S-Parametre Ölçümleri

Benzer belgeler
3.5. Devre Parametreleri

LCR METRE KALİBRASYONU

ANTEN VE MİKRODALGA LABORATUVARI

MİKRODALGA ÖLÇÜM TEKNİKLERİ

Anten Tasarımı. HFSS Anten Benzetimi

Bölüm 14 Temel Opamp Karakteristikleri Deneyleri

RF MİKROELEKTRONİK GÜRÜLTÜ

Asıl başlık stili için tıklatın Ulusal Metroloji Enstitüsü ve Mikrodalga Metrolojisi

ELEKTROMANYETİK DALGA TEORİSİ DERS - 5

MİKRODALGA GÜRÜLTÜ ÖLÇÜMLERİ

Bölüm 3 AC Devreler. 1. AC devrede, seri RC ağının karakteristiklerini anlamak. 2. Kapasitif reaktans, empedans ve faz açısı kavramlarını anlamak.

Elektromanyetik Dalga Teorisi Ders-3

elektromagnetik uzunluk ölçerlerin Iaboratu ar koşullarında kaiibrasyonu

5. Elektriksel Büyüklüklerin Ölçülebilen Değerleri

BASINÇ DÖNÜŞTÜRÜCÜLERİNDE BESLEME GERİLİMİNİN KALİBRASYON SONUÇLARINA ETKİSİ

MV 1438 KABLO HAT MODELİ KARAKTERİSTİKLERİ VE MV 1420 İLETİM HATTI ÜZERİNDEKİ GERİLİM DÜŞÜMÜ

ULUDAĞ ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ OTOMOTİV MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ

DENEY-4 RL DEVRE ANALİZİ. Alternatif akım altında seri RL devresinin analizi ve deneysel olarak incelenmesi.

KAÇAK ELEKTRİK KULLANIMININ UYUMLULUK YÖNTEMİ İLE BELİRLENMESİ. Yrd. Doç. Dr. Köksal ERENTÜRK

UME DE AC AKIM ÖLÇÜMLERİ

Bölüm 10 İşlemsel Yükselteç Karakteristikleri

YÖNLÜ KUPLÖR TASARIMI

Gürültü Perdeleri (Bariyerleri) Prof.Dr.Mustafa KARAŞAHİN

ADIYAMAN ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ DEVRE ANALİZİ LABORATUVARI-II DENEY RAPORU

Doç. Dr. Sabri KAYA Erciyes Üni. Müh. Fak. Elektrik-Elektronik Müh. Bölümü. Ders içeriği

Kontrol Sistemlerinin Analizi

4. Sunum: AC Kalıcı Durum Analizi. Kaynak: Temel Mühendislik Devre Analizi, J. David IRWIN-R. Mark NELMS, Nobel Akademik Yayıncılık

12. DC KÖPRÜLERİ ve UYGULAMALARI

ADIYAMAN ÜNĠVERSĠTESĠ MÜHENDĠSLĠK FAKÜLTESĠ ELEKTRĠK-ELEKTRONĠK MÜHENDĠSLĠĞĠ BÖLÜMÜ DEVRE ANALĠZĠ LABORATUVARI-II DENEY RAPORU

ELN 4089 Mikrodalga Uygulamaları GİRİŞ. : Öğr.Gör. Dr. Ali Akman :

İŞ SAĞLIĞI VE GÜVENLİĞİ GENEL MÜDÜRLÜĞÜ


BSE 207 Mantık Devreleri Lojik Kapılar ve Lojik Devreler (Logic Gates And Logic Circuits)

Yıldız Teknik Üniversitesi Elektronik ve Hab. Müh. Mikrodalga Lab. Deney No:6

Biyomedical Enstrümantasyon. Bütün biyomedikal cihazlar, hastadan belli bir fiziksel büyüklüğün miktarını ölçer. Nicel sonuçlar verir.

YÜKSEK GERİLİM TEKNİĞİ BÖLÜM 7 DİELEKTRİK KAYIPLARI VE

ALTERNATİF AKIMIN TEMEL ESASLARI

RF MİKROELEKTRONİK DÜŞÜK GÜRÜLTÜLÜ YÜKSELTİCİ (LNA)

T.C. DÜZCE ÜNİVERSİTESİ TEKNOLOJİ FAKÜLTESİ BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ BMT103 ELEKTRİK DEVRE TEMELLERİ DERSİ LABORATUVARI DENEY NO: 7

Smith Abağı ve Empedans Uydurma

DÜZCE ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ELEKTRİK ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ TEMEL HABERLEŞME SİSTEMLERİ TEORİK VE UYGULAMA LABORATUVARI 1.

Farklı materyallerin elektrik geçirmezlik sabiti

Şekil 1: Zener diyot sembol ve görünüşleri. Zener akımı. Gerilim Regülasyonu. bölgesi. Şekil 2: Zener diyotun akım-gerilim karakteristiği

Mikrodalga Konnektörler. Microwave connectors

ELEKTRİK TESİSLERİNDE HARMONİKLERİN PASİF FİLTRE KULLANILARAK AZALTILMASI VE SİMÜLASYONU. Sabir RÜSTEMLİ

MLC 410 MANYETİK LİNEER CETVELLER KULLANMA KILAVUZU

ĠLETĠM HATTINA ĠLĠġKĠN KARAKTERĠSTĠK DEĞERLERĠN ELDE EDĠLMESĠ

BC237, BC338 transistör, 220Ω, 330Ω, 4.7KΩ 10KΩ, 100KΩ dirençler ve bağlantı kabloları Multimetre, DC güç kaynağı

Şekil 1. R dirençli basit bir devre

RÜZGAR ENERJİSİ KAYNAĞI VE BELİRSİZLİK

Şekil-1. Doğru ve Alternatif Akım dalga şekilleri

YILDIRIM DARBE YÜKSEK GERİLİM ÖLÇÜMLERİ

Kompozit Malzemeler ve Mekaniği. Yrd.Doç.Dr. Akın Ataş

DENEY 5: İŞLEMSEL YÜKSELTEÇLER ve UYGULAMA DEVRELERİ

Chapter 14. Elektrik Devreleri. Principles of Electric Circuits, Electron Flow, 9 th ed. Floyd

OTOMATİK KONTROL. Set noktası (Hedef) + Kontrol edici. Son kontrol elemanı PROSES. Dönüştürücü. Ölçüm elemanı

Ulusal Metroloji Enstitüsü GENEL METROLOJİ

MLC 420 MANYETİK LİNEER CETVELLER KULLANMA KILAVUZU

ĐŞLEMSEL YÜKSELTEÇLER

Enerji Sistemleri Mühendisliği Bölümü

ELECO '2012 Elektrik - Elektronik ve Bilgisayar Mühendisliği Sempozyumu, 29 Kasım - 01 Aralık 2012, Bursa

T.C. DÜZCE ÜNİVERSİTESİ TEKNOLOJİ FAKÜLTESİ BİLGİSAYAR MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ BMT103 ELEKTRİK DEVRE TEMELLERİ DERSİ LABORATUVARI DENEY NO: 7

AREL ÜNİVERSİTESİ DEVRE ANALİZİ

TRANSİSTÖRLÜ YÜKSELTEÇLERDE GERİBESLEME

Şekil 1. Geri beslemeli yükselteçlerin genel yapısı

Waveguide to coax adapter. Rectangular waveguide. Waveguide bends

DENEY 2. Statik Sürtünme Katsayısının Belirlenmesi. Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi

OTOMATİK KONTROL SİSTEMLERİ İŞARET AKIŞ DİYAGRAMLARI SIGNAL FLOW GRAPH

DENEY 1-1 AC Gerilim Ölçümü

ERCİYES ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ ENERJİ SİSTEMLERİ MÜHENDİSLİĞİ LABORATUARI

Çukurova Üniversitesi Biyomedikal Mühendisliği

Fiziksel Sistemlerin Matematik Modeli. Prof. Neil A.Duffie University of Wisconsin-Madison ÇEVİRİ Doç. Dr. Hüseyin BULGURCU 2012

Akreditasyon Sertifikası Eki (Sayfa 1/11) Akreditasyon Kapsamı

DENEY 2 ANKASTRE KİRİŞLERDE GERİNİM ÖLÇÜMLERİ

MAK-LAB009 DOĞAL VE ZORLANMIġ TAġINIM YOLUYLA ISI TRANSFERĠ DENEYĠ

Ölçme Teknikleri Temel Kavramlar:

Algılayıcılar (Sensors)

Doç. Dr. Sabri KAYA Erciyes Üni. Müh. Fak. Elektrik-Elektronik Müh. Bölümü. Ders içeriği

TÜRKİYE CUMHURİYETİ ERCİYES ÜNİVERSİTESİ BİYOMEDİKAL MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ TIBBİ CİHAZLARIN KALİBRASYONU LABORATUVARI

ZENER DİYOTLAR. Hedefler

YAPILACAK DENEYLERİN LİSTESİ

ELEKTRİK MOTORLARI VE SÜRÜCÜLER ELEKTRİK MOTORLARINDA DENETİM PRENSİPLERİ

ELEKTRİK DEVRELERİ-2 LABORATUVARI VIII. DENEY FÖYÜ

Telkolink.com Fiber Optik Test ve Ölçüm Çözümleri

ADIYAMAN ÜNĠVERSĠTESĠ MÜHENDĠSLĠK FAKÜLTESĠ ELEKTRĠK-ELEKTRONĠK MÜHENDĠSLĠĞĠ BÖLÜMÜ DEVRE ANALĠZĠ LABORATUVARI-II DENEY RAPORU

TÜRKİYE CUMHURİYETİ ERCİYES ÜNİVERSİTESİ BİYOMEDİKAL MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ TIBBİ CİHAZLARIN KALİBRASYONU LABORATUVARI

1. Temel lojik kapıların sembollerini ve karakteristiklerini anlamak. 2. Temel lojik kapıların karakteristiklerini ölçmek.

EGE ÜNİVERSİTESİ EGE MYO MEKATRONİK PROGRAMI

100 kv AC YÜKSEK GERİLİM BÖLÜCÜSÜ YAPIMI

HABERLEŞMENIN AMACI. Haberleşme sistemleri istenilen haberleşme türüne göre tasarlanır.

KST Lab. Shake Table Deney Föyü

BJT (Bipolar Junction Transistor) nin karakteristik eğrilerinin incelenmesi

ITS-90 ULUSLARARASI SICAKLIK ÖLÇEĞİNE UYGUN OLARAK - 40 C / 420 C SICAKLIK ARALIĞINDA Pt-100 DİRENÇ TERMOMETRE KALİBRASYONU KARŞILAŞTIRMASI

EEM 202 DENEY 9 Ad&Soyad: No: RC DEVRELERİ-II DEĞİŞKEN BİR FREKANSTA RC DEVRELERİ (FİLTRELER)

Açık Çevrim Kontrol Açık Çevrim Kontrol

Bölüm 12 İşlemsel Yükselteç Uygulamaları

Işıma Şiddeti (Radiation Intensity)

BÖLÜM 1 RF OSİLATÖRLER

EET-202 DEVRE ANALİZİ-II DENEY FÖYÜ OSİLOSKOP İLE PERİYOT, FREKANS VE GERİLİM ÖLÇME


Transkript:

S-Parametre Ölçümleri Dr. Murat Celep, Handan Sakarya 25 Nisan 2019 TÜBİTAK UME

İçerik: S-Parametreleri S-Parametre Ölçümleri Ölçüm Hataları Ölçüm Modeli Ölçüm Belirsizliği

S Parametreleri S-parametreleri nedir? S-parametreleri lineer mikrodalga cihaz veya devrelerini kara kutu olarak göstermek için kullanılır. Bu kara kutunun davranışı, içeriği ile ilgili her hangi bir bilgi olmaksızın tahmin edilebilir. Örneğin kara kutu aşağıdakilerden her hangi birini içerebilir. direnç, kapasitans, indüktans, iletim hattı, entegre devre. Kara kutu Kara kutu aynı zamanda network (hat) olarak da adlandırılır. 3

S Parametreleri Kara kutunun veya network ün bir veya birkaç tane kapısı olabilir (1, 2, 3, N). Her bir kapı çift hat olarak gösterilir. Kara kutunun iki kapısı olduğunu kabul edelim. Bu durumda iki kapılı network (hat) olarak adlandırılır. Kapı 1 Kara kutu Kapı 2 (network) 4

S Parametreleri Güç, gerilim ve akım iletim hatları üzerinde her iki yöne giden dalgalar gibi düşünülebilir. Kapı 1 e işaret uygulandığını farz edelim (V i1 ). V i1 Kapı 1 İki kapılı network Kapı 2 5

S Parametreleri İşaretin bir kısmı kapı 1 den (V r1 ) geri yansırken bir kısmı da diğer kapıdan (kapı 2, V r2 ) çıkar. V i1 V r2 Kapı 1 İki kapılı Kapı 2 network V r1 6

S Parametreleri S 11 iki kapılı devrenin saçılma (S) parametrelerinden birisidir. Kapı 1 e uygulanan işaretin kapı 1 den yansımasını gösterir. V i1 V r2 Kapı 1 İki kapılı Kapı 2 network V r1 S 11 kapı 1 deki iki dalganın oranıdır. 7

S Parametreleri Kapı 2 ye işaret uygulandığında; İşaretin bir kısmı kapı 2 den geri yansırken (V r2 ), bir kısmı da diğer kapıdan (kapı 1, V r1 ) çıkar. Kapı 2 den yansıyan ve giren dalganın oranı S 22 olarak adlandırılır. V r2 Kapı 1 İki kapılı Kapı 2 network V r1 V i2 8

S Parametreleri Kapı 2 ye işaret uygulandığında; İşaretin bir kısmı kapı 2 den geri yansırken (V r2 ), bir kısmı da diğer kapıdan (kapı 1, V r1 ) çıkar. Kapı 1 den çıkan ve kapı 2 den giren dalganın oranı S 12 olarak gösterilir. V r2 Kapı 1 İki kapılı Kapı 2 network V r1 V i2 9

S Parametreleri Kapı 2 den çıkan ve kapı 1 e giren dalganın oranı S 21 olarak gösterilir. V i1 V r2 Kapı 1 İki kapılı Kapı 2 network V r1 10

S Parametreleri İki kapılı hat üzerinde dalgaların gösterimi şu şekildedir : V i1 V r2 İki kapılı network V r1 V i2 11

S Parametreleri Pratik uygulamalarda, yüksek frekanslarda işaretin dalga boyundan dolayı gerilim ölçümleri kolay değildir. Bu nedenle yüksek frekanslarda gerilim kullanışlı/pratik değildir. Eğer giren ve yansıya gerilim karakteristik empedansın (Z 0 ) karekökü ile normalize edilirse, gücün karekökü şu şekilde elde edilir ; b V V rn in a n n Z 0 Z0 Güç ifadesini kullanarak iki kapılı hat için yeni ifade aşağıdaki şekilde olur; 12

S Parametreleri Lineer iki kapılı hattın S parametreleri şu şekilde elde edilir; 13

S Parametreleri İki kapılı hattın kapılarının yansıma katsayıları S 11 ve S 22 ile gösterilir. İki kapılı hatta kapı 2 den kapı 1 e ve kapı 1 den kapı 2 ye olan iletim katsayıları sırasıyla S 12 ve S 21 ile gösterilir. 14

S Parametreleri Aşağıda lineer iki kapılı hata ait S parametreleri gösterilmektedir. a 1 S 21 b 2 S 11 S 22 b 1 S 12 a 2 Giren dalgaya bağlı olarak iletilen ve yansıyan dalgaların büyüklük ve fazı değişir. Bu nedenle, S parametreleri kompleks (karmaşık) sayılardır (büyüklük ve fazı vardır). S parametreleri 8 ayrı sayıdan oluşmaktadır. Bunların yarısı gerçel, diğer yarısı da sanal sayılardır (veya büyüklük ve faz). 15

S Parametreleri S parametreleri, iki kapılı hatta, bunu ölçmek için kullanılan yük (Z L ) ve kaynağın (Z S ) karakteristik empedansına ve de ölçüm frekansına bağlıdır. Z S Sinyal Kaynağı İki kapılı network Z L S-parametreleri aşağıdakilere bağlı olarak değişir ; İki kapılı hat değişirse, Yük empedansı değişirse, Kaynak empedansı değişirse, Frekans değişirse. 16

S Parametreleri : Yansıma Katsayısı İşaret Kaynağı Z 0 Giren dalga Yansıyan dalga Z L Z L Z 0 Yansıma Katsayısı: YansıyanDa lga GirenDa lga Z Z L L - Z 0 Z 0 17

S Parametreleri : Yansıma Kaybı, DDO Yansıma Kaybı: RL 20 log( ) Duran Dalga Oranı : 1 DDO 1- DDO V V y d 18

S Parametreleri : Yansıma Kaybı, DDO Yansıma katsayısının en iyi ve en kötü durumda alabileceği RL ve DDO değerleri aşağıda verilmektedir; İdeal durum, yük uyumu En kötü durum DDO 1 RL - db 0 db 0 1 19

S Parametreleri : Araya Girme Kaybı Giren gücün (P IN ) çıkan güce (P OUT ) oranı araya girme kaybı (IL) olarak ifade edilir. a 1 a 2 s 21 Z 0 s 11 s 22 Z L s 12 b 1 b 2 IL 20log 1 s 1 s G 11 s 21 L 22 1 G L G s L 12 s 21 20

Asıl S başlık Parametreleri: stili için tıklatın Zayıflatma Oranı Araya girme kaybının Г G =0 ve Г L =0 olduğu özel durumu zayıflatma oranı olarak ifade edilir. a 1 a 2 s 21 Z 0 s 11 s 22 Z L s 12 b 1 b 2 A 20log 1 s 21 21

S Parametreleri Ölçümü Mikrodalga cihazların S parametreleri genellikle vektör network analizör, kablolar ve kalibrasyon kitini içeren S parametresi ölçüm sistemi kullanılarak ölçülür. Network analizörün genel yapısı aşağıda verilmektedir. Source: www.keysight.com 22

Ölçüm Hataları Ölçüm hataları DUT un S parametrelerini her hangi bir hata düzeltmesi yapmadan ölçmek mümkün değildir. 23

Ölçüm Hataları Ölçüm Hataları Olası ölçüm hataları, Sistematik (VNA daki kusurlar nedeniyle) Kayma (ölçümler zamanla değişir) Gelişigüzel (gürültü, vb.) 24

S Parametreleri Ölçümü Dört alıcısı olan network analizörün blok diyagramı. Source: www.keysight.com Test edilen cihazın (DUT) S parametreleri bir bağlantı ile ölçülebilir. 25

Ölçüm Hataları EURAMET no.12 kılavuzu DUT un S parametresi ölçümlerindeki ölçüm hatalarını ve belirsizlik analizinin nasıl yapılacağını açıklamaktadır. 26

Ölçüm Modeli VNA ile S parametresi ölçümleri Basitleştirilmiş VNA modeli 27

Ölçüm Modeli Basitleştirilmiş VNA modeli Tek yöndeki ölçüm için sistematik hatalar 28

Ölçüm Modeli: Tek Kapı 29

Ölçüm Modeli : Tek Kapı Sinyal kaynağı Z 0 Giren dalga Yansıyan dalga Z L Tek-kapılı cihaz Z L Z 0 Tek yönlü ölçümdeki sistematik hatalar 30

Ölçüm Modeli: Tek Kapı Tek kapılı DUT ölçüm düzeneğinin ölçüm modeli DUT Basitleştirilmiş tek kapı DUT ölçüm düzeneği 31

Ölçüm Modeli: Tek Kapı DUT S 11 (DUT un yansıma katsayısı) hesaplamak için denklemi çözmek gereklidir. 32

Ölçüm Modeli: Tek Kapı DUT Üç bilinmeyenli denklemi çözerek üç hata terimi bulunur. Bunun için bilinen üç standart gereklidir. En çok bilinen tek kapı yönteminde, Kısa devre Açık devre ve Uyumlu yük bilinen (kalibrasyon) standartlardır. Genel gösterimi SOL (short-open-load) veya OSM (open-short-match) şeklindedir. 33

Ölçüm Modeli: İki Kapı 34

Ölçüm Modeli: İki Kapı a 1 a 2 s 21 Z 0 s 11 s 22 Z L s 12 b 1 b 2 İki kapılı cihaz Tek yöndeki ölçümün sistematik hataları 35

Ölçüm Modeli: İki Kapı İki kapılı DUT için ölçüm düzeneği Tek yöndeki ölçümün sistematik hataları 36

Ölçüm Modeli: İki Kapı Tek yöndeki (ileriye doğru) ölçüm hataları İki kapılı DUT için ölçüm düzeneği Tek yöndeki (geriye doğru) ölçüm hataları Bu hata modeli 10 (bazen 12) terimli hata modeli olarak adlandırılır. 37

Ölçüm Modeli: İki Kapı Tek yöndeki (geriye doğru) ölçüm hataları Tek yöndeki (ileriye doğru) ölçüm hataları On terimli hata modelinin hata katsayılarının belirlenmesi, her bir kapıda ek olarak flush thru ölçümü ile yapılan SOL kalibrasyonuna dayanır. Flush thru, iki test kapısına doğrudan bağlanarak gerçekleştirilir. Referans düzlemler arasında sıfır mesafe kalacak şekilde yapılan mükemmel bağlantı olarak tanımlanır. Bu kalibrasyon yöntemi SOLT veya TOSM ile gösterilir. 38

Ölçüm Modeli: İki Kapı On terimli ölçüm modeli için S parametresi denklemi 39 kaynak: www.keysight.com

Ölçüm Belirsizliği https://www.ametektest.com 40

Ölçüm Belirsizliği S-parametresi ölçümlerinin doğruluğunu etkileyen faktörler şunlardır: Kalibrasyon standartlarının karakterizasyonu VNA nın taban ve iz gürültüsü VNA nın doğrusallığı VNA nın kayması İzolasyon (cross-talk) VNA kabloların kararlılığı Bağlantıların tekrar edilebilirliği 41

Ölçüm Belirsizliği Kalibrasyon standartlarının karakterizasyonu Genellikle bir VNA ölçümündeki en etkin belirsizlik kaynağı, kalibrasyon standartlarının karakterizasyonu ile ilişkilidir. Kalibrasyon standartları, birincil veya kalibre edilmiş izlenebilir kalibrasyon standartları kullanılarak tanımlanır. 42

Ölçüm Belirsizliği VNA zemin ve iz gürültüsü Gürültü, tüm elektronik devrelerin karakteristiği olan rastgele işaret dalgalanmalarını gösterir. VNA ölçümlerinde iki tip gürültü görülür. Taban gürültüsü, belirleyici bir işaret olmadığında rastgele dalgalanmalar gösterir. İz gürültüsü, ölçüm sonuçlarının rastgele dalgalanmasını gösterir. İz gürültüsü, bu ölçülen değer ile doğru orantılıdır. 43

Ölçüm Belirsizliği VNA doğrusallığı Bazen dinamik doğruluk olarak da adlandırılan VNA doğrusallığı, bu davranıştan sapmayı gösterir. VNA doğrusallığı yükselteçler, filtreler vb. farklı bileşenlerin etkilerini bir araya getirir. 44

Ölçüm Belirsizliği VNA Kayması VNA ölçümlerindeki kayma, sıcaklık değişimlerinden ve zaman etkisinden kaynaklanır. Bu etkiler, işaret yollarının elektriksel uzunluğundaki değişikliklere ve kuplörlerin, alıcıların ve diğer bileşenlerin performansındaki değişikliklere yol açar. VNA kablolarında kullanılan dielektrik malzemelerden bazıları sıcaklık değişimlerine faz duyarlıdır. 45

Ölçüm Belirsizliği İzolasyon (cross-talk) İzolasyon, VNA hata modelinde hata katsayısı olarak gösterilir. Günümüzde kullanılan metroloji amaçlı VNA lar ile yapılan ölçümlerdeki etkisi oldukça önemsizdir. Eski tip VNA larda bu parametre, özellikle yüksek zayıflatma değerinin ölçümünde önemli olmaktadır. Dolayısı ile belirsizlikte bir katkı olarak değerlendirilmektedir. 46

Ölçüm Belirsizliği VNA kablo kararlılığı VNA kabloları, sıcaklık değişimine, harekete ve diğer mekaniksel etkilere karşı duyarlıdır. Bu duyarlılık belirsizliğe eklenmesi gereken kaçınılmaz bir etkidir. 47

Ölçüm Belirsizliği Bağlantı tekrarlanabilirliği İdeal konektör geometrisinden sapmalar, konektörleri birleştirirken mekanik gerilmelere ve istenmeyen deformasyonlara neden olur. Bu da tekrar edilen bağlantılar, konnektörler farklı yönlerdeyken yapıldığında, elektriksel davranışların değişmesine neden olur. Her bir konnektör çiftinin etkisine bağlıdır. 48

15RPT01 RFMicrowave Development of RF and Microwave Metrology Capability Teşekkürler