kabuktan gelecek bir elektronla bu boşluk doldurularak enerji dengesi sağlanır. İki kabuk arası enerji farkı serbestleşir: Bu enerjiyi alan dış bir elekron emitte edilir: bu elektrona Auger elektronu denir. X-ışın kuantı olarak emitte edilir: bu emisyona karakteristik X-ışınının fotonu denir.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi Karakteristik Oluşumlar Şekil 5.2. Sekonder (SE) ve Geri Saçınan (BSE) elektronların belirli enerji aralıklarında (E) bulunma olasılıkları (PE).
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi X-ışın Oluşumu Bremsstrahlung (Frenleme Işınımı) Maddenin atom çekirdeklerinin Coulomb alanına giren birincil elektronlar yönlerinden saptırılır ve frenlenir (enerji kaybı). Bu kinetik enerji kaybı ısı ve X-ışın foton oluşumuna yolaçar. Yönsel saptırma ve frenleme oldukça değişik oluştuğundan emitte edilen elektromanyetik ışının sürekli bir enerji spektrumuna sahiptir. Bu spektrumun kısa dalga tarafındaki sınır tamamen frenlemede elde edilen kinetik enerji (ki bu primer elektron enerjisi) miktarındadır.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektron Numune Etkileşimi X-ışın Oluşumu Karakteristik Işınım Elektron üst-alt kabuk geçişi sonucu enerji X-ışın fotonu olarak gönderiliyorsa buna karakteristik ışınım denir. Bu ışınım element spesifiktir (her enerji belirli bir elemente ait).
Tarama Elektron Mikroskobu Optik Düzenek & Mercek Hataları Şekil 5.3. Ayırma Gücü (), Netlik Derinliği (T) ve Büyütme (M) açısından Işık Mikroskobu (LM) ile Tarama Elektron Mikrosko-bunun (SEM) farkı.
Tarama Elektron Mikroskobu Optik Düzenek & Mercek Hataları Şekil 5.4. Tarama Elektron Mikroskobunda görüntünün oluşumu.
Tarama Elektron Mikroskobu Optik Düzenek & Mercek Hataları Kondenser Mikroskobun içindeki ilk mercekler kondenser (yoğunlaştırıcı) merceklerdir. Kondenser mercek sistemi bir veya birkaç mercekten oluşabilir. Kondenser merceği kesişme noktasındaki demetin küçültülmüş bir görüntüsünü oluşturur. Objektif Objektif merceği kondenser mercekten çıkan demetin, numune üzerine odaklanmasından sorumludur. Objektif mercekle numune arasındaki uzaklığa çalışma aralığı denir. Çalışma aralığı kısa tutulduğunda odaklanan demet çapı incelir. Dolayısıyla ayırma gücü yükselir. Saptırma Bobinleri Tarama Elektron Mikroskobunda demetin numune üzerinde tarama işlemini yapabilmesi için demetin periyodik olarak sağa sola ve aynı anda yukarı aşağıya kaydırılabilmesi gerekmektedir. Bu kaydırma işlemi saptırma bobinleri adı verilen sargıların yarattığı manyetik alanlarla yapılır.
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Topografik Kontrast & Gölgeleme Efekti Şekil 5.9. Sekonder ve geri saçınan (BSE) elektronlar için gölge efekti oluşumu.
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Topografik Kontrast & Gölgeleme Efekti Şekil 5.10. Köşe efekti ile elektron veriminin değişimi.
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Materyal Kontrast Şekil 5.11. SE ve BSE elektron verimi ile atom numarası ilişkisi, : SE verimi, : BSE katsayısı, Ordnungszahl Z: Atom numarası Z.
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Materyal Kontrast
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Diğer Kontrast Mekanizmaları Oryentasyon kontrastı, Potansiyel kontrastı, Manyetik kontrast
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Kontraslama Örnekleri Sekonder Elektron (SE) Geri Saçılan Elektron (BSE-kompozisyon)
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Kontraslama Örnekleri Karakteristik X-ışını Haritalama Geri Saçılan Elektron (BSE-topografi)
Tarama Elektron Mikroskobu Kontrast Oluşumu Kontraslama Örnekleri Absorbe Edilen Elektron Potansiyel Kontrast
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.29. SEM, topografik kontrast, saat vidası.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.30. SEM, topografik kontrast, iğne ucu ve iğne deliği.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.31. SEM, topografik kontrast, fitalik asit kristalleri.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.32. Döküm çelik numunede ledeburitik mikroyapı, dağlanmış numune. SEM, topografik kontrast ve materyal kontrast. Açık/koyu gri: matriks, beyaz/aydınlık: M2C karbürü.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.33. Şekil 5.32 deki aynı çeliğin toz metalurjik üretiminden toz tanesi, aşırı dağlanmış numunede karbür iskeleti. SEM, topografik kontrast. Koyu gri/siyah: aşırı dağlanmış matriks, açık gri: M2C karbürü.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.34. Şekil 5.33 deki çeliğin toz metalurjik üretiminden toz tanesi yüzeyinin morfolojisi; MC karbürlerinde heterojen çekirdeklenme sonucu eşeksenli kristal büyümesi. SEM, topografik kontrast.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.35. Ferritik-perlitik mikroalaşımlı yapı çeliği, dağlanmış mikroyapı. SEM görüntüsü, topografik kontrast.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.36. Sert metal mikroyapısı, SEM görüntüsü, materyal kontrast; beyaz/açık gri: WC, açıkgri-koyu gri: TiC/TaC/NbC karışık karbür, siyah: Co.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Şekil 5.37. 0.89 mm çapında bronz lastik teli numunesinin kırılma yüzeyinin SEM görüntüsü.
Tarama Elektron Mikroskobu Elektronmetalografik Uygulamalar Diğer Uygulamalar Şekil 5.38. 0.89 mm çapında bronz lastik teli numunesinin kırılma yüzeyinin boyuna kesitinin Işık mikroskobundaki parlatılmış ve dağlanmış konumdaki görüntüleri.